[發明專利]一種能同時提高深紫外LED晶體質量和出光效率的方法在審
| 申請號: | 201710676199.3 | 申請日: | 2017-08-09 |
| 公開(公告)號: | CN107623058A | 公開(公告)日: | 2018-01-23 |
| 發明(設計)人: | 甘志銀;嚴晗 | 申請(專利權)人: | 甘志銀 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01L33/12;H01L33/22 |
| 代理公司: | 北京紐樂康知識產權代理事務所(普通合伙)11210 | 代理人: | 唐忠慶 |
| 地址: | 430000 湖北省武漢市武昌洪山*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 同時 提高 深紫 led 晶體 質量 效率 方法 | ||
1.一種提高深紫外LED晶體質量和出光效率的方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、在襯底(101)生長表面(103)沉積一層氮化鋁薄膜(104);
S2、對氮化鋁薄膜(104)進行濕法腐蝕,獲得特定的濕法腐蝕缺陷結構(105);
S3、在包含有濕法腐蝕缺陷結構(105)氮化鋁薄膜(104)上進行二次外延生長深紫外LED外延薄膜(106);
S4、通過倒裝芯片工藝制備深紫外LED芯片。
2.如權利要求1所述的提高深紫外LED出光效率的方法,其特征在于,在所述步驟S1中,襯底(101)可采用藍寶石、碳化硅或者氮化鋁等襯底;沉積方法可采用金屬有機物化學氣相沉積(MOCVD)、氫化物氣相外延(HVPE)、等離體增強化學氣相沉積(PECVD)或者濺射鍍膜等方法。
3.如權利要求1所述的提高深紫外LED出光效率的方法,其特征在于:在所述步驟S2中,通過濕法腐蝕將氮化鋁薄膜腐蝕出內六角缺陷結構,濕法腐蝕方法可以采用磷酸、氫氧化鈉溶液或者氫氧化鉀溶液等進行。
4.如權利要求1所述的提高深紫外LED出光效率的方法,其特征在于,在所述步驟S1中,氮化鋁薄膜(104)厚度范圍為300~5000nm。
5.如權利要求1所述的提高深紫外LED出光效率的方法,其特征在于,在所述步驟S2中,刻蝕缺陷結構(105)的刻蝕深度范圍為300~5000nm。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于甘志銀,未經甘志銀許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710676199.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種用于裝載印刷電路板的插槽框架
- 下一篇:一種集裝箱專用單元板塊運輸架





