[發明專利]用于自動化車輛激光雷達的位置反饋感測

有效

• 申請號: 201710676310.9
• 申請日: 2017-08-09
• 公開（公告）號: CN107843887B
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: 姚國輝;劉友光;楊志慶
• 申請（專利權）人: 安波福技術有限公司
• 主分類號: G01S7/481
• 分類號: G01S7/481;G01S17/931
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 李玲

1.一種用于控制輻射的方向的設備(22)，所述設備(22)包括：

輻射的至少一個波束(24)的源(30)；

多個光學組件(32-36)，在所述輻射的至少一個波束(24)的通道中，所述多個光學組件(32-36)確定所述輻射的至少一個波束(24)的第一方向，所述多個光學組件(32-36)包括至少一個可調節的光學組件(32)，所述至少一個可調節的光學組件(32)包括相對于所述源(30)可移動的至少一個部分；

位置反饋特征(40)，在所述光學組件(32)中的至少一個的部分上，所述位置反饋特征(40)向不同于所述第一方向的第二方向偏轉所述輻射的至少一個波束(24)中的至少一些；以及

檢測器(44)，設置為檢測所述偏轉的輻射(42)中的至少一些，所述檢測器(44)提供指示所述第一方向的輸出，

其中，所述光學組件中的至少一個的所述部分上的所述位置反饋特征包括以下中的至少一個：

多個半球形偏轉面，

納米級反射面，

納米級折射面，和

納米級柵欄。

2.如權利要求1所述的設備(22)，包括控制器(50)，所述控制器(50)被配置成至少部分地基于所述檢測器(44)的所述輸出來控制至少一個可調節的光學組件(32)的所述部分的移動。

3.如權利要求1所述的設備(22)，其中，所述位置反饋特征(40)包括在所述光學組件(32)中的至少一個上的以選擇的模式排列的多個半球形偏轉面。

4.如權利要求1所述的設備(22)，其中

所述多個光學組件(32-36)包括微電機械(MEM)反射鏡陣列；并且

所述檢測器(44)的所述輸出指示所述陣列的所述反射鏡中的至少一個的位置。

5.如權利要求1所述的設備(22)，其中

所述多個光學組件(32-36)包括相對于所述源(30)保持固定的至少一個靜止光學組件；以及

所述靜止光學組件是反射面、折射面、透鏡以及窗口中的至少一個。

6.如權利要求1所述的設備(22)，其中，所述輻射包括光。

7.一種監測定向輻射的設備(22)的方法，所述設備(22)包括輻射的至少一個波束(24)的源(30)，多個光學組件(32-36)，其中包括至少一個可調節的光學組件(32)，所述至少一個可調節的光學組件(32)包括相對于所述源(30)可移動的至少一個部分，以及所述光學組件(32-36)中的至少一個的部分上的位置反饋特征(40)，所述方法包括：

確定所述輻射的至少一個波束(24)的第一方向，包括有選擇地定位所述至少一個可調節的光學組件(32)的所述部分；

向不同于所述第一方向的第二方向偏轉來自所述位置反饋特征(40)的輻射的至少一個波束(24)中的至少一些；

檢測所述偏轉的輻射(42)中的至少一些；以及

基于所述檢測，確定所述第一方向，

其中，所述光學組件中的至少一個的所述部分上的所述位置反饋特征包括以下中的至少一個：

多個半球形偏轉面，

納米級反射面，

納米級折射面，和

納米級柵欄。

8.如權利要求7所述的方法，包括

向控制器(50)提供關于所述檢測的信息；以及

至少部分地基于所述信息，使用所述控制器(50)來控制所述至少一個可調節的光學組件(32)的所述部分的位置。

9.如權利要求7所述的方法，其中，所述位置反饋特征(40)包括在所述光學組件(32)中的至少一個上布置成二維圖案的至少一個半球形偏轉面。

10.如權利要求7所述的方法，其中

所述多個光學組件(32-36)包括微電機械(MEM)反射鏡陣列；以及

所述確定包括確定所述陣列的反射鏡中的至少一個的位置。