[發明專利]一種擴散膜遮瑕性的測試方法

在審

• 申請號: 201710642755.5
• 申請日: 2017-07-31
• 公開（公告）號: CN107271153A
• 公開（公告）日: 2017-10-20
• 發明（設計）人: 賴春桃;周福新;林文峰
• 申請（專利權）人: 信利半導體有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司44102
• 代理人: 鄧義華,廖苑濱

技術領域

本發明涉及背光檢測技術領域，特別是涉及了一種擴散膜遮瑕性的測試方法。

背景技術

背光的薄型化及高亮要求，及無邊框背光的出現會導致背光異物較普通背光增多，另外如果搭配復合膜其霧度膠普通增加低，因此需搭配高霧度的擴散膜。因此各家擴散制造上紛紛推出高遮瑕性的擴散膜，但目前對于擴散膜遮瑕性沒有很好的測試方法，而若擴散膜遮瑕性不足，則會導致如下問題：（1）導光板網點的規律排布，經點亮后因遮瑕性不足導致背光及模組可見規律紋路；（2）背光異物，因遮瑕性不足導致透點，亮點。

因此，需要提供一種測試方法可為擴散膜的開發導入提供標準。

發明內容

為了彌補已有技術的缺陷，本發明提供一種擴散膜遮瑕性的測試方法。

本發明所要解決的技術問題通過以下技術方案予以實現：

一種擴散膜遮瑕性的測試方法，包括以下步驟：

S1.制作霧度卡：在透明基材上絲印若干個矩陣排列的圖案，所述圖案包括若干橫排及若干豎排，各橫排之間的圖案大小不同，各橫排還設有表示該圖案等級的標記；

S2.將上述霧度卡置于平面光源上，所述平面光源在霧度卡的下方照射霧度卡；

S3.將所需測試的擴散膜置于霧度卡上；

S4：觀察擴散膜上所能看到的圖案，根據所能觀察到的最小的圖案對應的標記即為該擴散膜的遮瑕水平。

進一步地，所述透明基材為菲林片。

進一步地，所述圖案為圓點或字符。

進一步地，所述圖案為白色或黑色。

進一步地，所述平面光源是背光源或燈箱。

進一步地，所述步驟S3為：在所需測試的擴散膜上貼附設置增光膜獲得復合膜，將復合膜置于霧度卡上。

本發明具有如下有益效果：

本發明通過觀察擴散膜上所能看到的圖案，根據所能觀察到的最小的圖案對應的標記即可測試擴散膜的遮瑕性，測試方便快速，成本低。

附圖說明

圖1為本發明霧度卡的結構示意圖。

圖中：1、透明基材，2、圖案，3、標記。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本發明進行詳細的說明，實施例僅是本發明的優選實施方式，不是對本發明的限定。

一種擴散膜遮瑕性的測試方法，包括以下步驟：

S1.制作霧度卡：在透明基材上絲印若干個矩陣排列的圖案，所述圖案包括若干橫排及若干豎排，各橫排之間的圖案大小不同，各橫排還設有表示該圖案等級的標記；優選地，在所述透明基材上從上至下各橫排之間的圖案依次減小，而每橫排上的圖案大小相同；優選地，所述圖案為圓點或字符，但不局限于此；所述圖案為白色或黑色，更優選為黑色。更優選地，所述圖案為圓點，矩陣排列的圓點包括11個橫排和11個豎排，在所述透明基材上從上至下各橫排的圓點的半徑分別為：0.30mm、0.20mm、0.10mm、0.08mm、0.07mm、0.06mm、0.05mm、0.04mm、0.03mm、0.02mm、0.01mm，各橫排還設有表示該圖案等級的數字標記，所述透明基材優選為菲林片，其圖案的精準度更好，使用壽命更長。

S2.將上述霧度卡置于平面光源上，所述平面光源在霧度卡的下方照射霧度卡。所述平面光源優選為背光源或燈箱，但不局限于此。

S3.將所需測試的擴散膜置于霧度卡上；或者在所需測試的擴散膜上貼附設置增光膜獲得復合膜，將復合膜置于霧度卡上。

S4：觀察擴散膜上所能看到的圖案，根據所能觀察到的最小的圖案對應的標記即為該擴散膜的遮瑕水平。

需要說明的是，該測試方法同樣適用于具有遮瑕功能的增光膜和偏光片。

以上所述實施例僅表達了本發明的實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本發明專利范圍的限制，但凡采用等同替換或等效變換的形式所獲得的技術方案，均應落在本發明的保護范圍之內。