[發明專利]陣列基板測試電路

有效

• 申請號: 201710608552.4
• 申請日: 2017-07-24
• 公開（公告）號: CN107316596B
• 公開（公告）日: 2019-10-25
• 發明（設計）人: 洪光輝
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳市德力知識產權代理事務所 44265
• 代理人: 林才桂

本發明提供一種陣列基板測試電路。該電路包括：至少一個第一多路復用模塊、一使能信號輸入點、多個測控信號輸入點、多條數據線、多個使能開關元件、多個防置空開關元件、以及一反相器；每一個防置空開關元件的控制端均接入反相后的使能信號，輸入端均接入測控開關關閉信號，輸出端電性連接與其對應的一個測控信號輸入點；能夠在液晶顯示面板顯示時打開所述防置空開關元件，將所述測控開關關閉信號輸入測控信號輸入點，以保證多路復用器中的開關元件在液晶顯示面板正常顯示保持關閉狀態，避免多路復用器中的開關元件處于置空狀態，提升液晶顯示面板的工作穩定性。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種陣列基板測試電路。

背景技術

隨著顯示技術的發展，液晶顯示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面顯示裝置因具有高畫質、省電、機身薄及應用范圍廣等優點，而被廣泛的應用于手機、電視、個人數字助理、數字相機、筆記本電腦、臺式計算機等各種消費性電子產品，成為顯示裝置中的主流。

通常液晶顯示面板由彩膜基板(CF，Color Filter)、薄膜晶體管基板(TFT，ThinFilm Transistor)、夾于彩膜基板與薄膜晶體管基板之間的液晶(LC，Liquid Crystal)及密封膠框(Sealant)組成，其成型工藝一般包括：前段陣列(Array)制程(薄膜、黃光、蝕刻及剝膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板與CF基板貼合)及后段模組組裝制程(驅動IC與印刷電路板壓合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的運動；中段Cell制程主要是在TFT基板與CF基板之間添加液晶；后段模組組裝制程主要是驅動IC壓合與印刷電路板的整合，進而驅動液晶分子轉動，顯示圖像。

陣列基板測試(Array Test)電路，是用于液晶顯示面板Array制程中用來測試陣列基板側電性情況的電路，對于產品良率的提升具有很重要的作用。如圖1及圖2所示，Array Test電路通常位于面板顯示區的上部，包括：多個驅動單元，每一個驅動單元均包括：多個陣列測試點(Array Test pad)100、與所述多個陣列測試點100電性連接的多路復用電路(DEMUX)200、以及測試使能電路300，其中所述多路復用電路200包括：一個第一多路復用模塊201、以及四個第二多路復用模塊202；所述第一多路復用模塊201包括四個第一薄膜晶體管T1，所述每一個第二多路復用模塊202包括六個第二薄膜晶體管T2，所述測試使能電路300包括二十四個第三薄膜晶體管T3；所述四個第一薄膜晶體管T1的柵極分別電性連接第一、第二、第三、及第四控制信號ATC1～ATC4，所述四個第一薄膜晶體管T1的源極均接入數據信號Data，所述四個第一薄膜晶體管T1的漏極分別對應電性連接一個第二多路復用模塊202；所述六個第二薄膜晶體管T2的柵極分別電性連接第五、第六、第七、第八、第九、及第十控制信號ATC5～ATC10，所述六個第二薄膜晶體管T2的源極均電性連接其所在的第二多路復用模塊202對應的一個第一薄膜晶體管T1的漏極，所述六個第二薄膜晶體管T2的漏極電性連接測試使能電路300，所述二十四個第三薄膜晶體管T3的柵極均接入測試使能信號ATEN，所述二十四個第三薄膜晶體管T3的源極分別電性連接一個第二薄膜晶體管T2的漏極，所述二十四個第三薄膜晶體管T3的漏極分別電性連接一條數據線，如圖2所示，陣列測試時，所述第一至第十控制信號ATC1～ATC10、測試使能信號ATEN、及數據信號Data均通過對應的陣列測試點100輸入到相應到薄膜晶體管中，但是測試完成之后，在面板正常工作時，陣列測試點上不再有信號輸入，電路不工作，第一至第十控制信號ATC1～ATC10處于置空(Floating)狀態，導致所述多路復用器100中的各個薄膜晶體管也處于置空的狀態，導致面板處于一種未知的狀態，對面板的顯示造成不確定性，影響面板顯示的穩定性。

發明內容

本發明的目的在于提供一種陣列基板測試電路，能夠保證多路復用器中的開關元件在液晶顯示面板正常顯示保持關閉狀態，避免多路復用器中的開關元件處于置空狀態，提升液晶顯示面板的工作穩定性。