[發明專利]開環雙余度DDV門限指標超標后返修方式的組合判定方法有效
| 申請號: | 201710675090.8 | 申請日: | 2017-08-09 |
| 公開(公告)號: | CN107605859B | 公開(公告)日: | 2019-11-15 |
| 發明(設計)人: | 涂安莉;賀晶 | 申請(專利權)人: | 中國航空工業集團公司西安飛行自動控制研究所 |
| 主分類號: | F15B19/00 | 分類號: | F15B19/00 |
| 代理公司: | 11008 中國航空專利中心 | 代理人: | 杜永保<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址: | 710065陜西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 門限 返修 超標 判定 調試過程 雙余度 有效解決 開環 超標問題 定位問題 返修效率 對開環 伺服閥 下門限 準確率 減小 調試 | ||
本發明提出對開環雙余度DDV門限指標超標后返修方式的組合判定方法,屬于伺服閥的調試技術,采用本方法能夠快速找到開環雙余度DDV門限超標的返修方案,有效解決調試過程中門限超標的問題。利用多個指標組合判定的方法,定位導致不同工作狀態下門限指標超標的原因,并采取相應返修措施來有效減小門限。提出的門限指標超標后返修方式的組合判定方法,能夠快速找到開環雙余度DDV門限超標的返修方案,有效解決調試過程中門限超標的問題。根據組合判定方法定位問題,從而采取相應的返修措施,使得門限超標問題的判定準確率達到100%,將調試過程中的返修效率提高了6倍。
技術領域
本發明屬于伺服閥的調試技術,具體涉及開環雙余度DDV門限指標超標后返修方式的組合判定方法。
背景技術
門限是伺服閥產品的一項重要指標。本文件所指的伺服閥,是指開環雙余度DDV伺服閥。對于開環雙余度DDV而言,由于兩個液壓系統采用串聯的方式,調試中需要對DDV在不同供壓狀態下的門限均進行測試和控制。
門限指標受到多種因素的影響,實際調試和測試中的影響因素更為復雜,在理論上并沒有明確的減小門限的指導方法。要把門限控制在相對較小的指標范圍內,是DDV調試過程中比較困難的問題,尤其是對于開環雙余度DDV,作為一種新型產品,與傳統伺服閥存在較大差異。要使得開環雙余度DDV的門限指標,在多種供壓條件下均達到指標要求,目前并沒有可參考的繼承性經驗或指導方法。
本文件針對開環雙余度DDV,在多種不同的供壓條件下,當門限指標超標后,提出了采取何種返修方式的組合判定方法。
發明內容
本發明的目的是:提出的門限指標超標后返修方式的組合判定方法,能夠快速找到開環雙余度DDV門限超標的返修方案,有效解決調試過程中門限超標的問題。
本發明的技術方案:
開環雙余度DDV需要測試以下不同供壓條件下的門限指標,指標要求分別如下:
1)雙系統額定供壓狀態:門限指標不大于25mA;
2)單獨系統一額定供壓狀態:門限指標不大于50mA;
3)單獨系統二額定供壓:門限指標不大于50mA。
以上三種供壓狀態下的門限指標需要同時滿足,當門限指標需要同時滿足時,判斷為合格,其中一條不滿足,判定為不合格。
由于門限需要在以上三種供壓狀態下均進行測試,實際調試過程中,門限超標的問題可能發生以下多種組合結果,對于不同的門限超標狀態,需要再結合內漏其他指標采取不同的返修方法,具體的組合判定方法和采取的對應返修措施如下:
1)當雙系統門限超標時:
a)內漏常值大于0.1L/min時,判定的閥套和閥芯配合面之間存在極細微毛刺,采取的返修措施為對研閥套和閥芯,去除毛刺;
b)內漏常值小于0.1L/min時,判定為閥體和閥套之間間隙接近圖紙要求的下限,采取的返修措施為適當增大閥體和閥套之間的間隙至上限。
2)當單獨系統一門限超標時:
a)內漏常值大于0.1L/min時,判定為閥芯圓柱度加工指標接近圖紙上限,采取的返修措施為周向轉動閥芯角度直至門限合格為止;
b)內漏常值小于0.1L/min時,判定閥體和閥套之間間隙接近圖紙要求的下限,采取的返修措施為適當增大閥體和閥套之間的間隙至上限。
3)當單獨系統二門限超標時:
a)內漏常值大于0.1L/min時,判定為馬達主軸同軸度接近圖紙要求上限,采取的返修措施為更換為同軸度接近圖紙要求下限的馬達進行適配;
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