[發明專利]一種Mark點視覺識別方法

在審

• 申請號: 201710642181.1
• 申請日: 2017-07-31
• 公開（公告）號: CN107578431A
• 公開（公告）日: 2018-01-12
• 發明（設計）人: 彭剛;林斌;熊超;夏成林
• 申請（專利權）人: 深圳市海思科自動化技術有限公司
• 主分類號: G06T7/33
• 分類號: G06T7/33;G06T7/73;G06T7/60
• 代理公司: 廣州市南鋒專利事務所有限公司44228
• 代理人: 鄭學偉,葉利軍

1.一種Mark點視覺識別方法，其特征在于，所述方法應用于印制電路板上Mark點識別定位，所述方法包括：

采集疑似目標的圖像，并生成疑似目標結果集，所述疑似目標與所述Mark點的幾何特征相同；

根據所述Mark點的標準模板分別計算所述疑似目標結果集中每個疑似目標的縮放參數和旋轉參數；

利用所述縮放參數和旋轉參數校正所述標準模板，獲得與所述每個疑似目標一一對應的校正模板；

將所述每個疑似目標分別與所述校正模板一一對應進行匹配，并分別記錄匹配值得到匹配值集合；

確定所述匹配值集合中最佳匹配值對應的疑似目標為所述Mark點，所述最佳匹配值為屬于最佳匹配值范圍內的匹配值。

2.根據權利要求1所述的Mark點視覺識別方法，其特征在于，所述Mark點的幾何特征包括：第一特征、第二特征以及第三特征，所述第一特征在所述第二特征內部，所述第二特征在所述第三特征內部，且所述第一特征、第二特征以及第三特征的中心相同；

所述第一特征為實心圓，所述第二特征為N邊形輪廓，所述第三特征為圓形輪廓，所述N為大于或等于3的正整數。

3.根據權利要求2所述的Mark點視覺識別方法，其特征在于，所述采集疑似目標的圖像包括：

依次根據所述Mark點的所述第一特征、第二特征以及第三特征搜索所述疑似目標，并采集所述疑似目標的圖像。

4.根據權利要求3所述的Mark點視覺識別方法，其特征在于，所述采集疑似目標的圖像包括：

將所述疑似目標的幾何特征與所述第一特征、第二特征以及第三特征依次進行匹配，并在所述疑似目標的幾何特征與所述第一特征、第二特征以及第三特征依次匹配時確定采集所述疑似目標的圖像。

5.根據權利要求4所述的Mark點視覺識別方法，其特征在于，若所述疑似目標的幾何特征與所述第一特征匹配，與所述第二特征不匹配，則不將所述疑似目標的幾何特征與所述第三特征進行匹配，且確定所述疑似目標非所述Mark點；

若所述疑似目標的幾何特征與所述第一特征不匹配，則不將所述疑似目標的幾何特征與所述第二特征和第三特征進行匹配，且確定所述疑似目標非所述Mark點。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的Mark點視覺識別方法，其特征在于，所述疑似目標的幾何特征包括：第一疑似特征、第二疑似特征以及第三疑似特征，所述第一疑似特征在所述第二疑似特征的內部，所述第二疑似特征在所述第三疑似特征內部，且所述第一疑似特征、第二疑似特征以及第三疑似特征的中心相同，所述第一疑似特征為類圓形實心形狀，所述第二疑似特征為多邊框形形狀，所述第三疑似特征為類圓形狀。

7.根據權利要求6所述的Mark點視覺識別方法，其特征在于，所述依次確定所述疑似目標的幾何特征與所述第一特征、第二特征以及第三特征匹配包括：

繞所述第一疑似特征的中心旋轉，每間隔2π/N計算一次所述第一疑似特征的邊緣至中心的距離，若M次計算得到的結果在誤差范圍內相同，則確定所述第一疑似特征為實心圓形，所述第一疑似特征與所述第一特征匹配，所述M與所述N數值相等；

繞所述第二疑似特征的中心旋轉，每間隔2π/N計算一次所述第二疑似特征的邊緣至中心的距離，若所述M次計算得到的結果在所述誤差范圍內相同，則確定所述第二疑似特征為N邊形，所述第二疑似特征與所述第二特征匹配；

繞所述第三疑似特征的中心旋轉，每間隔2π/N計算一次所述第三疑似特征的邊緣至中心的距離，若所述M次計算得到的結果在所述誤差范圍內相同，則確定所述第三疑似特征為圓形，所述第三疑似特征與所述第三特征匹配。