[發明專利]電能存儲單元的至少部分導電外殼內腐蝕檢測方法和設備

有效

• 申請號: 201710655657.5
• 申請日: 2017-08-03
• 公開（公告）號: CN107843543B
• 公開（公告）日: 2021-11-26
• 發明（設計）人: B.胡貝爾;F.施蒂姆;P.科恩;U.朗格
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司;鋰能源和電力有限責任兩合公司
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00;G01R31/367;G01R31/382;G01R31/392
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 畢錚;杜荔南

1.用于電能存儲單元（100）的至少部分導電的外殼（104）內的腐蝕的檢測的方法，電能存儲單元（100）具有正端子（102）并且以正端子（102）與至少部分導電的外殼（104）之間的具有預先分配的電阻值（R_ttc，R₁，R₂，R₃，R₄）的電阻元件（101）為特征，所述方法包括以下步驟：

- 針對至少一個第一時刻和至少一個第二時刻確定電能存儲單元（100）的電荷狀態值，和針對至少一個第三時刻確定電能存儲單元（100）的外殼（104）與位于電能存儲單元（100）外部的至少一個參考點之間的電氣隔離電阻值（R_iso）；以及

- 所確定的電荷狀態值的差異與針對電能存儲單元（100）的預先定義的電荷狀態差異值的第一比較，和所確定的電氣隔離電阻值（R_iso）與針對電能存儲單元（100）的預先定義的電氣隔離電阻值（R_iso,th）的第二比較；以及

- 取決于第一比較結果和第二比較結果，生成關于腐蝕的檢測的信號。

2.根據權利要求1所述的方法，在第一比較的情況下，其中在第一比較中計及在至少一個第一時刻與至少一個第二時刻之間從電能存儲單元流動的或向電能存儲單元流動的電流。

3.根據前述權利要求中任何一項所述的方法，在第一比較的情況下，其中針對電能存儲單元（100）的預先定義的電荷狀態差異值取決于至少一個第一時刻與至少一個第二時刻之間的時間差（t₁，t₂，t₃）。

4.根據權利要求1或2所述的方法，在電荷狀態值的確定的情況下，還包括以下步驟：

- 在電荷狀態值的確定之前，驗證從電能存儲單元（100）流動或向電能存儲單元（100）流動的電流在預先定義的下閾值以上并且在預先定義的上閾值以下。

5.根據權利要求1或2所述的方法，在電荷狀態值的確定的情況下，還包括以下步驟：

- 在電荷狀態值的確定之前，以使得從電能存儲單元（100）流動或向電能存儲單元（100）流動的電流在至少一個第一時刻和至少一個第二時刻處以及在這至少兩個時刻之間中在預先定義的下閾值以上并且在預先定義的上閾值以下的這樣的方式來控制電能存儲單元（100）。

6.根據權利要求5所述的方法，其中電能存儲單元（100）的控制防止電能存儲單元（100）與另外的電能存儲單元（100）之間的電荷平衡操作。

7.根據權利要求1或2所述的方法，在電荷狀態值的確定的情況下，其中基于預先分配的電阻值（R_ttc，R₁，R₂，R₃，R₄）和電荷狀態確定不確定度來選擇至少一個第一時刻與至少一個第二時刻之間的時間差（t₁，t₂，t₃）。

8.根據權利要求1或2所述的方法，在電荷狀態值的確定和電氣隔離電阻值（R_iso）的確定的情況下，其中至少一個第三時刻與至少一個第一時刻或與至少一個第二時刻重合。

9.根據權利要求1或2所述的方法，還包括以下步驟：在電氣隔離電阻值（R_iso）的確定的情況下：

- 使用所確定的電氣隔離電阻值（R_iso）來預測電氣隔離電阻值（R_iso）的將來演進；

- 使用所述預測以排定用于外殼（104）與位于電能存儲單元（100）外部的至少一個參考點之間的電氣隔離電阻值（R_iso）的進一步確定的第四時刻。