[發明專利]一種陀螺電路動態參數測量裝置及方法

有效

• 申請號: 201710664729.2
• 申請日: 2017-08-07
• 公開（公告）號: CN109387222B
• 公開（公告）日: 2022-03-22
• 發明（設計）人: 陳留濤;楊業明;漆小彩;胡廣明;權曉蕾;包石秋;趙寅秋;高巖
• 申請（專利權）人: 航天科工慣性技術有限公司
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00;G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種陀螺電路動態參數測量裝置，其特征在于：包括模擬量采集設置單元、模擬量采集單元、采集數據濾波及繪制單元、曲線參數動態測量設置單元、曲線參數動態測量及計算單元、曲線參數顯示單元和曲線參數保存單元；

所述的模擬量采集設置單元，用于設置模擬量采集的采樣頻率、每次采樣的采樣時間和低通濾波的截止頻率；

所述的模擬量采集單元，根據模擬量采集設置單元設置的采樣頻率和采樣時間對諧振腔控制電路輸出的數據進行采集和緩存；

所述的采集數據濾波及繪制單元，利用模擬量采集設置單元設置的低通濾波的截止頻率，對模擬量采集單元采集的數據進行濾波，并將濾波后的數據實時繪制成諧振腔曲線；

所述的曲線參數動態測量設置單元，用于設置諧振腔內部脈沖波形幅值的最小值閾值Y_m和光學損耗值系數C；

所述的曲線參數動態測量及計算單元，根據模擬量采集設置單元設置的采樣頻率和采集數據濾波及繪制單元實時繪制的諧振腔曲線，測量計算得到諧振腔曲線的光學損耗值；

所述的曲線參數動態測量及計算單元包括電壓搜索模塊、半高寬度確定模塊、波形間隔時間確定模塊和光學損耗確定模塊，所述的電壓搜索模塊由最大電壓搜索模塊、次大電壓搜索模塊、電壓搜索對比模塊、三大電壓搜索模塊一和三大電壓搜索模塊二；

所述的最大電壓搜索模塊對一個周期的諧振腔曲線的縱坐標電壓值y取絕對值形成數據集A₁，在數據集A₁上搜索出y的最大值，定義此電壓最大值為y₂，y₂對應的橫坐標采樣點為x₂；將數據集A₁上所有的y值減去y₂/2后取絕對值形成半高數據集A₂，對于半高數據集A₂，在y₂對應的采樣點x₂左側區間上搜索出所有的y最小值點及其對應的采樣點，并定義距離采樣點x₂最近的y最小值對應的采樣點為x₂₀，再在采樣點x₂₀右側區間搜索出最接近x₂₀的y最小值點及其對應的采樣點x₂₁，x₂對應的脈沖為M₂；

所述的次大電壓搜索模塊對于數據集A₁，在采樣點x₂₀左側區間搜索出最大值點y₁及其對應的采樣點x₁，將數據集A₁上所有的y值減去y₁/2后取絕對值形成半高數據集A′₂，對于半高數據集A′₂，在y₁對應的采樣點x₁左側區間上搜索出所有的y最小值點及其對應的采樣點，并定義距離采樣點x₁最近的y最小值對應的采樣點為x₁₀，再在采樣點x₁₀右側區間搜索出最接近x₁的y最小值點及其對應的采樣點x₁₁；

所述的電壓搜索對比模塊對于數據集A₁，在采樣點x₁₀左側區間搜索出y最大值點Y₀,將Y₀值與諧振腔內部脈沖波形幅值的最小值閾值Y_m進行對比，若Y₀≥Y_m則三大電壓搜索模塊一進行處理，若Y₀＜Y_m則三大電壓搜索模塊二進行處理；

所述的三大電壓搜索模塊一將數據集A₁上所有的y值減去Y₀/2后取絕對值形成半高數據集A″₂，定義Y₀對應的采樣點為x₀，對于半高數據集A″₂，在采樣點x₀左側區間上搜索出所有的y最小值點及其對應的采樣點，并定義距離采樣點x₀最近的y最小值對應的采樣點為x₀₀，再在采樣點x₀₀右側區間搜索出最接近x₀的y最小值點及其對應的采樣點x₀₁，x₀對應的脈沖為M₀，x₁對應的脈沖為M₁，M₁的脈沖幅值大于M₀的脈沖幅值；

所述的三大電壓搜索模塊二對于數據集A₁，在x₁₁-x₂₀區間上搜索出y最大值點y₀及其對應的采樣點索引x′₀，將數據集A₁上所有的y值減去y₀/2后取絕對值形成半高數據集A″′₂，對于半高數據集A″′₂，在采樣點x′₀左側區間上搜索出所有的y最小值點及其對應的采樣點，并定義距離采樣點x′₀最近的y最小值對應的采樣點為x′₀₀，再在采樣點x′₀₀右側區間搜索出最接近x′₀的y最小值點及其對應的采樣點x′₀₁，x₁對應的脈沖為M₀，x′₀對應的脈沖為M₁，M₁的脈沖幅值小于M₀的脈沖幅值；

所述的半高寬度確定模塊根據電壓搜索模塊確定的參數，確定每個周期諧振器曲線的脈沖波形的半高寬度；

所述的波形間隔時間確定模塊根據電壓搜索模塊確定的參數，確定脈沖M₂和M₁之間時間間隔；

所述的光學損耗確定模塊根據半高寬度確定模塊和波形間隔時間得到的參數，確定每個周期的諧振腔曲線脈沖的光學損耗值。

所述的曲線參數顯示單元，實時顯示曲線參數動態測量及計算單元計算出來的參數值；

所述的曲線參數保存單元，對曲線參數動態測量及計算單元得出的參數進行存儲。