[發明專利]一種自動識別曲線凹坑的方法

在審

• 申請號: 201710645902.4
• 申請日: 2017-08-01
• 公開（公告）號: CN107481229A
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發明（設計）人: 孫遼;王成文;梁力;雷黎明
• 申請（專利權）人: 中國航空工業集團公司西安飛機設計研究所
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 北京航信高科知識產權代理事務所(普通合伙)11526
• 代理人: 高原

技術領域

本發明屬于飛機結構設計和強度分析領域，特別涉及對零件表面的形貌分析領域，具體涉及一種自動識別曲線凹坑的方法。

背景技術

飛機結構經過長時間的服役，由于環境腐蝕等作用，零件表面將產生大量蝕坑，從而導致結構強度特別是疲勞壽命的下降。為了評估腐蝕損傷對結構剩余強度和壽命的影響，需要對零件表面進行形貌分析，截面輪廓線的分析是表面形貌分析的一個重要環節。但是，目前大都通過人工識別曲線的凹坑，不僅處理效率低，而且受主觀影響比較大。

發明內容

本發明的目的在于提供一種自動識別曲線凹坑的方法，克服或減輕現有技術的至少一個上述缺陷。

本發明的目的通過如下技術方案實現：一種自動識別曲線凹坑的方法，包括如下步驟，

步驟一：對結構表面做任意一縱切面，測量得到該縱切面下的凹坑曲線；

步驟二：根據凹坑曲線建立與結構表面對應的直角坐標系，過凹坑曲線最高點做一條與X軸平行的截面線；

步驟三：截面線從最高點以所需步長向Y軸負方向移動，截面線與凹坑曲線求交點，并沿X軸正方向依次判斷各交點處凹坑曲線的斜率；

步驟四：判斷步驟三中某一交點處凹坑曲線1斜率是否不大于0且該點不在已識別出的凹坑內部，是則確定該交點和下一個交點之間為一個凹坑；

步驟五：截面線以所需步長逐層向Y軸負方向移動，對于每一層均重復步驟三和步驟四；

步驟六：截面線移動到凹坑曲線最低處，輸出凹坑數量。

本發明所提供的一種自動識別曲線凹坑的方法的有益效果在于，能夠準確、快速地識別曲線上的凹坑，避免人工識別時效率低、主觀性大的缺點；能實現對曲線的批量分析處理，極大地提高工作效率。

附圖說明

圖1為本發明自動識別曲線凹坑的方法的流程圖；

圖2為本發明自動識別曲線凹坑的方法的示意圖。

附圖標記：

1-凹坑曲線、2-截面線、3-1號凹坑起始點、4-1號凹坑結束點、5-非凹坑交點、(6、14)-2號凹坑內部的交點、7-1號凹坑、8-2號凹坑、9-3號凹坑、10-2號凹坑起始點、11-2號凹坑結束點、12-3號凹坑起始點、13-3號凹坑結束點。

具體實施方式

為使本發明實施的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行更加詳細的描述。在附圖中，自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，旨在用于解釋本發明，而不能理解為對本發明的限制。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

下面結合附圖對本發明的自動識別曲線凹坑的方法做進一步詳細說明。

如圖1和圖2所示，一種自動識別曲線凹坑的方法，通過如下步驟實施：

步驟一：對結構表面做任意一縱切面，測量得到該縱切面下的凹坑曲線1，即圖1方框“曲線y(x)(離散點或函數)”中的內容。

步驟二：根據凹坑曲線1建立與結構表面對應的直角坐標系，過凹坑曲線最高點做一條與X軸平行的截面線2，即圖1方框“與x軸平行的截面線(從曲線最高處開始)”中的內容。

步驟三：截面線2從最高點以所需步長向Y軸負方向移動，截面線2與凹坑曲線1求交點。根據凹坑曲線1與截面線2的交點個數決定下一步操作，如果交點個數n＞1，則沿X軸正方向依次判斷各交點處凹坑曲線1的斜率并將交點從左至右依次標記為P₁、P₂、P₃…P_n，反之如果交點個數n≤1，則將截面線2繼續向Y軸負方向移動，直至與凹坑曲線1相交點n＞1個為止。

步驟四：判斷步驟三中某一交點處凹坑曲線1斜率是否不大于0且該點不在已識別出的凹坑內部，是則確定該交點和下一個交點之間為一個凹坑。

步驟五：截面線2以所需步長逐層向Y軸負方向移動，對于每一層均重復步驟三，再判斷某一交點處凹坑曲線1斜率是否不大于0，并且該點不在上一步識別出的凹坑內部，則判定該交點和下一個交點之間為一個凹坑。

步驟六：截面線2移動到凹坑曲線1最低處，輸出凹坑數量。

下面結合圖2說明如何識別凹坑。