[發明專利]一種整組耗材單體維修更換工藝

在審

• 申請號: 201710632618.3
• 申請日: 2017-07-28
• 公開（公告）號: CN109307939A
• 公開（公告）日: 2019-02-05
• 發明（設計）人: 趙圣銘
• 申請（專利權）人: 鹽城三鼎電子科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京科家知識產權代理事務所(普通合伙) 11427
• 代理人: 陳娟

本發明公開了一種整組耗材單體維修更換工藝，包括以下步驟：S1：檢測整組耗材，對其不良現象進行判斷，確定不良單體范圍，然后依次對范圍內的單體進行檢測，確定不良單體；S2：采用超聲波清洗整組耗材，然后在40?45℃下烘干整組耗材；S3：將整組耗材放置于模具上，然后進行除塵和除靜電處理；S4：根據組裝順序反向拆卸整組耗材，直至拆卸至不良單體，對不良單體進行檢測，然后對不良單體進行維修或者更換，并且對其他拆卸下來的單體進行清洗烘干。本發明能夠保障檢測精確性，且能夠保障重新組裝的整組耗材的質量，更能夠降低材料損耗，節約生產成本，能夠明確不良現象產生的原因，避免不良現象的再次出現，工藝簡單，使用方便。

技術領域

本發明涉及背光源技術領域，尤其涉及一種整組耗材單體維修更換工藝。

背景技術

液晶顯示技術是目前應用最普遍的顯示技術之一，并將在一段時期內占據著平板顯示領域的主流技術地位；液晶分子本身并不發光，它顯示的圖像或字符是其對背光源發出的光線進行調制的結果，背光源是決定液晶顯示性能的重要組件，背光源的亮度直接決定了LCD表面的顯示亮度。

液晶背光源體系主要由光源、導光板、各類光學膜片及結構件組成，其發展趨向于尺寸的多元化及輕便化，并對發光亮度要求很高。

據了解，目前液晶背光源體系在出現不良現象時，大多是對其整組耗材進行更換，雖然節省時間，但是，較為浪費資源，而且不明確引起不良現象的原因，容易再次出現相同的不良現象，因此，我們提出了一種整組耗材單體維修更換工藝用于解決上述問題。

發明內容

基于背景技術存在的技術問題，本發明提出了一種整組耗材單體維修更換工藝。

本發明提出的一種整組耗材單體維修更換工藝，包括以下步驟：

S1：檢測整組耗材，對其不良現象進行判斷，確定不良單體范圍，然后依次對范圍內的單體進行檢測，確定不良單體；

S2：采用超聲波清洗整組耗材，然后在40-45℃下烘干整組耗材；

S3：將整組耗材放置于模具上，然后進行除塵和除靜電處理；

S4：根據組裝順序反向拆卸整組耗材，直至拆卸至不良單體，對不良單體進行檢測，然后對不良單體進行維修或者更換，并且對其他拆卸下來的單體進行清洗烘干后，重新組裝整組耗材，完成整組耗材的單體維修更換。

優選地，所述S2中，采用超聲波清洗整組耗材，然后在41-44℃下烘干整組耗材。

優選地，所述S2中，采用超聲波清洗整組耗材，然后在42-43℃下烘干整組耗材。

優選地，所述S4中，根據組裝順序反向拆卸整組耗材，直至拆卸至不良單體，對不良單體進行檢測，確定整組耗材的不良現象是否為不良單體引起。

優選地，所述S4中，整組耗材的不良現象由不良單體引起則對不良單體進行維修或者更換，整組耗材的不良現象由其他單體引起則依次對其他單體進行檢測。

優選地,所述S4中，采用超聲波對其他拆卸下來的單體進行清洗，然后在40-45℃下進行烘干后，重新組裝整組耗材，完成整組耗材的單體維修更換。

優選地，所述S4中，采用超聲波對其他拆卸下來的單體進行清洗，然后在41-44℃下進行烘干后，重新組裝整組耗材，完成整組耗材的單體維修更換。