[發明專利]一種檢查PCB板上器件超高的方法及系統

在審

• 申請號: 201710680261.6
• 申請日: 2017-08-10
• 公開（公告）號: CN107480368A
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發明（設計）人: 張敏
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司37105
• 代理人: 黃曉燕

1.一種檢查PCB板上器件超高的方法，其特征是：包括以下步驟：

打開限高區高度信息的層面，獲取PCB板上的限高區域；

獲取限高區內器件的限定高度和限定框屬性；

打開器件中含有高度信息的層面，獲取限定框內器件的實際高度；

比較實際高度與限定高度，獲取超高器件。

2.根據權利要求1所述的一種檢查PCB板上器件超高的方法，其特征是：所述限高區高度信息的層面為Package Keepout Top和Package Keepout Bottom；所述獲取PCB板上的限高區域的具體過程為設置過濾器的對象類型為限高區shape類，然后抓取該對象類型。

3.根據權利要求1所述的一種檢查PCB板上器件超高的方法，其特征是：所述限高區內器件的限定高度是指器件允許的最高高度，抓取的器件位于所述限定框內。

4.根據權利要求1所述的一種檢查PCB板上器件超高的方法，其特征是：所述器件中含有高度信息的層面為Package Geometry Place_Bound_Top和Package Geometry Place_Bound_Bottom；獲取限定框內器件實際高度的具體過程為設置過濾器的對象類型為器件，然后根據該過濾器的對象類型抓取限定框內對象，獲取對象的高度屬性，得到限定框內器件實際高度。

5.根據權利要求1所述的一種檢查PCB板上器件超高的方法，其特征是：在獲取超高器件后還包括標注超高器件的步驟，所述標注超高器件具體為將超高器件進行高亮顯示。

6.根據權利要求5所述的一種檢查PCB板上器件超高的方法，其特征是：在標注超高器件后還包括步驟：將被標注的器件加入錯誤列表，并形成檢查結果報告，所述結果報告內含有超高器件的坐標信息及超高器件的名稱信息。

7.一種檢查PCB板上器件超高的系統，其特征是：包括

PCB板限高區獲取模塊，用于打開限高區高度信息的層面，獲取PCB板上的限高區域；

限定屬性獲取模塊，用于獲取限高區內器件的限定高度和限定框屬性；

器件高度獲取模塊，用于打開器件中含有高度信息的層面，獲取限定框內器件的實際高度；

超高器件獲取模塊，用于比較器件的實際高度與限定高度，獲取超高器件。

8.根據權利要求7所述的一種檢查PCB板上器件超高的系統，其特征是：所述系統還包括顯示模塊、處理模塊和存儲模塊，所述處理模塊用于生成含有超高器件坐標信息的結果報告，所述顯示模塊用于高亮顯示超高器件及結果報告，所述存儲模塊用于存儲檢查結果。