[發(fā)明專利]太赫茲表面等離子體共振傳感裝置及使用方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710615730.6 | 申請日: | 2017-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN107202776B | 公開(公告)日: | 2023-09-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鐘舜聰;黃異;林起本 | 申請(專利權(quán))人: | 福州大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/552 | 分類號: | G01N21/552 |
| 代理公司: | 福州元創(chuàng)專利商標代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡學(xué)俊 |
| 地址: | 350108 福建省福州市*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 赫茲 表面 等離子體 共振 傳感 裝置 使用方法 | ||
本發(fā)明涉及太赫茲表面等離子體共振傳感裝置及使用方法,包括基臺,基臺上設(shè)置有由電機驅(qū)動轉(zhuǎn)動的旋轉(zhuǎn)平臺,旋轉(zhuǎn)平臺上設(shè)置有折射率傳感耦合結(jié)構(gòu),折射率傳感耦合結(jié)構(gòu)包括依次設(shè)置的三棱鏡、MgFsubgt;2/subgt;基底層、緩沖層、摻雜石墨烯層、樣品池,利用石墨烯作為激發(fā)表面等離子體極化波的介質(zhì),樣品池設(shè)置用供樣品流入流出的出入口,流入樣品池內(nèi)的樣品直接與摻雜石墨烯層接觸,基臺上設(shè)置有太赫茲發(fā)射器、太赫茲接收器,三棱鏡一個側(cè)面與MgF2基底層相連接,太赫茲發(fā)射器、太赫茲接收器分別位于三棱鏡不與MgFsubgt;2/subgt;基底層相連接的兩個側(cè)面的旁側(cè),太赫茲接收器連接信號處理裝置,本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單、操作方便,可靠性強,大大提高了系統(tǒng)檢測的實用性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種太赫茲等離子體共振傳感領(lǐng)域的太赫茲表面等離子體共振傳感裝置及使用方法。
背景技術(shù)
表面等離子體是由導(dǎo)電媒質(zhì)和絕緣體媒質(zhì)分界面處自由電子的集體震蕩產(chǎn)生的。光子和表面等離子體之間的強耦合作用稱為表面等離子體極化,它們之間的耦合作用將導(dǎo)致表面等離子體的共振(SPR),并且對靠近導(dǎo)電媒質(zhì)和絕緣體媒質(zhì)分界面處介質(zhì)環(huán)境的變化非常敏感,因此SPR傳感技術(shù)常被運用于傳感分析,尤其在生物傳感的運用方面,其可以有效地對生物分子的反應(yīng)過程進行監(jiān)測。
石墨烯具有完美的二維晶體結(jié)構(gòu),它的晶格是由六個碳原子圍成的六邊形,厚度為一個原子層,約為0.34nm。碳原子之間由σ鍵連接,結(jié)合方式為sp2雜化,這些σ鍵賦予了石墨烯極其優(yōu)異的力學(xué)性質(zhì)和結(jié)構(gòu)剛性。石墨烯的硬度比最好的鋼鐵強100倍,甚至還要超過鉆石。在石墨烯中,每個碳原子都有一個未成鍵的p電子,這些p電子可以在晶體中自由移動,且運動速度高達光速的1/300,賦予了石墨烯良好的導(dǎo)電性。石墨烯優(yōu)越的性能,使其被廣泛地運用于SPR傳感領(lǐng)域。
太赫茲(THz)是波動頻率單位之一。THz波頻段大概在0.1-10THz之間,是一種新的、有很多獨特優(yōu)點的輻射源。由于太赫茲對大部分的包裝材料具有穿透性和非電離性,使其在無損安全檢測方面具有重要的應(yīng)用。此外,大多數(shù)大分子的固有振動和旋轉(zhuǎn)頻率位于太赫茲頻段,所以太赫茲在生物傳感領(lǐng)域的應(yīng)用具有獨天得厚的優(yōu)勢。其獨特的性能也給寬帶通信、雷達、電子對抗、電磁武器、天文學(xué)、醫(yī)學(xué)成像、無損檢測、安全檢查等領(lǐng)域帶來了深遠的影響。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對以上不足之處,提供了一種太赫茲表面等離子體共振傳感裝置及使用方法。
本發(fā)明解決技術(shù)問題所采用的方案是,一種太赫茲表面等離子體共振傳感裝置,包括基臺,所述基臺上設(shè)置有由電機驅(qū)動轉(zhuǎn)動的旋轉(zhuǎn)平臺,所述旋轉(zhuǎn)平臺上設(shè)置有折射率傳感耦合結(jié)構(gòu),所述折射率傳感耦合結(jié)構(gòu)包括依次設(shè)置的三棱鏡、MgF2基底層、緩沖層、摻雜石墨烯層、樣品池,所述樣品池設(shè)置用供樣品流入流出的出入口,流入樣品池內(nèi)的樣品直接與摻雜石墨烯層接觸,所述基臺上設(shè)置有太赫茲發(fā)射器、太赫茲接收器,三棱鏡一個側(cè)面與MgF2基底層相連接,太赫茲發(fā)射器、太赫茲接收器分別位于三棱鏡不與MgF2基底層相連接的兩個側(cè)面的旁側(cè),所述太赫茲接收器連接信號處理裝置。
進一步的,所述信號處理裝置為PC。
進一步的,所述MgF2基底層粘附在三棱鏡上。
進一步的,所述緩沖層為采用聚輕基苯乙烯的衍生物NFC在MgF2基底上進行旋涂,厚度為20?nm。
進一步的,所述摻雜石墨烯層的摻雜率為0.6?-1.64eV?。
進一步的,所述太赫茲發(fā)射器發(fā)射頻率為5THz、TM偏振的太赫茲光源。
進一步的,所述MgF2基底層由5.5?μm厚,折射率約為1.36?的MgF2材料構(gòu)成。
進一步的,所述三棱鏡為鍺棱鏡。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





