[發明專利]用污穢的溫度、含水量檢測絕緣子的污穢狀態的方法

在審

• 申請號: 201710659806.5
• 申請日: 2017-08-04
• 公開（公告）號: CN107462817A
• 公開（公告）日: 2017-12-12
• 發明（設計）人: 錢克猷;江傳桂
• 申請（專利權）人: 錢克猷;江傳桂
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司33200
• 代理人: 邱啟旺

1.一種用污穢的溫度、含水量檢測絕緣子的污穢狀態的方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)出廠前輸入計算需要的函數或常數：σ＝f_σ(y_a)、β＝β₁(T,w)、g_V＝f_g(y_a)、y_c＝f_yc(σ)；其中，σ＝f_σ(y_a)表示污層表面電導率σ關于等效轉移導納y_a的函數，y_c＝f_yc(σ)表示等效轉移導納y_c關于表面電導率σ的函數，β＝β₁(T,w)表示電導率轉換函數β關于污層溫度T和污層含水量w的函數，g_V＝f_g(y_a)表示等效電導g_V關于等效轉移導納y_a的函數，y_a為由場域中截面a中的電流I_a與絕緣子電壓U的比值所確定的等效轉移導納，與污層的表面電導率σ有一一對應關系，y_c為由場域中截面c中的電流I_c與絕緣子電壓U的比值所確定的等效轉移導納，與污層的表面電導率σ有一一對應關系；截面a和截面c是任意的兩個不同的截面。

(2)在線測定污層溫度T、污層含水量w、流過截面a的電流I_a、流過截面c的電流I_c；

(3)將y_a用I_a*f_yc(σ)/I_c表示，并代入函數σ＝f_σ(y_a)中，得σ＝f_σ(I_a*f_yc(σ)/I_c)方程，進一步解該方程得絕緣子當前實測的表面電導率σ。

(4)用污層溫度T、污層含水量w查函數β＝β₁(T,w)得電導率轉換函數β值。

(5)將步驟(3)獲得的σ除以電導率轉換函數β，就可以得到在標準測量條件(T_s,w_s)下的絕緣子污層表面電導率σ_s；其中w_s為最大含水量，即污層流淌之前的含水量；T_s為一個規定值，在(T_s，w_s)下絕緣子表面電導率有最大值。

(6)設定一個標準測量條件(T_s,w_s)下絕緣子清洗臨界表面電導率σ₀。

(7)絕緣子污穢狀態的檢測值D為D＝σ_s/σ₀，用D或D的平均值來表征絕緣子的污穢狀態。

2.根據權利要求1所述的一種用污穢的溫度、含水量檢測絕緣子的污穢狀態的方法，其特征在于，所述β₁(T,w)的獲取方法如下：

當在線監測能直接測得污層溫度T、污層的含水量w及污層的表面電導率σ時，取被測污區的污層試樣，在污層厚度為δ、污層溫度為T、含水量為w下，測得的表面電導率為σ，在標準測量條件(T_s,w_s)下的表面電導率σ_s，則用式子β＝σ/σ_s＝β₁(T,w)就可以求得電導率轉換函數β₁，β₁(T,w)為以T、w作自變量的電導率轉換函數，在污層中的電流線平行于污層表面的條件下δ可為任意的正值。