[發明專利]一種小區質量計算方法、參數配置方法及相關設備

有效

• 申請號: 201710641329.X
• 申請日: 2017-07-31
• 公開（公告）號: CN109327852B
• 公開（公告）日: 2021-01-15
• 發明（設計）人: 謝芳;陳卓;劉光毅
• 申請（專利權）人: 中國移動通信有限公司研究院;中國移動通信集團公司
• 主分類號: H04W24/08
• 分類號: H04W24/08;H04W24/10;H04W36/30
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

1.一種小區質量計算方法，用于移動通信終端，其特征在于，包括：

獲取目標小區的工作配置參數，其中，所述目標小區的工作配置參數包括目標小區的工作頻點和所述目標小區配置的波束數量中的至少一個；

根據所述目標小區工作配置參數與用于小區質量計算的波束數量的映射關系，獲取波束數量N；

選擇不超過N個波束進行目標小區的小區質量計算，其中，所述目標小區為服務小區或相鄰小區，所述波束數量N與所述目標小區的工作頻點和所述目標小區配置的波束數量中的至少一個相關；

所述映射關系與小區質量計算方式相關，通過函數進行記錄，所述函數中包括目標小區的工作配置參數和工作配置參數的相關參數中的至少一個，其中波束數量N通過小區質量計算公式Ni＝floor(Xi*log₂Nb)+Yi，或Ni＝ceil(Xi*log₂Nb)+Yi，或Ni＝floor(Xi*log₂Nb+Yi)，或Ni＝ceil(Xi*log₂Nb+Yi)求出，Nb為目標小區配置的波束數量，Xi和Yi為針對工作頻點Fi的調整系數，Xi是小數或整數，Yi是整數，Ni為針對工作頻點Fi的波束數量。

2.根據權利要求1所述的小區質量計算方法，其特征在于，所述映射關系記錄每一個工作頻點的典型波束數量對應的基準波束數量；

所述根據所述目標小區工作配置參數與用于小區質量計算的波束數量的映射關系，獲取波束數量N，具體包括：

確定所述目標小區配置的波束數量，以及所述目標小區的工作頻點對應的典型波束數量；

根據所述目標小區配置的波束數量，以及所述目標小區的工作頻點對應的典型波束數量，確定波束數量調整值；

確定用于計算小區質量的最大波束數量為所述波束數量調整值和基準波束數量的和值，其中，所述基準波束數量與所述目標小區的工作頻點以及典型波束數量對應。

3.根據權利要求1至權利要求2中任一項所述的小區質量計算方法，其特征在于，所述獲取目標小區的工作配置參數，具體包括：

通過掃描、系統信息或測量配置信息獲取所述目標小區的工作頻點；和/或

通過系統消息獲取或推算所述目標小區配置的波束數量。

4.根據權利要求1所述的小區質量計算方法，其特征在于，在所述選擇不超過N個波束進行目標小區的小區質量計算之前，還包括：

接收網絡設備下發的所述N。

5.根據權利要求1所述的小區質量計算方法，其特征在于，在所述選擇不超過N個波束進行目標小區的小區質量計算之后，還包括：

上報質量超過網絡配置的波束質量門限的波束數量M；或

上報質量超過網絡配置的波束質量門限的波束數量M與所述N的差值。

6.一種參數配置方法，用于網絡設備，其特征在于，包括：

確定用于進行目標小區的小區質量計算的波束數量N，其中，所述目標小區為服務小區或相鄰小區，所述波束數量N與所述目標小區的工作頻點和所述目標小區配置的波束數量中的至少一個相關；包括：獲取所述目標小區的工作配置參數，其中，所述目標小區的工作配置參數包括目標小區的工作頻點和所述目標小區配置的波束數量中的至少一個；根據所述目標小區工作配置參數與用于小區質量計算的波束數量的映射關系，確定N；

下發所述波束數量N；

所述映射關系與小區質量計算方式相關，通過函數進行記錄，所述函數中包括目標小區的工作配置參數和工作配置參數的相關參數中的至少一個，其中波束數量N通過小區質量計算公式Ni＝floor(Xi*log₂Nb)+Yi，或Ni＝ceil(Xi*log₂Nb)+Yi，或Ni＝floor(Xi*log₂Nb+Yi)，或Ni＝ceil(Xi*log₂Nb+Yi)求出，Nb為目標小區配置的波束數量，Xi和Yi為針對工作頻點Fi的調整系數，Xi是小數或整數，Yi是整數，Ni為針對工作頻點Fi的波束數量。