[發(fā)明專利]移動X射線設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710684342.3
• 申請日: 2017-08-11
• 公開（公告）號: CN108294767B
• 公開（公告）日: 2023-09-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 金明濟
• 申請（專利權(quán)）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 邵亞麗

一種移動X射線設(shè)備，其包括X射線輻射裝置；被構(gòu)造成控制所述X射線輻射裝置的控制器；以及被構(gòu)造成通過鋰離子電池向所述X射線輻射裝置和控制器提供操作電力并控制在X射線由所述X射線輻射裝置發(fā)射期間發(fā)生的過電流的電源；以及被構(gòu)造成給電源充電的充電器。所述控制器、電源和充電器中的每一個被實施在物理分離的模塊中，且所述電源和所述充電器中的每一個被包封在金屬殼體中。

與相關(guān)申請的橫向參考

本申請要求2017年1月11日在韓國專利局提交的韓國專利申請10-2017-0004164的優(yōu)先權(quán)。上述申請的公開內(nèi)容通過引用整體結(jié)合于此。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及包括鋰離子電池的X射線設(shè)備。

背景技術(shù)

X射線是波長0.01到100埃的電磁波，由于它們能夠穿透物體的能力，而在用于成像活體的內(nèi)側(cè)的醫(yī)療設(shè)備中或者在用于工業(yè)使用的非侵入測試設(shè)備中廣泛使用。

使用X射線的X射線設(shè)備可以通過將X射線源發(fā)射的X射線傳輸通過物體并通過X射線探測器探測被透射的X射線的強度方面的差異來獲得物體的X射線圖像。X射線圖像可以用于檢查物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)并診斷物體的疾病。X射線設(shè)備通過利用X射線的穿透功率隨著物體的密度和構(gòu)成物體的原子的原子數(shù)而變化的原則促進對物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的觀察。隨著X射線的波長減小，X射線的穿透功率增加并且屏幕上的圖像變得更亮。

由于X射線設(shè)備的X射線輻射裝置和X射線探測器通常固定到特定空間，病人需要被運送到該X射線設(shè)備所處的檢查室以用于X射線成像。

但是，在對具有行動能力問題的病人進行X射線成像檢查的情況下，難于使用通常的X射線設(shè)備。從而，已經(jīng)研發(fā)了移動X射線設(shè)備，以執(zhí)行X射線成像，而沒有空間限制。

在移動X射線設(shè)備中，X射線輻射裝置安裝在可移動主體上，并且使用便攜式X射線探測器。由于這種結(jié)構(gòu)，移動X射線設(shè)備可以直接拿到具有減弱的行動能力的病人處，以執(zhí)行X射線成像。

鉛酸電池通常是廉價的并廣泛用于移動X射線設(shè)備中。

但是，鉛酸電池具有短的壽命(兩年或500個循環(huán))，體積大并且重，并會將危險材料釋放到環(huán)境中。

此外，使用這種體積大或笨重的鉛酸電池在試圖移動X射線設(shè)備時是不方便的。

發(fā)明內(nèi)容

提供了一種移動X射線設(shè)備，該X射線設(shè)備包括鋰離子電池，與鉛酸電池相比，該鋰離子電池具有相對長的壽命、小且重量輕，并且因為不釋放危險材料而是環(huán)境友好的。

另外的方面將部分在隨后的描述中闡述，并且將部分將從該描述中顯而易見或可以在提供的實施方式的實踐中習得。

根據(jù)實施方式的一個方面，移動X射線設(shè)備包括：X射線輻射裝置；被構(gòu)造成控制X射線輻射裝置的控制器；被構(gòu)造成通過鋰離子電池向X射線輻射裝置和控制器提供操作功率并在X射線由X射線輻射裝置發(fā)射期間控制過電流發(fā)生的電源；以及被構(gòu)造成給電源充電的充電器，其中，所述控制器、電源和充電器各自由物理分離的模塊構(gòu)成，并且電源和充電器各自包封在金屬外殼內(nèi)。

電源可以包括：鋰離子電池；被構(gòu)造成探測鋰離子電池的狀態(tài)并控制電源的操作的電池管理系統(tǒng)(BMS)電路；被構(gòu)造成控制過電流并包括多個并聯(lián)的場效應晶體管(FET)的放電場效應晶體管(FET)；以及充電FET。

放電FET和充電FET可以進一步構(gòu)造成在鋰離子電池被放電或充電時控制放電電流或充電電流的路徑。

BMS電流被進一步構(gòu)造成控制保護電路的操作，以保護免于過放電、過電流、過熱和鋰離子電池內(nèi)的各單元之間的不平衡。

電源可以進一步包括第一電流傳感器和第二電流傳感器，并且BMS電流被進一步構(gòu)造成在由X射線輻射裝置發(fā)射X射線期間通過觸發(fā)第二電流傳感器來探測過電流。