[發(fā)明專利]一種檢測方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710630464.4
• 申請日: 2017-07-28
• 公開（公告）號: CN107450973B
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發(fā)明（設計）人: 崔超濤;姚東
• 申請（專利權）人: 成都優(yōu)博創(chuàng)通信技術股份有限公司
• 主分類號: G06F9/48
• 分類號: G06F9/48;G01D21/02
• 代理公司: 北京超凡志成知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 王寧寧

本發(fā)明涉及測試技術領域，具體涉及一種檢測方法及裝置，應用于包括終端設備和檢測設備的檢測系統(tǒng)，檢測設備連接有多個待測設備。方法包括：針對與檢測設備連接的每個待測設備分別創(chuàng)建測試線程，終端設備執(zhí)行各測試線程時，先執(zhí)行的測試線程獲取檢測設備的執(zhí)行權，并對檢測設備上鎖，以使該測試線程控制檢測設備運行以檢測與該測試線程對應的待測設備，在與測試線程對應的待測設備檢測完成后，對檢測設備進行解鎖，以使下一先執(zhí)行的測試線程獲取檢測設備的執(zhí)行權，直至完成對各待測設備的檢測。通過上述設置有效確保檢測設備可以被使用，并有效提高了設備資源的利用率及檢測效率，縮短了程序響應時間。

技術領域

本發(fā)明涉及測試技術領域，具體而言，涉及一種檢測方法及裝置。

背景技術

現(xiàn)有技術中，在測試過程中需要一次對多個待測對象進行測試測量，通常一個待測對象會占用一套測量設備，以使各套測量工具分別對各待測對象進行測量，因此，在對多個待測對象進行測試過程中，會同時占用多套測量設備，進而造成設備的資源利用率低、測試效率低下的問題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種檢測方法及裝置，以解決上述問題。

為了達到上述目的，本發(fā)明是這樣實現(xiàn)的：

一種檢測方法，應用于包括終端設備和檢測設備的檢測系統(tǒng)，所述終端設備與所述檢測設備連接，所述檢測設備連接有多個待測設備，所述方法包括：

針對與所述檢測設備連接的每個待測設備分別創(chuàng)建測試線程，以使每個待測設備對應一個測試線程；

所述終端設備執(zhí)行各所述測試線程時，先執(zhí)行的測試線程獲取所述檢測設備的執(zhí)行權，并對所述檢測設備上鎖，以使該測試線程控制所述檢測設備運行以檢測與該測試線程對應的待測設備；

在與所述測試線程對應的待測設備檢測完成后，對所述檢測設備進行解鎖，以使下一先執(zhí)行的測試線程獲取所述檢測設備的執(zhí)行權，直至完成對各所述待測設備的檢測。

在發(fā)明較佳實施例中，在上述檢測方法中，針對與所述檢測設備連接的每個待測設備分別創(chuàng)建測試線程之后，所述方法還包括：

按照預設規(guī)則對各所述測試線程進行優(yōu)先級排序。

在發(fā)明較佳實施例中，在上述檢測方法中，針對與所述檢測設備連接的每個待測設備分別創(chuàng)建測試線程之后，所述方法還包括：

獲取所述終端設備執(zhí)行各所述測試線程的時間片并排序。

在發(fā)明較佳實施例中，在上述檢測方法中，針對與所述檢測設備連接的每個待測設備分別創(chuàng)建測試線程之前，所述方法還包括：

對所述檢測系統(tǒng)進行初始化以創(chuàng)建主線程；

根據(jù)所述檢測設備連接的待測設備創(chuàng)建測試線程的步驟包括：

在所述主線程中根據(jù)所述檢測設備連接的待測設備創(chuàng)建測試線程。

在發(fā)明較佳實施例中，在上述檢測方法中，所述終端設備為計算機，所述檢測設備包括示波器和光譜儀，所述計算機與所述示波器和光譜儀分別連接，各所述待測設備與所述示波器和光譜儀分別連接。

本發(fā)明還提供一種檢測裝置，應用于包括終端設備和檢測設備的檢測系統(tǒng)，所述終端設備與所述檢測設備連接，所述檢測設備連接有多個待測設備，所述裝置包括：

線程創(chuàng)建模塊：用于針對與所述檢測設備連接的每個待測設備分別創(chuàng)建測試線程，以使每個待測設備對應一個測試線程；

第一檢測模塊：用于在所述終端設備執(zhí)行各所述測試線程時，先執(zhí)行的測試線程獲取所述檢測設備的執(zhí)行權，并對所述檢測設備上鎖，以使該測試線程控制所述檢測設備運行以檢測與該測試線程對應的待測設備；