[發明專利]一種用于缺陷檢測的AOI管理系統及管理方法

有效

• 申請號: 201710618222.3
• 申請日: 2017-07-26
• 公開（公告）號: CN107389689B
• 公開（公告）日: 2020-05-22
• 發明（設計）人: 劉海;鄧標華;陳凱
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G06T7/00
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 方可

本發明公開了一種用于缺陷檢測的AOI管理系統及管理方法，其管理系統包括AOI缺陷檢測工站、線體圖像存儲庫、線體服務器和遠程AOI服務器；用戶可根據需求在每條生產線上配置多個AOI缺陷檢測工站和一個線體圖像存儲庫；一個線體服務器可與多條生產線上的AOI缺陷檢測工站和線體圖像存儲庫相互通訊；一個遠程AOI服務器可與多個生產廠區內的線體服務器相互通訊；線體服務器和遠程AOI服務器均可在不影響產線正常生產的情況下對調整后的圖像處理算法進行驗證；遠程AOI服務器可以同步更新各AOI缺陷檢測工站的AOI軟件版本，遠程監控各AOI缺陷檢測工站的運行狀態。本發明提供的AOI管理系統及管理方法可以最大程度地避免出現產品缺陷過檢漏檢的情況，在不影響產線生產的前提下保持良好的產品缺陷檢出率。

技術領域

本發明屬于光學自動化缺陷檢測技術領域，更具體地，涉及一種用于缺陷檢測的AOI管理系統及管理方法。

背景技術

AOI(Automatic Optic Inspection)即自動光學檢測，是指采用光學成像技術(通常使用相機和鏡頭)獲取被測目標的圖像，再經過一定的圖像處理算法，從拍攝的圖像中獲取目標的尺寸、位置、方向、光譜特征、結構及缺陷等信息，從而可以執行產品的檢驗、裝配線上的零部件鑒定及定位、過程監控中的測量、過程控制反饋、分類與分組等任務。目前，AOI在半導體、工業機器人、汽車零件制造、印刷、鋼鐵、醫療與醫藥等諸多行業都有著廣泛的應用。

用于缺陷檢測的AOI系統主要針對產品的缺陷進行檢測，然后按照行業標準進行分類和判等。但是目前廣泛使用的缺陷檢測AOI系統仍存在以下不足：

1、對于不同型號的產品，同一產品的不同缺陷，有不同的圖像處理算法。針對生產過程中出現產品缺陷漏檢和過檢的情況，往往需要調整處理算法，而調整后的圖像處理算法是否合適，目前只能在后續的生產過程中進行驗證和再調整，處理效率低下，同時會影響產品的正常生產，降低生產效率；

2、對于一些過檢漏檢的產品缺陷，往往需要專門的研發人員根據原始產品圖像來分析調整圖像處理算法，而他們從生產現場得到的圖像常常出現缺陷位置標識不明確，缺陷類型不明的情況，對分析缺陷造成很大影響，進一步影響了處理效率；

3、對于導入缺陷檢測AOI系統的生產線，由于生產線和缺陷檢測工站數量較多，對AOI系統版本進行迭代更新時，只能由人工分別對每臺設備進行更新，耗費人力且非常影響產線的生產效率。

發明內容

針對現有技術的以上缺陷或改進需求，本發明提供了一種用于缺陷檢測的AOI管理系統及管理方法，可以同步地更新所有AOI系統的軟件版本；可以實時地獲取線體端保存的產品圖像，對調整后的圖像處理算法進行快速驗證和再調整，且不影響產線的正常生產；可以遠程監控AOI系統的運行狀態和產線的生產狀況，及時發現異常情況。

為實現上述目的，按照本發明的一個方面，提供了一種用于缺陷檢測的AOI管理系統，包括一個AOI服務器，以及設置在至少一條生產線上的與所述AOI服務器相互通訊的線體圖像存儲庫和至少一個AOI缺陷檢測工站；

AOI缺陷檢測工站用于采集產品圖像，根據采集的產品圖像對產品進行缺陷檢測；

線體圖像存儲庫與其所在生產線上的AOI缺陷檢測工站相連，用于存儲各AOI缺陷檢測工站采集的產品圖像；

AOI服務器用于調整圖像處理算法對AOI缺陷檢測工站過檢或漏檢的產品進行缺陷檢測，并將無過檢和漏檢時的圖像處理算法更新至AOI缺陷檢測工站。

優選的，上述AOI管理系統，其AOI服務器包括分別設置在多個生產廠區內的線體服務器，一個線體服務器可與其所在生產廠區內的至少一條生產線上的線體圖像存儲庫和至少一個AOI缺陷檢測工站進行通訊；以及與每個所述線體服務器相互通訊的遠程AOI服務器；