[發明專利]一種大口徑透鏡邊厚差測量裝置及測量方法

在審

• 申請號: 201710617497.5
• 申請日: 2017-07-26
• 公開（公告）號: CN109307464A
• 公開（公告）日: 2019-02-05
• 發明（設計）人: 關小凡;許宏志
• 申請（專利權）人: 福州高意光學有限公司
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06
• 代理公司: 北京市煒衡律師事務所 11375
• 代理人: 許育輝

本發明涉及一種大口徑透鏡邊厚差測量裝置，包括載物定位模塊、平臺支撐模塊、線性定位模塊和測量頭模塊，平臺支撐模塊置于載物定位模塊內，線性定位模塊置于載物定位模塊兩側，測量頭模塊置于線性定位模塊上，調整平臺支撐模塊，移動線性定位模塊和測量頭模塊，以匹配不同直徑的透鏡邊沿進行測點，載物定位模塊用于安全平穩地取放透鏡，避免測量中對透鏡鏡面的接觸污染和測量摩擦造成鏡面刮傷；線性定位模塊對不同直徑的透鏡進行固定和機械定位；平臺支撐模塊保證平臺承放透鏡及轉動的穩定，有效避免測量對鏡面的接觸污染和測量摩擦造成刮傷而引起的報廢，提供精確的返修修正量與修磨方位角，籍此送給“數控銑磨機”修正加工。

技術領域

本發明涉及一種大口徑透鏡邊厚差測量裝置及測量方法。

背景技術

目前，對于小于直徑10mm的透鏡，采用透射式與反射式光學系統加自動轉角機構可以方便測量出；對于直徑10mm以上，120mm以下的透鏡用激光透過法的測量儀器，通過光路測量圖像的十字光標與絕對中心的偏離值推算透鏡面傾角；測量直徑300mm的大口徑透鏡面因為自身重量大，在轉動過程中透鏡下方的接觸面與儀器的載物環形口摩擦容易造成鍍膜膜層刮傷或鏡體損傷。另外，直徑120mm以上的透鏡裝上“載物臺”或取下的過程中都容易污染鏡面且易磕傷外沿，也容易出現抓取不當而污染鏡面；鏡片越大，磕碰、污染、刮傷的弊病越顯著。采用激光測量大口徑透鏡的結構其光路系統決定支撐架龐大，不適合放置在生產現場的測量室；對于制造廠家而言，未拋光前的半成品其表面為毛玻璃粗面狀態，無法用透過或反光光學方法進行測量，成品完成后，檢測發現異常再返修必然會增加制造成本。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種適合測量透鏡直徑為170～300mm的大口徑透鏡的邊厚差的測量裝置及測量方法，有效避免測量中對鏡面的接觸污染和測量摩擦造成的鏡面刮傷而引起的報廢。

為了解決上述技術問題，本發明的技術方案為：一種大口徑透鏡邊厚差測量裝置，其特征在于，包括：

載物定位模塊，所述的載物定位模塊包括底板、固定在底板上的外殼和置于外殼上方的環形玻璃圓臺；

平臺支撐模塊，所述的平臺支撐模塊包括升降裝置和鏡片托臺，升降裝置帶動鏡片托臺上下運動，所述的升降裝置置于載物定位模塊的外殼內，鏡片托臺伸出載物定位模塊的外殼并且置于環形玻璃臺內；

線性定位模塊，所述的線性定位模塊包括線性定位模塊支架、移動定位結構和移動測量頭調節結構，所述的定位模塊支架固定在載物定位模塊的底板上并且置于載物定位模塊的兩側，移動定位結構和移動測量頭調節結構分別置于一線性定位模塊支架上并且沿著線性定位模塊支架往返運動；

測量頭模塊，所述的測量頭模塊包括千分表測量頭和表頭定位移動支架，千分表測量頭置于表頭定位移動支架上，所述的表頭定位移動支架與線性定位模塊的移動測量頭調節結構連接，所述的線性定位模塊的移動定位結構與測量頭模塊的表頭定位移動支架形成對透鏡邊的四點定位。

進一步的，所述的平臺支撐模塊的升降裝置由下至上依次包括驅動手輪、蝸桿渦輪、齒輪齒條副、向心球軸承、推力軸承和直線軸承，所述的齒條穿過向心球軸承、推力軸承和直線軸承，轉動驅動手輪，蝸桿渦輪運動帶動齒輪齒條副運動，從而帶動鏡片托臺上下運動。

進一步的，所述的移動定位結構包括支撐部和定位部，所述的定位部包括呈U型的彈性伸縮桿和帶軸承彈性壓腳，帶軸承彈性壓腳固定在彈性伸縮桿的前端，所述的線性定位模塊支架上設有線性導軌和滑塊，所述的移動定位結構的支撐部和移動測量頭調節結構均固定在滑塊上。

進一步的，所述的表頭定位移動支架包括兩個內置有軸承的測量頭組件，所述的測量頭組件分布在千分表測量頭的兩邊。

進一步的，還包括一轉角等分定位裝置，所述的轉角等分定位裝置一端與線性定位模塊相連，一端貼近玻璃圓臺的側面。