[發明專利]基于漏洞掃描的回歸測試方法在審
| 申請號： | 201710651876.6 | 申請日： | 2017-08-02 |
| 公開（公告）號： | CN107480532A | 公開（公告）日： | 2017-12-15 |
| 發明（設計）人： | 吳思宏 | 申請（專利權）人： | 四川長虹電器股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F21/57 | 分類號： | G06F21/57;G06F21/56 |
| 代理公司： | 四川省成都市天策商標專利事務所51213 | 代理人： | 譚德兵,吳瑞芳 |
| 地址： | 621000 四*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 漏洞 掃描 回歸 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于漏洞掃描的回歸測試方法，其特征在于包括：
步驟一、對平臺漏洞進行全面掃描；
步驟二、將掃描出現的漏洞對應的數據信息存入回歸測試數據庫；
步驟三、在用戶修改平臺漏洞后，調用回歸測試數據庫，對平臺進行掃描；以及清空上一次回歸測試數據庫的數據信息，且將本次測試復現的漏洞對應的數據信息寫入回歸測試數據庫；
步驟四、在每次回歸測試掃描結束后，判斷回歸測試數據庫存放的漏洞對應的數據信息是否符合標準，如果符合標準則結束掃描，反之，則重復步驟三。
2.根據權利要求1所述的基于漏洞掃描的回歸測試方法，其特征在于所述漏洞對應的數據信息為漏洞的腳本名。
3.根據權利要求1所述的基于漏洞掃描的回歸測試方法，其特征在于采用json串代替數據庫存放漏洞對應數據信息的方式。
4.根據權利要求1所述的基于漏洞掃描的回歸測試方法，其特征在于所述判斷回歸測試數據庫存放的漏洞對應的數據信息是否符合標準的方式為所述回歸測試數據庫的數據信息是否為空。
5.根據權利要求4所述的基于漏洞掃描的回歸測試方法，其特征在于在回歸測試數據庫為空的情況下，銷毀回歸測試數據庫。
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