[發明專利]一種快速的QFN芯片引腳圖像獲取與放大方法

在審

• 申請號: 201710645401.6
• 申請日: 2017-08-01
• 公開（公告）號: CN107507130A
• 公開（公告）日: 2017-12-22
• 發明（設計）人: 巢淵;李龑;丁力;李尚榮
• 申請（專利權）人: 江蘇理工學院
• 主分類號: G06T3/40
• 分類號: G06T3/40;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/187;G06T3/60;G06T5/00;G06T5/20;G06T5/30;G06T7/00
• 代理公司: 常州佰業騰飛專利代理事務所(普通合伙)32231
• 代理人: 李帥

1.一種快速的QFN芯片引腳圖像獲取與放大方法，其特征在于：包括以下步驟：

(1)多幅引腳圖像的圖像預處理，具體包括：

(1.1)多幅引腳圖像的圖像濾波：

取以圖像中某像素點為中心的鄰域內所有像素統計排序中值作為該像素的濾波輸出，計算式如下：

g(x,y)＝med{f(x-k,y-l),(k,l∈W)}

其中f與g分別為輸入像素與輸出像素值，W為鄰域窗口；

(1.2)多幅引腳圖像的圖像二值化處理；

使用固定閾值對圖像進行二值化處理，計算式定義如下

g(x,y)=255f(x,y)<Thr0f(x,y)≥Thr]]>

其中固定閾值Thr＝180；

(1.3)多幅引腳圖像的數學形態學處理：

對于引腳圖像的二值化結果，采用尺寸為3×3的矩形結構元素進行閉運算處理，達到填充芯片內部孔洞、連接并平滑芯片邊緣的目的，計算式如下：

A·B=(A⊕B)ΘB]]>

A⊕B={c∈Zn|c=a+b,a∈A,b∈B}=∪b∈B(A)b]]>

AΘB={c∈Zn|c=a-b,a∈A,b∈B}=∪b∈B(A)-b]]>

其中A為待處理的二值圖像，B為結構元素。與AΘB分別表示A被B膨脹與A被B腐蝕，A與B公共點組成的集合記為A∩B，A與B所有點組成的集合記為A∪B，A_b＝{a+b|a∈A}表示集合A關于矢量b的平移；

(2)多幅引腳圖像的連通區域標記與判定：

在對多幅圖像進行形態學處理之后，接著對當前圖像進行連通區域的屬性分析，提取出符合芯片特征的連通區域，并將原輸入圖像中符合條件連通區域中的內容作為單幅芯片圖像輸出；

(3)單幅引腳圖像的圖像預處理，具體包括：

(3.1)單幅引腳圖像的圖像濾波：

對于單幅引腳圖像，使用窗口為3*3的中值濾波，抑制圖像采集系統產生的噪聲，并為下一步圖像二值化提供可靠的輸入；

(3.2)單幅引腳圖像的邊緣檢測：

單幅引腳圖像經過圖像濾波處理后，應用高斯濾波標準差σ＝3的Canny算子進行邊緣檢測，得到的單幅引腳邊緣圖像；

(4)單幅引腳圖像的旋轉校正：

通過對芯片傾斜角度α的計算對單幅引腳圖像進行旋轉校正，并將經過旋轉校正以后的單幅引腳圖像存在的白邊進行去除；

(5)單幅引腳圖像的放大：

利用輸入圖像距離它最近的4×4鄰域內采樣點像素值做雙三次插值，雙三次插值使用采樣點周圍16個點做三次運算，得到更接近高分辨率圖像的放大結果；

(6)當前單幅QFN引腳圖像處理完畢，作為最終輸出的單幅QFN引腳圖像，以供后續高精度圖像分割與缺陷分類識別使用；若當前還有符合條件的未處理的連通區域，則回到步驟(2)處理下一個符合條件的連通區域，否則當前多幅QFN芯片引腳圖像處理完畢，進行下一幅QFN多幅引腳圖像的處理。