[發明專利]觸控檢測方法、電路、存儲介質、處理器和終端

有效

• 申請號: 201710633107.3
• 申請日: 2017-07-28
• 公開（公告）號: CN107450774B
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 吳昭呈;司廣法
• 申請（專利權）人: 北京集創北方科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 趙囡囡;褚敏

本發明公開了一種觸控檢測方法、電路、存儲介質、處理器和終端。該方法包括：在觸控測試模式下，通過調整第一寄存器的取值和第二寄存器的取值，獲取與觸控掃描信號對應的多個信噪比；從多個信噪比中選取待查找的信噪比，確定第一寄存器與第二寄存器的取值組合。本發明解決了在現有的觸控檢測過程中因無法靈活調整非重疊時間，導致無法有效地提高掃描信號信噪比的技術問題。

技術領域

本發明涉及觸控檢測領域，具體而言，涉及一種觸控檢測方法、電路、存儲介質、處理器和終端。

背景技術

觸摸屏興起于智能手機、并迅速占領平板電腦領域。隨著Windows 8系統的發布，觸摸屏還在向超級本、一體化機等電子設備邁進。目前，伴隨著上述智能終端的廣泛應用，大量電子設備均采用觸摸屏操作來取代原始的物理鍵盤操作，以提升用戶的操作體驗和視覺體驗。然而，在方便用戶使用的同時，觸控檢測的準確度是不可回避的技術難題。

圖1是根據相關技術所采用的觸控檢測過程的部分電路結構示意圖。如圖1所示，左側展示的是觸摸屏像素子單元，右側展示的則是集成觸控驅動(Integrated Touch-and-Driver Chip，簡稱為ITD)芯片中掃描信號處理電路，其中，觸控(Touch)掃描信號從Tx端口輸入，對應的掃描結果從Rx輸出。為了確保Touch掃描信號被電容C_touch準確接收，需要在薄膜場效應晶體管(Thin Film Transistor，簡稱為TFT)的柵極和源極上分別疊加一個與Touch掃描同步的電壓信號，以抵消掃描信號輸入節點的TFT寄生電容(包括：C_gd和C_sd)和面板(panel)電容(即C_panel)，進而提高掃描信號的信噪比。此外，源極上的同步信號可以直接利用Tx上的掃描信號，柵極上的同步信號需要在電荷泵的配合之下才能產生。

圖2是根據相關技術的電荷泵的電路結構示意圖。圖3是根據相關技術的通過電荷泵獲取與Touch掃描同步的TFT柵極驅動信號V_G的脈沖信號示意圖。如圖2和圖3所示，在掃描信號Tx的基礎之上，利用簡單的延時電路獲取與Tx之間具有一定非重疊(non-overlap)的控制信號CLK_CH和CLK_PM，來控制電荷泵交替處于充電(charging)階段(即，在CLK_CH和CLK_PM配合下SWN開關閉合、SWP開關斷開)和放電(pumping)階段(即，在CLK_CH和CLK_PM配合下SWN開關斷開、SWP開關閉合)，從而完成TFT柵極控制信號V_G與掃描信號Tx的同步過程，進而減小掃描信號輸入節點的寄生電容。然而，由于上述non-overlap時間不具備靈活地可調性，無法實現自動可調功能，因此對掃描信號信噪比的提高作用有限。

針對上述的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

本發明實施例提供了一種觸控檢測方法、電路、存儲介質、處理器和終端，以至少解決在現有的觸控檢測過程中因無法靈活調整非重疊時間，導致無法有效地提高掃描信號信噪比的技術問題。

根據本發明其中一實施例，提供了一種觸控檢測方法，包括：

在觸控測試模式下，通過調整第一寄存器的取值和第二寄存器的取值，獲取與觸控掃描信號對應的多個信噪比，其中，第一寄存器的取值用于調整電荷泵的輸入回路控制信號的下降沿和/或電荷泵的輸出回路控制信號的上升沿相對于同一個放電階段內的觸控掃描信號的下降沿的時間間隔，第二寄存器的取值用于調整在同一個放電階段內輸入回路控制信號保持低電平和/或輸出回路控制信號保持高電平的時長；從多個信噪比中選取待查找的信噪比，確定第一寄存器與第二寄存器的取值組合。