[發明專利]繞組溫升檢測裝置、設備及方法

在審

• 申請號: 201710676257.2
• 申請日: 2017-08-09
• 公開（公告）號: CN107478348A
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發明（設計）人: 謝志利;楊玉齋;王琰;王慧萍;劉迎春;鄭杰昌;李環宇;周陽;王衛玲;王長林;葛猛;楊磊
• 申請（專利權）人: 中國標準化研究院;中標能效科技（北京）有限公司
• 主分類號: G01K3/10
• 分類號: G01K3/10;G01K7/16
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司11258
• 代理人: 彭瓊

1.一種繞組溫升檢測裝置，其特征在于，包括：

多個開關模塊；

檢測模塊，通過所述多個開關模塊分別與多個待測繞組對應連接，形成多個測試回路，以檢測所述多個待測繞組中的每個待測繞組的電阻數據；

控制模塊，分別與所述多個開關模塊連接，用于按照預設時序控制所述多個開關模塊接通所述多個測試回路中相應的測試回路，以獲取所述每個待測繞組的多組電阻數據；

處理模塊，基于所述每個待測繞組的多組電阻數據得到所述每個待測繞組的繞組溫升數據。

2.根據權利要求1所述的繞組溫升檢測裝置，其特征在于，所述控制模塊具體用于按照所述多個測試回路中的每個測試回路接通的時間間隔及所述多個測試回路中每個測試回路循環接通次數來控制所述多個開關模塊接通所述多個測試回路中相應的測試回路，以獲取所述每個待測繞組的多組電阻數據。

3.根據權利要求1所述的繞組溫升檢測裝置，其特征在于，所述處理模塊具體包括：

函數曲線生成單元，用于基于所述每個待測繞組的多組電阻數據生成所述每個待測繞組的電阻數據與測量所述每個待測繞組的電阻數據對應時間的函數曲線；

熱態電阻數據計算單元，用于基于所述函數曲線得到所述每個待測繞組的電阻與測量時間的函數公式并由所述函數公式得到所述每個待測繞組的熱態電阻數據；

繞組溫升數據計算單元，用于基于所述熱態電阻數據及所述熱態電阻數據與繞組溫升函數得到所述每個待測繞組的繞組溫升數據。

4.根據權利要求3所述的繞組溫升檢測裝置，其特征在于，所述繞組溫升數據計算單元具體通過公式：

Δt=R2-R1R1(k+t1)-(t2-t1)]]>

得到所述每個待測繞組的繞組溫升數據，其中Δt為繞組溫升數據，R₁為冷態電阻數據，R₂為熱態電阻數據，t₁為檢測開始時的室溫，t₂為檢測結束時的室溫，k為常數。

5.根據權利要求1所述的繞組溫升檢測裝置，其特征在于，還包括：

供電模塊，通過所述多個開關模塊分別與所述多個待測繞組對應連接，形成多個供電回路，以向所述每個待測繞組供電。

6.根據權利要求5所述的繞組溫升檢測裝置，其特征在于，所述多個開關模塊中的每個開關模塊包括第一開關單元及第二開關單元；

所述第一開關單元包括第一開關部件、第一連接端及第二連接端，所述第一開關部件能夠在所述第一連接端與所述第二連接端之間切換；

所述第二開關單元包括第二開關部件、第三連接端及第四連接端，所述第二開關部件能夠在所述第三連接端與所述第四連接端之間切換；

所述第一連接端及所述第三連接端與所述檢測模塊連接，所述第二連接端及所述第四連接端與所述供電模塊連接，所述多個待測繞組中與所述每個開關模塊對應的待測繞組的兩端分別與所述第一開關部件及所述第二開關部件連接；

當所述第一開關部件與所述第一連接端連接，所述第二開關部件與所述第三連接端連接時，接通所述多個測試回路中對應的測試回路；

當所述第一開關部件與所述第二連接端連接，所述第二開關部件與所述第四連接端連接時，接通所述多個供電回路中對應的供電回路。