[發(fā)明專利]一種采用積分光度法的局部放電測(cè)量裝置及測(cè)量方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710617363.3
• 申請(qǐng)日: 2017-07-26
• 公開（公告）號(hào): CN107478966B
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 高凱;徐鵬;劉君華;謝小松;錢勇;傅晨釗;田昊洋;許永鵬;薛愛惠平
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 國(guó)網(wǎng)上海市電力公司;華東電力試驗(yàn)研究院有限公司;上海交通大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/12
• 分類號(hào): G01R31/12
• 代理公司: 上海科盛知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225
• 代理人: 趙志遠(yuǎn)

1.一種采用積分光度法的局部放電測(cè)量裝置，其特征在于，該裝置包括：

積分球（1）：用于提供密閉環(huán)境并且內(nèi)置放電缺陷模型（2），其內(nèi)部表面涂有漫反射涂層，通過積分光度法將放電缺陷模型（2）產(chǎn)生不同種類的光信號(hào)進(jìn)行多次均勻的漫反射并輸出，所述的積分球（1）表面設(shè)有多個(gè)通孔，所述的積分球內(nèi)環(huán)境調(diào)節(jié)組件和參數(shù)探測(cè)組件分別通過通孔與積分球（1）連通；

電源模塊（3）：設(shè)置在積分球（1）外部且與放電缺陷模型（2）連接，用以為放電缺陷模型（2）提供不同參數(shù)的電源；

積分球內(nèi)環(huán)境調(diào)節(jié)組件：與積分球（1）連通，用以改變積分球內(nèi)的氣體環(huán)境，包括氣體種類、氣壓、溫度和濕度，所述的積分球內(nèi)環(huán)境調(diào)節(jié)組件包括氣體交換模塊（8）和氣體閥門（7），所述的氣體交換模塊（8）通過通孔與積分球（1）連通，所述的氣體閥門（7）設(shè)置在通孔處，所述的參數(shù)探測(cè)組件包括信號(hào)處理顯示模塊（10）以及分別與信號(hào)處理顯示模塊（10）連接的環(huán)境探測(cè)模塊（5）、光電探測(cè)模塊（6）和電參數(shù)探測(cè)模塊（9），所述的環(huán)境探測(cè)模塊（5）、光電探測(cè)模塊（6）和電參數(shù)探測(cè)模塊（9）分別設(shè)置在積分球（1）表面的通孔處，在所述的積分球（1）內(nèi)，放電缺陷模型（2）與光電探測(cè)模塊（6）之間設(shè)有一表面涂有漫反射涂層的光擋板（4），所述的環(huán)境探測(cè)模塊（5）包括多個(gè)探頭，用以獲取積分球（1）內(nèi)的溫度、氣壓、濕度和噪聲參數(shù)，所述的光電探測(cè)模塊（6）為一個(gè)經(jīng)過光譜修正和余弦修正的光電轉(zhuǎn)換器件，用以獲取光譜功率分布和光通量，所述的電參數(shù)探測(cè)模塊（9）獲取放電電壓和電流參數(shù)；

參數(shù)探測(cè)組件：與電源模塊（3）連接，用以獲取積分球（1）的光參數(shù)、環(huán)境參數(shù)和電參數(shù)，并且進(jìn)行處理和顯示；

應(yīng)用采用積分光度法的局部放電測(cè)量裝置的測(cè)量方法，包括以下步驟：

1）在積分球開啟的狀態(tài)下放置放電缺陷模型，合上積分球，打開氣體閥門，在信號(hào)處理顯示模塊上設(shè)置環(huán)境參數(shù)并運(yùn)行氣體交換模塊，同時(shí)通過環(huán)境探測(cè)模塊進(jìn)行監(jiān)測(cè)，直到積分球內(nèi)環(huán)境穩(wěn)定，達(dá)到設(shè)定參數(shù)；

2）關(guān)閉氣體閥門和氣體交換模塊，打開電源模塊，為放電缺陷模型供電，放電缺陷模型產(chǎn)生放電現(xiàn)象，發(fā)出光、電和噪聲參數(shù)，其中，放電產(chǎn)生的光信號(hào)通過積分球均勻多次漫反射后達(dá)光電探測(cè)模塊，光電探測(cè)模塊將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并傳輸至信號(hào)處理顯示模塊，放電產(chǎn)生的電參數(shù)由電參數(shù)探測(cè)模塊探測(cè)，并傳輸至信號(hào)處理顯示模塊，放電現(xiàn)象對(duì)于環(huán)境的影響通過環(huán)境探測(cè)模塊探測(cè)，并傳輸至信號(hào)處理顯示模塊；

3）信號(hào)處理顯示模塊收集各個(gè)探測(cè)模塊的信號(hào)，進(jìn)行相應(yīng)的處理，并且通過顯示屏顯示放電現(xiàn)象的各類參數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種采用積分光度法的局部放電測(cè)量裝置，其特征在于，所述的放電缺陷模型（2）放置于積分球（1）內(nèi)中心位置。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種采用積分光度法的局部放電測(cè)量裝置，其特征在于，所述的積分球（1）的半徑大于放電缺陷模型（2）最長(zhǎng)邊的10倍。