[發明專利]一種高效率BTBCABLE類FPCA電性能測試裝置和裝置制作方法在審
| 申請號: | 201710646570.1 | 申請日: | 2017-08-01 |
| 公開(公告)號: | CN107329075A | 公開(公告)日: | 2017-11-07 |
| 發明(設計)人: | 鄭國清;華江 | 申請(專利權)人: | 深圳市比亞迪電子部品件有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳茂達智聯知識產權代理事務所(普通合伙)44394 | 代理人: | 胡慧 |
| 地址: | 518119 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 高效率 btbcable fpca 性能 測試 裝置 制作方法 | ||
技術領域
本發明涉及到一種軟板撓曲測試裝置及測試方法,尤其涉及到一種高效率BTB CABLE類FPCA電性能測試裝置和裝置制作方法。
背景技術
傳統的BTB CABLE類FPC是采用公座和母座連接器對扣方式(即BTB公母座對扣方式),采用和產品上連接器對應的COLLECTOR進行公母對接(產品上搭載公座,采用母座進行對接;產品上采用母座,使用公座進行對接,設計制作專門轉接板將各連接器引腳引出,并導入測試機器進行測試,)。傳統測試機器的測試方式是采用ICT測試機器(IN CIRCUIT TESTER)進行完成,其原理是經由量測電路板上所有零件,包括電阻,電容,電感,二極管,三機管,FET,SCR,LED和IC等,檢測出電路板產品的各種缺點,諸如:線路短路,斷路,缺件,錯件,零件不良或者裝配不良等,并明確地指出缺點的所在位置,幫助使用者確保產品的品質,并提高不良品檢修效率,它使用的原理是磁簧式繼電器(REED RELAY)測試方式,是逐個通道完成測試的方式進行。BTB CABLE類FPC通常回路大致為100個左右,按照現有方式,完成這些回路測試的大致時間通常為3秒,如果加上上料和取料的時間,大致為5秒一個產品。如果要完成多個單元的測試,由于是繼電器切換方式,是逐個單元完成,所以當要測試多個單元時,測試時間是按照單元數進行疊加(如測試8個單元,時間為10*5秒/單元=50秒);另外一方面,多單元測試時,由于產品已經沖切成型,只能采用一個單元一個單元方式放入外形槽里面,這樣很是耗時費力,且出現不良品時,作業員只能按照顯示器顯示結果,將不良單元挑選出來,當長期作業時,有不慎將不良品流出的風險。
同時,隨著我國人口紅利的逐漸消失,人力資源的短缺成為我國制造業面臨的最大問題,同時,人工成本的持續上漲,給制造業經營帶來巨大壓力,各行各業都非常迫切地需要研發出大幅度提高生產效率的解決方法,以提升人均產值,使企業得以持續發展。因此,現有技術存在缺陷,需要改進。
發明內容
本發明提供一種高效率BTB CABLE類FPCA電性能測試裝置和裝置制作方法,解決的上述問題。
為解決上述問題,本發明提供的技術方案如下:
一種高效率BTB CABLE類FPCA電性能測試裝置,所述FPCA電性能測試裝置包含:高速測試模塊、壓床控制電路設備、人機交互模塊、測試夾具裝置、測試機器通信模塊組成;所述高速測試模塊包含三極管陳列裝置和內測試卡裝置;所述測試夾具裝置包含連接器針模和連接器預壓結構;所述測試機器通信模塊包括指示燈模塊、防呆模塊和脫料板,所述指示燈模塊和所述三極管陳列裝置電連接,所述防呆模塊分別與所述連接器預壓結構和所述的人機交互模塊電連接;所述連接器針模采用微針處理,微針直接接觸到連接器的外漏金屬面。
優選的技術方案,所述內測試卡裝置由測量控制卡、電源卡、解碼卡、副解碼卡組成;所述測量控制卡、所述電源卡、所述解碼卡、所述副解碼卡分別與所述三極管陳列裝置通過數據線連接實現大規模開關卡通道。
優選的技術方案,所述壓床控制電路設備包括一個具有上升、下降、急停、安全鎖定功能的電路設備和安全光柵。
優選的技術方案,所述指示燈模塊包括不良單元指示燈模塊和蜂鳴器報警裝置。
一種高效率BTB CABLE類FPCA電性能測試裝置設計和制作方法,供配合權利要求1至4中任一所述的一種高效率BTB CABLE類FPCA電性能測試裝置,包含下列步驟:
(a)選擇基板,鉆孔;
(b)設置所述高速測試模塊,由大規模陣列三極管陣列組成,實現大規模開關卡通道,內測試卡由測量控制卡,電源卡,解碼卡,副解碼卡組成;
(c)安裝所述壓床控制電路設備和測試基器通訊模塊:所述壓床控制電路設備是由一個具有由上升,下降,急停,安全鎖定,安全光柵保護電路功能的組成;
(d)安裝不良單元指示燈模塊和配套電路;
(e)測試夾具針模,由連接器針模,連接電纜,配套電路,連接器預壓結構,防呆結構,脫料板組成;
(e)輸入單片機程序,選用ARM單片機作為核心處理器,通過編程檢測各個按鍵的控制結果;
(f)人機交互系統顯示測試和模擬測試結果,根據結果可以在指示燈位置直接找出問題點。
進一步,不良單元指示燈安裝在基板孔內,線路在基板的背面;測試到不良品時,不良信號除了通過顯示器顯示以外,可以通過接口信號驅動對應位置指示燈,不良單元會亮紅燈,這樣作業員可以直接根據指示燈將不良品取下,良品保留在對應位置即可。
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