[發明專利]一種化學結構的快速分析方法

有效

• 申請號: 201710676249.8
• 申請日: 2017-08-09
• 公開（公告）號: CN107389779B
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發明（設計）人: 張華俊;呂云波
• 申請（專利權）人: 蘇州芷寧信息科技有限公司;張華俊
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 南京利豐知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32256
• 代理人: 王鋒

1.一種化學結構的快速分析方法，其特征在于包括：

(1)將氣相或液相混合物不做任何分離，而直接進樣于氣相或液相質譜儀，其中所述氣相或液相質譜儀具有獲得二級以上質譜的功能，并能在不同級別的質譜破碎過程中提供各種擾動；

(2)以所述質譜儀通過軟電離方式對所述混合物進行分析，獲得所述混合物的一級質譜圖；

(3)從步驟(2)所獲的一級質譜圖包含的多個離子峰中，選取一個未知或已知分子的一級質譜峰，并選取所述質譜儀進行檢測時的一個或多個參數作為擾動條件，且設定所述擾動條件下的一組不同數值，在所述擾動條件的不同數值條件下進行進一步分析，獲取與所述一級質譜峰相應的多個二級質譜圖，之后將在不同擾動條件下獲得的多個二級質譜圖綜合，獲得二維質譜數據集；

(4)對步驟(3)所獲的二維質譜數據集通過動力學熵最小算法進行計算，獲得所述一級質譜峰的各個獨立離子及對應的動力學過程；

(5)對于步驟(4)所獲的各個獨立離子，利用高分辨質譜儀的檢測結果，推算出各個獨立離子的化學式，或者，將步驟(4)所獲的各個獨立離子及對應的動力學過程與已知獨立離子和動力學過程的數據庫比對，確定各個獨立離子的結構式；

(6)根據步驟(5)所獲的各個獨立離子的化學式或結構式，推斷出所述一級質譜峰對應的化學式或結構式；

其中步驟(5)還包括：通過對不同的已知或者未知成分進行動力學熵最小方法分析，得到這些成分的獨立離子及對應的動力學過程，并建立基于這些成分的獨立離子和動力學過程的數據庫。

2.根據權利要求1所述的化學結構的快速分析方法，其特征在于：步驟(1)中，所述氣相或液相質譜儀包括四極桿飛行時間質譜儀、三重四級桿質譜儀、離子阱質譜儀、離子阱飛行時間質譜儀、串聯飛行時間質譜儀或靜電場軌道阱組合式質譜儀中的任意一種。

3.根據權利要求1所述的化學結構的快速分析方法，其特征在于：步驟(2)中采用軟電離方式使氣相或液相混合物中各種未知和已知成分帶電。

4.根據權利要求3所述的化學結構的快速分析方法，其特征在于：步驟(2)中的軟電離方式包括化學電離方法、電噴霧離子化方法、大氣壓力化學電離方法、電子轟擊電離方法、基質輔助激光解吸電離方法中的任意一種。

5.根據權利要求1所述的化學結構的快速分析方法，其特征在于：步驟(3)中采用的擾動條件包括電場強度、磁場強度、輻射強度、真空度、碰撞分子的大小和種類、激發光源的波長或強度中的任意一種或多種的組合。

6.根據權利要求1所述的化學結構的快速分析方法，其特征在于，步驟(5)包括：利用各獨立離子的高分辨質荷比數據，推算得到各獨立離子的化學式。

7.根據權利要求1所述的化學結構的快速分析方法，其特征在于，步驟(6)包括：利用步驟(5)所獲的各個獨立離子的化學式與步驟(3)所獲的分子信息，推斷出相應的未知物或已知物的化學式。

8.根據權利要求1所述的化學結構的快速分析方法，其特征在于，步驟(6)包括：利用步驟(5)所獲的各個獨立離子的結構式與步驟(3)所獲的分子信息，推斷出相應的未知物或已知物的結構式。