[發(fā)明專利]基板處理裝置、基板處理方法及存儲有實(shí)行基板處理方法的程序的存儲介質(zhì)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710657588.1 | 申請日: | 2017-08-03 |
| 公開(公告)號: | CN107689337B | 公開(公告)日: | 2023-07-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 戶島孝之;寺田正一;中村淳司 | 申請(專利權(quán))人: | 東京毅力科創(chuàng)株式會(huì)社 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;李茂家 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 處理 裝置 方法 存儲 實(shí)行 程序 介質(zhì) | ||
1.一種基板處理裝置,其具備:用于從基板將所述基板上的附著物去除的去除處理部;和用于控制所述去除處理部的動(dòng)作的控制部,
所述去除處理部具備:
處理液供給部:其向所述基板供給處理液,所述處理液含有所述附著物的去除劑和具有比所述去除劑的沸點(diǎn)低的沸點(diǎn)的溶劑;
基板加熱部:其在所述溶劑的沸點(diǎn)以上且低于所述去除劑的沸點(diǎn)的規(guī)定溫度下對所述基板進(jìn)行加熱;以及
沖洗液供給部:其向所述基板供給沖洗液,
所述控制部以如下方式控制所述處理液供給部、所述基板加熱部及所述沖洗液供給部:所述處理液供給部向所述基板供給所述處理液;接著,所述基板加熱部在所述規(guī)定溫度下對所述基板加熱,由此促進(jìn)所述溶劑的蒸發(fā)及所述附著物與所述去除劑的反應(yīng);接著,所述沖洗液供給部向所述基板供給所述沖洗液,由此從所述基板去除所述附著物,
其中,所述附著物為蝕刻用硬掩膜。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板處理裝置,其中,所述處理液還含有增稠劑。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基板處理裝置,其中,所述增稠劑具有超過所述溶劑的沸點(diǎn)且所述去除劑的沸點(diǎn)以下的玻璃化轉(zhuǎn)變點(diǎn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基板處理裝置,其中,所述規(guī)定溫度為所述溶劑的沸點(diǎn)以上且低于所述增稠劑的玻璃化轉(zhuǎn)變點(diǎn)的溫度。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基板處理裝置,其中,所述規(guī)定溫度為所述增稠劑的玻璃化轉(zhuǎn)變點(diǎn)以上且低于所述去除劑的沸點(diǎn)的溫度。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基板處理裝置,其中,所述增稠劑具有所述去除劑的沸點(diǎn)以上的玻璃化轉(zhuǎn)變點(diǎn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1~6中任一項(xiàng)所述的基板處理裝置,其中,所述控制部以如下方式控制所述處理液供給部、所述基板加熱部及所述沖洗液供給部:
所述處理液供給部向所述基板供給所述處理液,由此,在所述基板上形成覆蓋所述附著物的所述處理液的膜;接著,在所述附著物被所述處理液的膜覆蓋的狀態(tài)下,所述基板加熱部在所述規(guī)定溫度下對所述基板進(jìn)行加熱,由此促進(jìn)所述溶劑的蒸發(fā)及所述附著物與所述去除劑的反應(yīng);接著,所述沖洗液供給部向所述基板供給所述沖洗液,由此,從所述基板去除所述附著物。
8.一種基板處理方法,其從基板將所述基板上的附著物去除,該基板處理方法包含如下工序:
工序(A):向所述基板供給處理液,所述處理液含有所述附著物的去除劑和具有比所述去除劑的沸點(diǎn)低的沸點(diǎn)的溶劑;
工序(B):工序(A)之后,在所述溶劑的沸點(diǎn)以上且低于所述去除劑的沸點(diǎn)的規(guī)定溫度下對所述基板進(jìn)行加熱,從而促進(jìn)所述溶劑的蒸發(fā)及所述附著物與所述去除劑的反應(yīng);以及
工序(C):工序(B)之后,向所述基板供給沖洗液,從而從所述基板將所述附著物去除,
其中,所述附著物為蝕刻用硬掩膜。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基板處理方法,其中,所述處理液還含有增稠劑。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基板處理方法,其中,所述增稠劑具有超過所述溶劑的沸點(diǎn)且所述去除劑的沸點(diǎn)以下的玻璃化轉(zhuǎn)變點(diǎn)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的基板處理方法,其中,所述規(guī)定溫度為所述溶劑的沸點(diǎn)以上且低于所述增稠劑的玻璃化轉(zhuǎn)變點(diǎn)的溫度。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的基板處理方法,其中,所述規(guī)定溫度為所述增稠劑的玻璃化轉(zhuǎn)變點(diǎn)以上且低于所述去除劑的沸點(diǎn)的溫度。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基板處理方法,其中,所述增稠劑具有所述去除劑的沸點(diǎn)以上的玻璃化轉(zhuǎn)變點(diǎn)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





