[發明專利]監測復合結構上的熱事件和沖擊事件的可移除色差觀察組件、系統和方法

在審

• 申請號: 201710665665.8
• 申請日: 2017-08-07
• 公開（公告）號: CN107703067A
• 公開（公告）日: 2018-02-16
• 發明（設計）人: R·E·托伊沃拉;A·K-Y·珍;S-H·蔣;B·D·弗林;E·G·溫特;G·E·喬治森;W·L·霍爾曼;G·R·格利森;S·R·約翰斯頓
• 申請（專利權）人: 波音公司;華盛頓大學
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27;G01N21/64
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司11245
• 代理人: 徐東升,趙蓉民

1.一種用于監測復合結構的表面上的熱事件和沖擊事件的可移除色差觀察組件，所述可移除色差觀察組件包括：

多個色差觀察幾何配置，其在布置中單獨耦接到聚合物膜層的一個或多個部分，每個色差觀察幾何配置包括結合到粘合劑材料中的相同類型的多個色差探針，并且所述多個色差觀察器幾何配置中的至少兩個具有不同類型的色差探針，所述不同類型的色差探針針對所述復合結構的所述表面上的熱事件和沖擊事件中的一種具有不同的感測能力，

其中所述聚合物膜層和所述多個色差觀察幾何配置以可移除色差觀察附飾物的形式形成所述可移除色差觀察組件，所述可移除色差觀察附飾物被配置為直接且連續地可移除地施加到所述復合結構的所述表面，并且被配置為監測所述復合結構的所述表面上的所述熱事件和所述沖擊事件。

2.根據權利要求1所述的可移除色差觀察組件，其還包括背襯膜層和壓敏粘合劑層即PSA層，所述背襯膜層耦接到所述多個色差觀察幾何配置，并且所述壓敏粘合劑層即PSA層耦接到所述背襯膜層。

3.根據權利要求1或2所述的可移除色差觀察組件，其中所述聚合物膜層是透明的，并且包括在約130°F(一百三十華氏度)至約500°F(五百華氏度)之間的溫度范圍內是穩定的高溫聚合物膜層。

4.根據權利要求1或2所述的可移除色差觀察組件，其中所述多個色差觀察幾何配置在相鄰的重復布置中單獨耦接到所述聚合物膜層的所述一個或多個部分，并且進一步，其中每個色差觀察幾何配置具有包括矩形條和方形配置中的一個的幾何配置。

5.根據權利要求1或2所述的可移除色差觀察組件，其中所述多個色差探針包括熱致變色探針和力學變色探針中的一個。

6.根據權利要求1或2所述的可移除色差觀察組件，其中所述可移除色差觀察附飾物是多感測附飾物，所述多感測附飾物被配置為跨越將所述可移除色差觀察附飾物施加在其上的所述復合結構的所述表面進行熱測試測量和沖擊測試測量，并且其中在測試所述復合結構之后，移除所述可移除色差觀察附飾物以進行分析。

7.一種使用可移除色差觀察系統來監測復合結構表面上的熱事件和沖擊事件的方法，所述方法包括以下步驟：

提供所述可移除色差觀察系統，其包括：

所述復合結構，其具有針對熱事件和沖擊事件中的一種待測試和監測所述表面；

可移除色差觀察組件，其包括具有多個色差觀察幾何配置的可移除色差觀察附飾物，所述多個色差觀察幾何配置在布置中單獨耦接到聚合物膜層的一個或多個部分，每個色差觀察幾何配置包括結合到粘合劑材料中的相同類型的多個色差探針，并且所述多個色差觀察器幾何配置中的至少兩個具有不同類型的色差探針，所述不同類型的色差探針具有用于感測所述復合結構的所述表面上的所述熱事件和所述沖擊事件中的一種的不同的感測能力；

光源；

成像裝置；以及

數據處理器系統；

直接地且連續地將所述可移除色差觀察附飾物施加在待測試和監測的所述復合結構的所述表面上；

通過將具有施加的可移除色差觀察附飾物的所述復合結構暴露于一個或多個溫度和一個或多個沖擊中的一者達預定義的時間段來用所述施加的可移除色差觀察附飾物測試所述復合結構；

用所述光源對所述可移除色差觀察附飾物進行照明，以響應于所述光源激活所述不同類型的色差探針在不同的預定義時間-溫度范圍內發熒光；

用所述成像裝置獲得所述不同類型的色差探針對所述光源的色差響應的一個或多個圖像，所述色差響應包括一個或多個顏色變化和一個或多個強度變化；以及

使用所述數據處理器系統基于所述色差響應來識別所述復合結構的所述表面上已經經受了高于預定義的閾值溫度的溫度和高于預定義的閾值沖擊的沖擊中的一個的區域。

8.根據權利要求7所述的方法，其還包括在用所述施加的可移除色差觀察附飾物測試所述復合結構之后，以及在用所述光源進行照明之前，從所述復合結構移除所述色差觀察附飾物的步驟。

9.根據權利要求7或8所述的方法，其中提供所述可移除色差觀察系統包括提供具有背襯膜層和壓敏粘合劑層即PSA層的所述可移除色差觀察附飾物，所述背襯膜層耦接到所述多個色差觀察幾何配置，并且所述壓敏粘合劑層級PSA層耦接到所述背襯膜層。