[發明專利]顯示面板的檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201710672710.2
• 申請日: 2017-08-08
• 公開（公告）號: CN109389919B
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: 王濤;袁志東;朱升;張正元;隨鵬;張駿;朱喬
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 滕一斌

本發明公開了一種顯示面板的檢測方法及裝置，屬于顯示技術領域。該方法包括：向數據輸入端、柵極掃描輸入端和電源端分別輸入第一數據信號、第一柵線掃描信號和電源信號；測量顯示面板中每個像素單元中像素電極的第一電壓；根據第一電壓確定出現故障的數據線；向數據輸入端、柵極掃描輸入端和電源端分別輸入第二數據信號、第二柵線掃描信號和電源信號；測量顯示面板中每個像素單元中像素電極的第二電壓；根據第二電壓確定出現故障的柵線；根據出現故障的柵線和出現故障的數據線，確定顯示面板中出現不良點的位置。本發明通過故障的數據線和故障的柵線，確定顯示面板中出現不良點的位置，提高了顯示面板的產品良率。本發明用于檢測顯示面板。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，特別涉及一種顯示面板的檢測方法及裝置。

背景技術

隨著顯示技術領域的發展，各種具有顯示功能的產品出現在日常生活中，例如手機、平板電腦、電視機、筆記本電腦、數碼相框、導航儀等，這些產品都無一例外的需要裝配顯示面板。

目前，有源矩陣有機發光二極體(英文：Active-matrix organic light emittingdiode；簡稱：AMOLED)顯示面板是市面上新型的顯示面板，該AMOLED顯示面板可以包括：多條數據線和多條柵線，每相鄰的兩根數據線和每相鄰的兩根柵線圍成一個像素單元，每個像素單元對應一個驅動電路，該驅動電路用于驅動其對應的像素單元發光。由于生成該多條數據線和多條柵線時工藝難度較大，導致該柵線和數據線可能會出現短路或斷路等諸多不良的現象，進而導致生產出的AMOLED顯示面板出現產品不良，為了提高AMOLED顯示面板的產品良率，需要對AMOLED顯示面板進行檢測。

但是，目前AMOLED顯示面板進行檢測時，僅能夠檢出數據線不良，無法檢測出柵線不良，由于無法定位出AMOLED顯示面板中不良點的位置，最終導致無法對不良點所對應的柵線和數據線進行維修，因此，AMOLED顯示面板的產品良率較低。

發明內容

為了解決現有技術的AMOLED顯示面板的產品良率較低的問題，本發明實施例提供了一種顯示面板的檢測方法及裝置。所述技術方案如下：

第一方面，提供了一種顯示面板的檢測方法，所述顯示面板中包括：多條數據線和多條柵線，所述多條數據線和所述多條柵線交叉圍成多個像素單元，每個像素單元包括驅動電路和像素電極，每個像素單元的驅動電路分別與數據輸入端、柵極掃描輸入端和電源端連接，所述方法包括：

向所述數據輸入端、所述柵極掃描輸入端和所述電源端分別輸入第一數據信號、第一柵線掃描信號和電源信號，在信號輸入過程中，所述第一柵線掃描信號為第一電平，所述第一數據信號的電平由第一電平跳變至第二電平，所述電源信號由第一電平跳變至第二電平，并且所述第一數據信號的電平在所述電源信號的電平跳變之前跳變；

測量所述顯示面板中每個像素單元中像素電極的第一電壓；

根據所述第一電壓確定出現故障的數據線；

向所述數據輸入端、所述柵極掃描輸入端和所述電源端分別輸入第二數據信號、第二柵線掃描信號和所述電源信號，在信號輸入過程中，所述第二數據信號為第一電平，所述第二柵線掃描信號由第一電平跳變至第二電平，所述電源信號由第一電平跳變至第二電平，并且所述第二柵線掃描信號的電平在所述電源信號的電平跳變之前跳變；

測量所述顯示面板中每個像素單元中像素電極的第二電壓；

根據所述第二電壓確定出現故障的柵線；

根據所述出現故障的柵線和所述出現故障的數據線，確定所述顯示面板中出現不良點的位置。

可選的，所述根據所述第一電壓確定出現故障的數據線，包括：

判斷每個像素單元中像素電極的第一電壓是否處于第一預設電壓范圍內；