[發明專利]一種基于機器視覺的顯示面板缺陷識別方法及系統

在審

• 申請號: 201710671521.3
• 申請日: 2017-08-08
• 公開（公告）號: CN107402221A
• 公開（公告）日: 2017-11-28
• 發明（設計）人: 張美杰;張平;張明杰
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 羅滿

技術領域

本發明涉及光電領域，特別是涉及一種基于機器視覺的顯示面板缺陷識別方法及系統。

背景技術

光電行業是國家的基礎行業以及支柱行業，是決定一個國家科技競爭力的重要因素。國內電子領域的企業發展也很迅速。液晶面板作為液晶顯示器的基礎部件，需求量很大，所以液晶面板的質量檢測工作也很龐大。傳統的液晶面板缺陷檢測主要靠人工完成，由人眼觀察面板表面有沒有漏印、誤印等，由于面板本身圖案復雜，圖案種類繁多，對人工是個極大的考驗。大多數質量檢測員都會發生誤判、漏判的情況，這給企業的生產質量帶來很大的隱患。

因此，采用一種新型的面板質量檢測方式來代替人工檢測，是本領域技術人員亟待解決的技術問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種基于機器視覺的顯示面板缺陷識別方法及系統，可以通過非接觸式視覺識別，算法簡單快速，穩定性強，提高了檢測效率。其具體方案如下：

一種基于機器視覺的顯示面板缺陷識別方法，包括：

實時采集生產線上的待測顯示面板的圖像信號；

對所述圖像信號進行處理，將處理后的所述圖像信號與標準圖像信號作比較，獲取所述待測顯示面板的缺陷信息；

根據所述缺陷信息，對所述待測顯示面板的缺陷位置進行標記。

優選地，在本發明實施例提供的上述基于機器視覺的顯示面板缺陷識別方法中，實時采集生產線上的所述待測顯示面板的圖像信號，具體包括：

通過黑白面陣電荷耦合器件工業相機和白色通孔發光二極管面光源實時采集生產線上的所述待測顯示面板的圖像信號。

優選地，在本發明實施例提供的上述基于機器視覺的顯示面板缺陷識別方法中，在實時采集生產線上的所述待測顯示面板的圖像信號之前，還包括：

通過傳送帶上的位置傳感器實時檢測生產線上的所述待測顯示面板。

優選地，在本發明實施例提供的上述基于機器視覺的顯示面板缺陷識別方法中，對所述圖像信號進行處理，將處理后的所述圖像信號與標準圖像信號作比較，獲取所述待測顯示面板的缺陷信息，具體包括：

將所述圖像信號上傳至上位機的圖像處理軟件；

所述圖像處理軟件對所述圖像信號依次進行圖像預處理、圖像分割處理和缺陷檢測處理；

將處理后的所述圖像信號與標準圖像信號作比較，判斷所述待測顯示面板是否存在缺陷；

若是，則所述待測顯示面板為不良品，根據比較結果，獲取所述待測顯示面板的缺陷信息并發送至可編程控制器；若否，則所述待測顯示面板為良品。

優選地，在本發明實施例提供的上述基于機器視覺的顯示面板缺陷識別方法中，對所述待測顯示面板的缺陷位置進行標記，具體包括：

所述可編程控制器控制打標機和編碼器對所述待測顯示面板的缺陷位置進行標記。

優選地，在本發明實施例提供的上述基于機器視覺的顯示面板缺陷識別方法中，對所述待測顯示面板的缺陷信息進行標記之后，還包括：

所述可編程控制器控制分揀機械手和驅動電機將良品和不良品分揀至設定的工位。

本發明實施例還提供了一種基于機器視覺的顯示面板缺陷識別系統，包括：

圖像采集模塊，用于實時采集生產線上的所述待測顯示面板的圖像信號；

圖像處理模塊，用于對所述圖像信號進行處理，將處理后的所述圖像信號與標準圖像信號作比較，獲取所述待測顯示面板的缺陷信息；

缺陷信息標記模塊，用于根據所述缺陷信息，對所述待測顯示面板的缺陷位置進行標記。

優選地，在本發明實施例提供的上述基于機器視覺的顯示面板缺陷識別系統中，所述圖像采集模塊包括黑白面陣電荷耦合器件工業相機和白色通孔發光二極管面光源。

優選地，在本發明實施例提供的上述基于機器視覺的顯示面板缺陷識別系統中，所述圖像處理模塊包括安裝有圖像處理軟件的上位機；

所述圖像處理軟件包括軟件界面顯示模塊、圖像處理算法模塊和數據庫模塊；

所述軟件界面顯示模塊包括用戶單元、顯示單元和圖像信息管理單元；所述用戶單元，用于所述待測顯示面板參數的初始化、用戶管理和用戶交互以及系統調試和通訊調試；所述顯示單元，用于對所述圖像信號依次進行圖像預處理、圖像分割處理和缺陷檢測處理；所述圖像信息管理單元，用于將所述待測顯示面板的缺陷信息生成檢測報告；

所述圖像處理算法模塊，用于將處理后的所述圖像信號與標準圖像信號作比較，獲取所述待測顯示面板的缺陷信息并發送至可編程控制器；

所述數據庫模塊，用于存儲記錄所述顯示面板的缺陷信息，以及存儲記錄所述顯示面板識別系統的運行狀態。