[發明專利]一種光纖切割頭零焦點測量系統和測量方法

有效

• 申請號: 201710647250.8
• 申請日: 2017-08-01
• 公開（公告）號: CN109323849B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 李典;肖俊君;陳根余;陳焱;高云峰
• 申請（專利權）人: 大族激光科技產業集團股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 深圳市世聯合知識產權代理有限公司 44385
• 代理人: 林霞

1.一種光纖切割頭零焦點測量系統，應用于光纖切割頭（3）的檢測，其特征在于，包括：光纖入光點模擬治具（1）、切割嘴端面模擬治具（2）和鏡片綜合測量儀（4）；

所述光纖入光點模擬治具（1）裝設在光纖切割頭（3）的入光口（31）處，以進行零焦點絕對高度的測量，所述切割嘴端面模擬治具（2）在零焦點絕對高度的測量后裝設在所述光纖切割頭（3）的切割嘴（32）處，以進行切割嘴絕對高度的測量，所述光纖入光點模擬治具（1）上加工有治具定位銷（11）和凸透鏡定位座（12），所述凸透鏡定位座（12）上設置有凹孔（121），所述凹孔（121）內裝設有凸透鏡（122），所述切割嘴端面模擬治具（2）的表面經過鏡面拋光處理，以作為切割嘴（32）端面的光學定位面；

所述光纖切割頭（3）設置在所述鏡片綜合測量儀（4）上；

其中，所述鏡片綜合測量儀（4）分別發射第一測試光線（41）和第二測試光線（42）進行零焦點絕對高度和切割嘴絕對高度的測量，將光纖入光點模擬治具（1）安裝在光纖切割頭（3）的入光口（31）處，所述第一測試光線（41）沿光纖切割頭（3）的入光口（31）處射入光纖入光點模擬治具（1），測試獲得零焦點絕對高度，再將切割嘴端面模擬治具（2）安裝在所述光纖切割頭（3）的切割嘴（32）處，所述第二測試光線（42）沿光纖切割頭（3）的切割嘴（32）處射入切割嘴端面模擬治具（2），測試獲得切割嘴端面絕對高度。

2.根據權利要求1所述的光纖切割頭零焦點測量系統，其特征在于，

所述光纖入光點模擬治具（1）為空心圓柱體。

3.根據權利要求1所述的光纖切割頭零焦點測量系統，其特征在于，切割嘴端面模擬治具（2）上加工有突起部分，所述突起部分的直徑與所述切割嘴（32）的直徑相匹配。

4.根據權利要求3所述的光纖切割頭零焦點測量系統，其特征在于，所述切割嘴端面模擬治具（2）的表面粗糙度為小于或等于0.4微米。

5.一種光纖切割頭零焦點的測量方法，基于權利要求1-4任意一項所述的光纖切割頭零焦點測量系統，其特征在于，包括：

將光纖入光點模擬治具安裝在光纖切割頭的入光口處后，鏡片綜合測量儀發射第一測試光線到光纖切割頭的入光口處內進行測試，獲得零焦點絕對高度，其中，光纖入光點模擬治具上加工有治具定位銷和凸透鏡定位座，凸透鏡定位座上設置有凹孔，凹孔內裝設有凸透鏡，第一測試光線沿光纖切割頭的入光口處射入光纖入光點模擬治具；

再將切割嘴端面模擬治具安裝在所述光纖切割頭的切割嘴處后，所述鏡片綜合測量儀發射第二測試光線到光纖切割頭內進行測試，獲得切割嘴端面絕對高度，其中，第二測試光線沿光纖切割頭的切割嘴處射入切割嘴端面模擬治具；

將所述零焦點絕對高度和切割嘴端面絕對高度的進行相減，獲得切割頭零焦點的相對高度。