[發明專利]一種基于稀土玻璃的費爾德常數測量系統的測量方法

在審

• 申請號: 201710636166.6
• 申請日: 2017-07-31
• 公開（公告）號: CN109323991A
• 公開（公告）日: 2019-02-12
• 發明（設計）人: 盧平
• 申請（專利權）人: 蘇州潤桐專利運營有限公司
• 主分類號: G01N21/23
• 分類號: G01N21/23
• 代理公司: 蘇州潤桐嘉業知識產權代理有限公司 32261
• 代理人: 趙麗麗

本發明涉及一種基于稀土玻璃費爾德常數測量系統的測量方法，主要解決現有技術中存在的測量靈敏度低、測量準確度低的技術問題，本發明通過采用所述系統包括線偏振光產生器，待測稀土玻璃，雙折射晶體，起偏器，邁克爾遜干涉儀，與邁克爾遜干涉儀連接的會聚透鏡，與會聚透鏡連接的數據采集卡，與數據采集卡連接的上位機，邁克爾遜干涉儀受控于上位機；待測稀土玻璃兩側分別設有可變間距電磁鐵的兩端極，可變間距電磁鐵受控于直流電源，可變間距電磁鐵兩端極間設有磁場強度測量裝置；上位機設有存儲介質，所述存儲介質存儲有干涉儀控制程序及稀土玻璃費爾德系數計算程序的解決了該問題，可用于磁光材料費爾德常數測量中。

技術領域

本發明涉及磁光材料費爾德常數測量領域，特別涉及到一種基于稀土玻璃費爾德常數測量系統的測量方法。

背景技術

稀土摻雜玻璃以其獨特的磁光特性在激光陀螺，光纖電流互感器等方面有重要的應用。而在這些應用中，稀土摻雜玻璃材料的費爾德常數是影響其性能的重要參數，該參數直接決定了傳感器的測量靈敏度。

目前，現有的測量磁光材料的費爾德常數的方法有檢偏法，雙光路差分法和光干涉等方法。本發明提出一種稀土玻璃費爾德常數測量系統及測量方法。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是現有技術中存在的測量靈敏度低、準確度低的問題。提供一種稀土玻璃費爾德常數測量系統及測量方法，該稀土玻璃費爾德常數測量系統及測量方法具有測量靈敏度高、測量方便、準確度高的特點。

為解決上述技術問題，采用的技術方案如下：

一種稀土玻璃費爾德常數測量系統，所述系統包括線偏振光產生器，位于線偏振光產生器平行位置對應設置的待測稀土玻璃104，位于待測稀土玻璃104 平行位置對應設置的雙折射晶體105，位于雙折射晶體105平行位置對應設置的檢偏器106，位于檢偏器106對應平行位置對應設置的邁克爾遜干涉儀，與邁克爾遜干涉儀連接的會聚透鏡201，與會聚透鏡201連接的光電探測器202，與光電探測器連接的數據采集卡204，與數據采集卡204連接的上位機，所述邁克爾遜干涉儀還通過數據采集卡204受控于上位機；所述待測稀土玻璃104兩側分別設有可變間距電磁鐵206的兩端極，所述可變間距電磁鐵206受控于直流電源207，所述可變間距電磁鐵206兩端極間還設有磁場強度測量裝置；所述邁克爾遜干涉儀由分束器107，于分束器107垂直兩軸設置的第一反射鏡108及第二反射鏡109組成，所述第二反射鏡109下設有電動平移臺203，所述電動平移臺203與數據采集卡204連接；所述上位機設有存儲介質，所述存儲介質存儲有干涉儀控制程序及稀土玻璃費爾德系數計算程序；

所述干涉儀控制程序配置為：控制電動平移臺203使第二反射鏡109作來回掃描，所述稀土博爾德系數計算程序配置為：對所述數據采集卡204數據進行多次平均和小波濾波，通過對數運算計算得出稀土玻璃的費爾德常數V。

本發明的工作原理：通過數據采集卡204驅動電動平移臺203實現邁克爾遜干涉儀的掃描，同時采集干涉儀的輸出信號，傳送給上位機，上位機對數據進行多次平均和小波濾波，再通過對數運算得到稀土玻璃的費爾德常數。

上述技術方案中，為優化，進一步地，所述磁場強度測量裝置包括位于可變間距電磁鐵206兩端極間的磁場測量探頭208，所述磁場測量探頭208連接有高斯計209。

進一步地，所述線偏振光產生器包括光源，與光源對應設置的擴束準直透鏡102，與擴束準直透鏡102對應設置的起偏器103。

進一步地，所述光源為寬譜光源101。

進一步地，所述直流電源207為受控于上位機，大小連續自動可調的直流電源。

進一步地，所述可變間距電磁鐵206的兩端極分別包括至少一個銅線圈。

本發明還提供一種基于稀土玻璃費爾德常數測量系統的測量方法，所述測量方法包括：