[發明專利]一種基于模板匹配的試卷題目定位方法及裝置

有效

• 申請號: 201710651459.1
• 申請日: 2017-08-02
• 公開（公告）號: CN107423738B
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發明（設計）人: 余榮;雷俊杰;張偉池;張浩川
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: G06K9/32
• 分類號: G06K9/32;G06K9/62
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本發明公開了一種基于模板匹配的試卷題目定位方法，包括：獲取第一試卷的模板圖像；利用所述模板圖像確定第二試卷的樣本圖像的搜索區域；利用所述模板圖像與所述搜索區域計算第二試卷的第一樣本圖像的第一相似度；判斷所述第一相似度是否大于所述第二試卷的第一樣本匹配度閾值，如果是，設定所述第一樣本圖像為所述第二試卷的定位圖像。可見，本方案中，對試卷題目進行定位操作簡單，試卷題目定位成本較低；且通過設定匹配度閾值，將滿足所述匹配度閾值的樣本圖像才作為試卷的定位圖像，定位準確度高。本發明還公開了一種基于模板匹配的試卷題目定位裝置，同樣能實現上述技術效果。

技術領域

本發明涉及計算機視覺領域，特別涉及一種基于模板匹配的試卷題目定位方法及裝置。

背景技術

隨著科學技術的發展，計算機在各個領域得到廣泛應用。傳統的人工閱卷效率低，精確度不高，而且還需要大量的人力和物力。因此，基于計算機的數字化閱卷系統成為了一種必然趨勢。

基于計算機的數字化閱卷系統首先需要對試卷進行定位；傳統的試卷定位方法可分為有定位點試卷定位和無定位點試卷定位，相對于前者，有定位點試卷其四個角上具有定位點標志，計算機通過定位點標志實現試卷題目的定位；相對于后者，通過識別無定點位試卷上的每道題目對應的數字題號或者矩形框實現試卷題目的定位。

但是，對于無定點位試卷，采用上述方法定位試卷題目時，因識別數字題號需要高精度的數字識別庫，因此定位成本較高；同時，矩形框在變形或缺損時，計算機無法識別變形或缺損的矩形框，因此難以實現試卷題目的準確定位；對于有定位點的試卷，當定位點較模糊或缺損時，其定位準確度也較低。

因此，如何實現對試卷題目的準確定位，降低試卷定位成本是本領域技術人員需要解決的問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于模板匹配的試卷題目定位方法及裝置，解決了對試卷題目定位時準確度低的問題，降低了對試卷題目進行定位的定位成本。

為實現上述目的，本發明實施例提供了如下技術方案：

一方面，本發明實施例提供了一種基于模板匹配的試卷題目定位方法，包括：

S1、獲取第一試卷的模板圖像；

S2、利用所述模板圖像確定第二試卷的樣本圖像的搜索區域；

S3、利用所述模板圖像與所述搜索區域計算第二試卷的第一樣本圖像的第一相似度；

S4、判斷所述第一相似度是否大于所述第二試卷的第一樣本匹配度閾值，如果是，進入S5；

優選的，所述S1包括：

S11、獲取第一試卷的初始模板圖像；

S12、計算所述初始模板圖像的占空比；

S13、判斷所述占空比是否大于占空比閾值，如果是，將所述初始模板圖像作為所述第一試卷的模板圖像。

優選的，所述S3包括：

S31、讀入第二試卷與根據所述搜索區域確定的所述第一樣本圖像；

S32、將所述第一樣本圖像與模板圖像進行匹配，得到第一樣本匹配度；

S33、對所述模板圖像進行模板匹配，得到模板匹配度；

S34、根據所述模板匹配度與所述第一樣本匹配度計算所述第二試卷的第一相似度。

優選的，若S4中判定所述第一相似度不大于所述第一樣本匹配度閾值，則所述方法還包括：

S6、以預定標準擴大所述搜索區域得到第二搜索區域；