[發(fā)明專利]一種新型充電器老化測(cè)試冶具在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710632276.5 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107367651A | 公開(公告)日: | 2017-11-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 汪豐 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東莞市科立電子設(shè)備有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司: | 東莞市神州眾達(dá)專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙)44251 | 代理人: | 劉漢民 |
| 地址: | 523007 廣東省*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 新型 充電器 老化 測(cè)試 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電源產(chǎn)品自動(dòng)生產(chǎn)線技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種新型充電器老化測(cè)試冶具。
背景技術(shù)
隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展和進(jìn)步,很多行業(yè)都取得了突飛猛進(jìn)的發(fā)展,特別是電子產(chǎn)品充電器行業(yè),越來(lái)越多的產(chǎn)品采用了新的材料或者新的工藝,但是為了達(dá)到滿意的合格率,幾乎所有產(chǎn)品在出廠前都要先經(jīng)過老化測(cè)試,來(lái)確定產(chǎn)品性能的穩(wěn)定性,從而保證產(chǎn)品出廠的合格率,或在產(chǎn)品出現(xiàn)故障需返廠維修時(shí),也需運(yùn)用老化測(cè)試技術(shù)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)。
充電器作為一種常用電器,其老化試驗(yàn)是其質(zhì)量檢測(cè)中的重要一環(huán)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在提供一種提供了能夠?qū)崿F(xiàn)旋轉(zhuǎn)和拔插的插座機(jī)構(gòu)的新型充電器老化測(cè)試冶具。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種新型充電器老化測(cè)試冶具,包括冶具主體,所述冶具主體包括冶具上蓋和冶具下蓋,冶具上蓋蓋在冶具下蓋上,冶具上蓋的頂部設(shè)有兩個(gè)對(duì)稱設(shè)置的旋轉(zhuǎn)插座機(jī)構(gòu),旋轉(zhuǎn)插座機(jī)構(gòu)包括插座上蓋、旋轉(zhuǎn)插座和插座下蓋,旋轉(zhuǎn)插座設(shè)有數(shù)個(gè),插座上蓋上設(shè)有與旋轉(zhuǎn)插座配合的上插座孔,插座下蓋上設(shè)有與旋轉(zhuǎn)插座配合的下插座孔,下插座孔的內(nèi)周設(shè)有數(shù)個(gè)卡槽,旋轉(zhuǎn)插座的下部外周設(shè)有數(shù)個(gè)卡片,卡片的底部外側(cè)設(shè)有與卡槽配合的卡點(diǎn);旋轉(zhuǎn)插座的中部外周設(shè)有弧形滑塊,弧形滑塊位于上插座孔下部設(shè)置的滑槽中。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步方案:所述冶具上蓋上設(shè)有與旋轉(zhuǎn)插座機(jī)構(gòu)配合的安裝槽,安裝槽內(nèi)開有方形口。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步方案:所述冶具上蓋的中部設(shè)有自動(dòng)脫P(yáng)IN機(jī)構(gòu),自動(dòng)脫P(yáng)IN機(jī)構(gòu)連接冶具上蓋與冶具下蓋之間的PCB板上的DC端子,自動(dòng)脫P(yáng)IN機(jī)構(gòu)包括自動(dòng)脫P(yáng)IN安裝板,自動(dòng)脫P(yáng)IN安裝板底部設(shè)有彈簧柱,彈簧柱上套有彈簧。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步方案:所述卡片只有上端連接旋轉(zhuǎn)插座。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步方案:所述冶具主體的一端設(shè)有把手。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步方案:所述冶具上蓋的一端設(shè)置檔板。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:該新型充電器老化測(cè)試冶具提供了能夠?qū)崿F(xiàn)旋轉(zhuǎn)和拔插的插座機(jī)構(gòu),并且具有自動(dòng)脫DC、PIN功能,值得大力推廣。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明的分解示意圖;
圖2為本發(fā)明的旋轉(zhuǎn)插座機(jī)構(gòu)的爆炸圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
請(qǐng)參閱圖1-2,本發(fā)明實(shí)施例中,一種新型充電器老化測(cè)試冶具,包括冶具主體1,所述冶具主體1包括冶具上蓋2和冶具下蓋3,冶具上蓋2蓋在冶具下蓋3上,冶具上蓋2的頂部設(shè)有兩個(gè)對(duì)稱設(shè)置的旋轉(zhuǎn)插座機(jī)構(gòu)4,旋轉(zhuǎn)插座機(jī)構(gòu)4包括插座上蓋5、旋轉(zhuǎn)插座6和插座下蓋7,旋轉(zhuǎn)插座6設(shè)有數(shù)個(gè),插座上蓋5上設(shè)有與旋轉(zhuǎn)插座6配合的上插座孔8,插座下蓋7上設(shè)有與旋轉(zhuǎn)插座6配合的下插座孔9,下插座孔9的內(nèi)周設(shè)有數(shù)個(gè)卡槽,旋轉(zhuǎn)插座6的下部外周設(shè)有數(shù)個(gè)卡片10,卡片10的底部外側(cè)設(shè)有與卡槽配合的卡點(diǎn);
旋轉(zhuǎn)插座6的中部外周設(shè)有弧形滑塊11,弧形滑塊11位于上插座孔8下部設(shè)置的滑槽中。其中弧形滑塊11底面接觸插座下蓋7的頂面。
冶具上蓋2上設(shè)有與旋轉(zhuǎn)插座機(jī)構(gòu)4配合的安裝槽,安裝槽內(nèi)開有方形口12。
冶具上蓋2的中部設(shè)有自動(dòng)脫P(yáng)IN機(jī)構(gòu)13,自動(dòng)脫P(yáng)IN機(jī)構(gòu)13連接冶具上蓋2與冶具下蓋3之間的PCB板上的DC端子。能夠完成自動(dòng)脫DC、PIN。具體結(jié)構(gòu)為自動(dòng)脫P(yáng)IN機(jī)構(gòu)13包括自動(dòng)脫P(yáng)IN安裝板,自動(dòng)脫P(yáng)IN安裝板底部設(shè)有彈簧柱,彈簧柱上套有彈簧,冶具上下蓋脫離時(shí),彈簧彈起自動(dòng)使DC、PI脫離PCB板。
上述,卡片10只有上端連接旋轉(zhuǎn)插座6。
上述,冶具主體1的一端設(shè)有把手14。便于把持。
上述,冶具上蓋2的一端設(shè)置檔板。
上述旋轉(zhuǎn)插座6為AC插座。
本發(fā)明的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)及其工作原理:旋轉(zhuǎn)插座6設(shè)置于插座上下蓋的插座孔內(nèi),圓形的插座孔為旋轉(zhuǎn)插座6提供旋轉(zhuǎn)的基礎(chǔ),同時(shí)卡片10配合卡槽對(duì)旋轉(zhuǎn)插座6實(shí)現(xiàn)限位,旋轉(zhuǎn)時(shí)由于卡片10的彈力作用錯(cuò)開卡槽保證正常旋轉(zhuǎn)。
另外由于旋轉(zhuǎn)插座采用卡片與下插座孔內(nèi)的卡槽配合固定,其上下位的限位由插座上下蓋進(jìn)行限位,插座上蓋脫離后旋轉(zhuǎn)插座能夠進(jìn)行拔插。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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