[發(fā)明專利]一種固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)巡檢周期的確定方法及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710666715.4
• 申請日: 2017-08-07
• 公開（公告）號: CN107402726B
• 公開（公告）日: 2020-05-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 秦文政
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本申請公開了一種固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)巡檢周期的確定方法，包括：記錄SSD盤上所有block各自的擦除次數(shù)，并根據(jù)擦除次數(shù)執(zhí)行均值計算，得到SSD盤中block的平均擦除次數(shù)PE_avi；按預(yù)設(shè)周期獲取SSD盤的溫度數(shù)據(jù)，并計算得到在預(yù)設(shè)周期內(nèi)的平均溫度TEMP_avi；獲取SSD盤的固有參數(shù)；利用平均擦除次數(shù)PE_avi、平均溫度TEMP_avi以及固有參數(shù)計算得到巡檢周期。該確定方法其綜合考慮對固態(tài)硬盤的各種影響因素，結(jié)合固有參數(shù)動態(tài)的計算出一個更合理的巡檢周期，確定方法更科學、進行數(shù)據(jù)巡檢更及時，提高了固態(tài)硬盤的使用時間以及使用效率，優(yōu)化了使用體驗。本申請還同時公開了一種固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)巡檢周期的確定系統(tǒng)，具有上述有益效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)巡檢周期的確定方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

隨著互聯(lián)網(wǎng)、云計算、物聯(lián)網(wǎng)等技術(shù)的發(fā)展，固態(tài)硬盤作為新一代存儲介質(zhì)，被廣泛應(yīng)用于各領(lǐng)域。

在數(shù)據(jù)保存到固態(tài)硬盤上的flash介質(zhì)后，在外界的時間、溫度、濕度等因素的影響下，介質(zhì)中數(shù)據(jù)會發(fā)生bit位的反轉(zhuǎn)，當數(shù)據(jù)反轉(zhuǎn)的比特位數(shù)超過糾錯算法的糾錯能力時，即為讀出錯。現(xiàn)有技術(shù)大多通過數(shù)據(jù)巡檢的方法來緩解如上問題，但數(shù)據(jù)巡檢的時間間隔是固定的，由此會弱化了數(shù)據(jù)巡檢的效果，甚至引發(fā)其它諸多弊端。且如果數(shù)據(jù)巡檢的時間間隔太長，則在固態(tài)硬盤的生命后期會由于巡檢不及時，數(shù)據(jù)不能及時搬移出去而起不到應(yīng)用的作用；如果間隔太短，會造成頻繁的讀寫磁盤，磨損固態(tài)硬盤的壽命。

所以，如何綜合考慮固態(tài)硬盤中各種影響因素，提供一種巡檢周期更合理、延長固態(tài)硬盤使用時間以及提高使用效率的固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)巡檢周期確定機制是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請的目的是提供一種固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)巡檢周期的確定方法及系統(tǒng)，其綜合考慮對固態(tài)硬盤的各種影響因素，結(jié)合固有參數(shù)動態(tài)的計算出一個更合理的巡檢周期，確定方法更科學、進行數(shù)據(jù)巡檢更及時，提高了固態(tài)硬盤的使用時間以及使用效率，優(yōu)化了使用體驗。

為解決上述技術(shù)問題，本申請?zhí)峁┮环N固態(tài)硬盤數(shù)據(jù)巡檢周期的確定方法，該確定方法包括：

記錄SSD盤上所有block各自的擦除次數(shù)，并根據(jù)所述擦除次數(shù)執(zhí)行均值計算，得到所述SSD盤中block的平均擦除次數(shù)PE_avi；

按預(yù)設(shè)周期獲取所述SSD盤的溫度數(shù)據(jù)，并計算得到在所述預(yù)設(shè)周期內(nèi)的平均溫度TEMP_avi；

獲取所述SSD盤的固有參數(shù)；

利用所述平均擦除次數(shù)PE_avi、所述平均溫度TEMP_avi以及所述固有參數(shù)計算得到巡檢周期。

可選的，獲取所述SSD盤的固有參數(shù)，包括：

獲取所述SSD盤在出廠時設(shè)定的常溫下數(shù)據(jù)最長保存時間TIME_max；

獲取所述SSD盤在出廠時設(shè)定的所述block的最大擦除次數(shù)PE_max；

獲取所述SSD盤在出廠時設(shè)定的最高工作溫度TEMP_max。

可選的，利用所述平均擦除次數(shù)PE_avi、所述平均溫度TEMP_avi以及所述固有參數(shù)計算得到巡檢周期，包括：

根據(jù)所述SSD盤的工作狀態(tài)為溫度與擦除次數(shù)分別生成預(yù)設(shè)系數(shù)a和預(yù)設(shè)系數(shù)1-a；其中，所述預(yù)設(shè)系數(shù)a的取值范圍為[0，1]；

利用計算得到所述巡檢周期TIME。