[發明專利]測量設備、測量方法及程序

有效

• 申請號: 201710616268.1
• 申請日: 2017-07-25
• 公開（公告）號: CN107656485B
• 公開（公告）日: 2020-09-01
• 發明（設計）人: 早野綾一郎;野原康弘;井伊谷育典;關口翔
• 申請（專利權）人: 雙葉電子工業株式會社
• 主分類號: G05B19/048
• 分類號: G05B19/048;G01D21/02
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 延美花;臧建明

1.一種測量設備，包括：

輸入部，其能夠輸入配置于射出成型裝置的傳感器的檢測信號；

評價值計算部，其利用在指定期間中輸入到所述輸入部的檢測信號值來計算評價值，其中，所述指定期間是合模期間或速度控制期間，被設為所述射出成型裝置的一個成型周期的期間內的一部分期間；以及

判定處理部，其利用所述評價值計算部計算出的評價值求出射出成型狀況的判定結果，

所述指定期間根據檢測信號值或所述檢測信號值的變化結束。

2.根據權利要求1所述的測量設備，還包括：

數據記錄處理部，其在所述射出成型裝置的一個成型周期的期間中，進行將輸入到所述輸入部的各時間點的檢測信號值存儲為記錄數據的處理，

所述數據記錄處理部進行將所述評價值計算部計算出的評價值也存儲為記錄數據的處理。

3.根據權利要求1所述的測量設備，其中，

基于從外部供給的信號判斷一個成型周期的期間中的所述指定期間的開始定時或結束定時。

4.根據權利要求1所述的測量設備，其中，

基于從一個成型周期開始的時間管理或監視檢測信息值來判斷一個成型周期的期間中的所述指定期間的開始定時或結束定時。

5.一種測量設備的測量方法，包括取得步驟、運算步驟及判定步驟，

所述取得步驟取得配置于射出成型裝置的傳感器的檢測信號，

所述運算步驟利用指定期間中的檢測信號值來計算評價值，其中，所述指定期間是根據檢測信號值或所述檢測信號值的變化結束的合模期間或速度控制期間，被設為所述射出成型裝置的一個成型周期的期間內的一部分期間，

所述判定步驟利用所述運算步驟計算出的評價值求出射出成型狀況的判定結果。

6.根據權利要求5所述的測量設備的測量方法，其中，

基于從外部供給的信號來判斷一個成型周期的期間中的所述指定期間的開始定時或結束定時。

7.根據權利要求5所述的測量設備的測量方法，其中，

基于從一個成型周期開始的時間管理或監視檢測信息值來判斷一個成型周期的期間中的所述指定期間的開始定時或結束定時。

8.一種計算機存儲媒體，其中存儲有使運算處理裝置實行取得步驟、運算步驟及判定步驟的程序，

所述取得步驟取得配置于射出成型裝置的傳感器的檢測信號，

所述運算步驟利用指定期間中的檢測信號值來計算評價值，其中，所述指定期間是根據檢測信號值或所述檢測信號值的變化結束的合模期間或速度控制期間，被設為是所述射出成型裝置的一個成型周期的期間內的一部分期間，

所述判定步驟利用所述運算步驟中計算出的評價值求出射出成型狀況的判定結果。