[發(fā)明專利]一種光學(xué)膜的視覺智能檢測機構(gòu)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710653624.7
• 申請日: 2017-08-02
• 公開（公告）號: CN107449785B
• 公開（公告）日: 2020-03-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 徐濤;周永
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州市朗電機器人有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103
• 代理人: 馬明渡;陳昊宇

一種光學(xué)膜的視覺智能檢測機構(gòu)，包括供料單元和檢測單元；供料單元包括供料模組和保護(hù)膜揭取機構(gòu)，后者包括膠帶供料模組、膠帶按壓貼敷模組及保護(hù)膜揭取模組；檢測單元包括照明模組、攝像模組及上位機；還包括料帶位置調(diào)節(jié)系統(tǒng)，包括料帶糾偏機構(gòu)以及料帶張力調(diào)節(jié)機構(gòu)。本發(fā)明主要通過視覺智能檢測的方式對光學(xué)膜產(chǎn)品進(jìn)行全自動的檢測，進(jìn)而甄別出有缺陷的光學(xué)膜產(chǎn)品。具有檢測效率高，檢測可靠性高的優(yōu)點，同時由于結(jié)構(gòu)設(shè)計比較合理，具有結(jié)構(gòu)緊湊、占地面積小，且成本相對較低的優(yōu)點，最重要的是本發(fā)明不僅對光學(xué)膜產(chǎn)品的缺陷識別率高，同時也不會發(fā)生誤檢，使產(chǎn)品的品控得到保證。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種檢測設(shè)備，具體涉及一種光學(xué)膜的視覺智能檢測機構(gòu)，所述光學(xué)膜包括用于手機或平板電腦中的增亮膜、保護(hù)膜等。

背景技術(shù)

隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展進(jìn)步，電子產(chǎn)品尤其是移動智能終端產(chǎn)品的市場不斷擴大，應(yīng)運而生的，便是對光學(xué)膜的大量需求。

光學(xué)膜產(chǎn)品種類繁多，在移動智能終端產(chǎn)品上應(yīng)用廣泛，其中，以增亮膜為典型。增亮膜（BEF，Brightness Enhancement Film）是應(yīng)用于TFT、LCD背光模塊中以改善電子設(shè)備整個背光系統(tǒng)發(fā)光效率為宗旨的薄膜或薄片，其廣泛應(yīng)用于液晶顯示中。在增亮膜產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中，檢測環(huán)節(jié)至關(guān)重要，該檢測環(huán)節(jié)的目的是檢測增亮膜的表面是否有污點、損壞、劃痕、折痕等一切有礙增亮膜品控的缺陷。然而，現(xiàn)有的檢測方式卻存在以下不足：

一、完全人工檢測，通過檢測人員人眼對增亮膜產(chǎn)品進(jìn)行觀察，尋找有缺陷的增亮膜并剔除；該人工檢測的方式導(dǎo)致企業(yè)的用人成本居高不下，并且檢測效率不佳；實際上，人眼檢測還易發(fā)生疲勞，產(chǎn)生漏檢，因此還存在可靠性低的問題，導(dǎo)致產(chǎn)品質(zhì)量不穩(wěn)定；

二、機械檢測，意圖通過自動化的檢測設(shè)備來代替人工檢測；但縱觀業(yè)內(nèi)，尚無設(shè)計合理的方案，現(xiàn)有的檢測設(shè)備或機構(gòu)過于復(fù)雜、存在過多結(jié)構(gòu)冗余，或檢測效率欠佳、可靠性低；另外，由于增亮膜產(chǎn)品于檢測時通常間隔布置于帶狀基膜上，并通過一帶狀保護(hù)膜覆蓋，因此在進(jìn)行檢測時，設(shè)備經(jīng)常由于所述保護(hù)膜的遮蓋遺漏增亮膜本身存在的缺陷，有時也會誤將保護(hù)膜上的缺陷當(dāng)作增亮膜的缺陷進(jìn)行識別和剔除，造成誤檢，帶來產(chǎn)品的浪費。

因此，如何解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，便成為本發(fā)明所要研究解決的課題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種光學(xué)膜的視覺智能檢測機構(gòu)。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：

一種光學(xué)膜的視覺智能檢測機構(gòu)，用于檢測光學(xué)膜料帶中的光學(xué)膜產(chǎn)品，所述光學(xué)膜料帶由保護(hù)膜、光學(xué)膜產(chǎn)品以及基膜從上到下組合而成；所述檢測設(shè)備包括一機架，該機架的長度方向為X軸方向，機架的寬度方向為Y軸方向；所述光學(xué)膜料帶沿X軸方向在機架中從前向后位移，所述機架以所述光學(xué)膜料帶為基準(zhǔn)在Z軸方向分為上部空間和下部空間；

所述檢測設(shè)備還包括沿X軸方向從前向后依次設(shè)置于機架中的供料單元和檢測單元；其中，

所述供料單元包括：

一供料模組，包括一第一供料軸，該第一供料軸沿Y軸方向水平設(shè)置，并相對所述機架轉(zhuǎn)動；第一供料軸上套設(shè)定位有光學(xué)膜供料卷，該光學(xué)膜供料卷用于提供光學(xué)膜料帶；

一保護(hù)膜揭取機構(gòu)，設(shè)于所述機架的上部空間，用于揭取所述保護(hù)膜；所述保護(hù)膜揭取機構(gòu)包括沿X軸方向從前向后依次設(shè)置于機架中的膠帶供料模組、膠帶按壓貼敷模組以及保護(hù)膜揭取模組；其中，

所述膠帶供料模組包括第二供料軸，該第二供料軸沿Y軸方向水平設(shè)置，并相對所述機架轉(zhuǎn)動；第二供料軸上套設(shè)定位有膠帶料卷，當(dāng)該膠帶料卷轉(zhuǎn)動時，所述膠帶料卷中的膠帶從所述光學(xué)膜料帶的上方傳送至光學(xué)膜料帶上，并進(jìn)入所述膠帶按壓貼敷模組與所述光學(xué)膜料帶進(jìn)行貼敷定位；