[發(fā)明專利]一種對接焊縫無損檢測驗收方法

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201710676584.8
• 申請日: 2017-08-09
• 公開（公告）號: CN107449829A
• 公開（公告）日: 2017-12-08
• 發(fā)明（設計）人: 陸雷俊;高衛(wèi)青
• 申請（專利權(quán)）人: 上海船舶工程質(zhì)量檢測有限公司;上海船舶工藝研究所
• 主分類號: G01N29/06
• 分類號: G01N29/06
• 代理公司: 上海世圓知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司31320
• 代理人: 王佳妮

1.一種對接焊縫無損檢測驗收方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：對焊縫進行PAUT和TOFD掃查，采集圖像，將現(xiàn)場采集的圖像進行綜合分析以確認反射體的位置；

S2：判斷識別TOFD和PAUT發(fā)現(xiàn)的反射信號為非相關顯示還是相關顯示；

S3：如果是相關顯示，進一步判別缺陷類型是面積型還是非面積型；

S4：當判定缺陷為面積型缺陷時，缺陷的高度測量在TOFD圖像上進行，長度測量在PAUT圖像上進行；當判定缺陷為非面積型缺陷時，在PAUT掃查所得圖像上測量缺陷的波幅和長度。

2.如權(quán)利要求1所示的方法，其特征在于，所述步驟S1進一步包括：

S11：將待檢測表面處理干凈，檢測區(qū)域包括焊縫兩側(cè)及熱影響區(qū)；

S12：在焊縫側(cè)噴灑水，使檢測表面充分潤濕，保證探頭與工件表面耦合良好；

S13：依據(jù)檢測工藝要求把一對PAUT探頭固定在探頭架上或直接用一個PAUT探頭，以一定的速度掃查采集數(shù)據(jù)；

S14：依據(jù)工藝要求把一對TOFD探頭固定在探頭架上，調(diào)節(jié)好探頭之間的距離，以一定的速度掃查采集數(shù)據(jù)。

3.如權(quán)利要求1所示的方法，其特征在于，所述步驟S2進一步包括：

S21：PAUT發(fā)現(xiàn)反射信號，作如下判斷：

如果PAUT掃查的反射信號確定是由結(jié)構(gòu)（輪廓）所引起的，不做記錄；

如果PAUT掃查的反射信號確定不是由結(jié)構(gòu)所引起的，進入S3。

4.如權(quán)利要求1所示的方法，其特征在于，所述步驟S2還進一步包括：

S22：如果TOFD發(fā)現(xiàn)反射信號，但PAUT沒有發(fā)現(xiàn)發(fā)射信號，則需要對PAUT的參數(shù)進行調(diào)整，改變線掃角度或改變扇掃角度，之后再次用PAUT掃查：觀察PAUT發(fā)現(xiàn)相應位置的反射信號，進入S3；如調(diào)整后PAUT未發(fā)現(xiàn)相關信號顯示，則重新進行TOFD掃查確認信號顯示為非相關顯示。

5.如權(quán)利要求1所示的方法，其特征在于，當確定TOFD和PAUT掃查的反射信號為相關顯示時，則可把TOFD數(shù)據(jù)作為PAUT數(shù)據(jù)的基礎數(shù)據(jù)，并分析TOFD圖像；如果TOFD圖像上有明顯的上下端點衍射波，則判定缺陷為面積型缺陷；如果TOFD圖像上沒有上下端點衍射波，則判定缺陷為非面積型缺陷。

6.如權(quán)利要求5所示的方法，其特征在于，所述扇掃角度為40°～70°。