[發明專利]一種基于自動編碼器的產品缺陷分類識別方法及裝置

在審

• 申請號: 201710671719.1
• 申請日: 2017-08-08
• 公開（公告）號: CN107292885A
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發明（設計）人: 王宏杰;李海艷;黃運保
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06K9/62
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 羅滿

1.一種基于自動編碼器的產品缺陷分類識別方法，其特征在于，包括：

獲取缺陷圖像；

通過堆疊至少四個稀疏自編碼器提取所述缺陷圖像的缺陷特征；

將所述缺陷特征發送至分類器，通過所述分類器識別所述缺陷特征對應的缺陷類別。

2.根據權利要求1所述的基于自動編碼器的產品缺陷分類識別方法，其特征在于，所述通過堆疊至少四個稀疏自編碼器提取所述缺陷圖像的缺陷特征，包括：

獲取所述缺陷圖像的第一模式圖像、第二模式圖像及第三模式圖像，所述缺陷圖像為彩色圖像，所述第一模式圖像為缺陷圖像的R通道，第二模式圖像為缺陷圖像的G通道，第三模式圖像為缺陷圖像的B通道；

通過堆疊六個稀疏自編碼器分別提取所述第一模式圖像、所述第二模式圖像以及所述第三模式圖像的缺陷特征。

3.根據權利要求2所述的基于自動編碼器的產品缺陷分類識別方法，其特征在于，所述通過堆疊六個稀疏自編碼器分別提取所述第一模式圖像、所述第二模式圖像及所述第三模式圖像的缺陷特征，包括：

通過堆疊六個稀疏降噪自編碼器分別提取所述第一模式圖像、所述第二模式圖像及所述第三模式圖像的缺陷特征。

4.根據權利要求3所述的基于自動編碼器的產品缺陷分類識別方法，其特征在于，所述通過堆疊六個稀疏降噪自編碼器分別提取所述第一模式圖像、所述第二模式圖像及所述第三模式圖像的缺陷特征，包括：

利用第一稀疏降噪自編碼器分別獲取所述第一模式圖像、所述第二模式圖像及所述第三模式圖像的像素值，以使所述第一稀疏降噪自編碼器對所述像素值編碼得到第一特征；

將所述第一特征發送至第二稀疏降噪自編碼器，以使所述第二稀疏降噪自編碼器對所述第一特征編碼得到第二特征；

將所述第二特征發送至第三稀疏降噪自編碼器，以使所述第三稀疏降噪自編碼器對所述第二特征編碼得到第三特征；

將所述第三特征發送至第四稀疏降噪自編碼器，以使所述第四稀疏降噪自編碼器對所述第三特征編碼得到第四特征；

將所述第四特征發送至第五稀疏降噪自編碼器，以使所述第五稀疏降噪自編碼器對所述第四特征編碼得到第五特征；

將所述第五特征發送至第六稀疏降噪自編碼器，以使所述第六稀疏降噪自編碼器對所述第五特征編碼得到第六特征；將所述第六特征作為所述缺陷特征，所述缺陷特征包括第一模式圖像缺陷特征、第二模式圖像缺陷特征以及第三模式圖像缺陷特征。

5.根據權利要求1-4任意一項所述的基于自動編碼器的產品缺陷分類識別方法，其特征在于，所述將所述缺陷特征發送至分類器，通過所述分類器識別缺陷特征對應的缺陷類別包括：

將所述缺陷特征發送至分類器的輸入層；

通過所述輸入層計算所述缺陷特征對應每一種缺陷類型的概率；

選擇所述概率中的最大概率，將所述最大概率對應的缺陷類型作為所述缺陷特征的缺陷類型。

6.一種基于自動編碼器的產品缺陷分類識別裝置，其特征在于，包括：

缺陷圖像獲取模塊，用于獲取缺陷圖像；

缺陷特征提取模塊，用于通過堆疊至少四個稀疏自編碼器提取所述缺陷圖像獲取模塊得到的所述缺陷圖像的缺陷特征；

缺陷特征發送模塊，用于將缺陷特征提取模塊得到的所述缺陷特征發送至分類器，通過所述分類器識別缺陷特征對應的缺陷類別。

7.根據權利要求6所述的基于自動編碼器的產品缺陷分類識別裝置，其特征在于，所述缺陷特征提取模塊包括：

獲取單元，用于獲取所述缺陷圖像的第一模式圖像、第二模式圖像及第三模式圖像，所述缺陷圖像為彩色圖像，所述第一模式圖像為缺陷圖像的R通道，第二模式圖像為缺陷圖像的G通道，第三模式圖像為缺陷圖像的B通道；

第一提取單元，用于通過堆疊六個稀疏自編碼器分別提取所述獲取單元得到的所述第一模式圖像、所述第二模式圖像及所述第三模式圖像的缺陷特征。

8.根據權利要求7所述的基于自動編碼器的產品缺陷分類識別裝置，其特征在于，所述第一提取單元包括：

第二提取單元，用于通過堆疊六個稀疏降噪自編碼器分別提取所述第一模式圖像、所述第二模式圖像及所述第三模式圖像的缺陷特征。