[發(fā)明專(zhuān)利]一種用于錯(cuò)誤檢測(cè)與校正技術(shù)的校正電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710607440.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107423153B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-01-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 金威;汪望;林初雄;何衛(wèi)鋒;高建軍 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海交通大學(xué);華東師范大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06F11/07 | 分類(lèi)號(hào): | G06F11/07;G06F1/24;H03K5/04 |
| 代理公司: | 11228 北京匯澤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 關(guān)宇辰 |
| 地址: | 200240 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 錯(cuò)誤 檢測(cè) 校正 技術(shù) 電路 | ||
1.一種用于錯(cuò)誤檢測(cè)與校正技術(shù)的校正電路,其特征在于,包括:
脈沖放寬電路模塊,所述脈沖放寬電路模塊連接到所述校正電路的錯(cuò)誤檢測(cè)電路模塊輸出第一信號(hào)的端口,當(dāng)所述第一信號(hào)指示所述校正電路產(chǎn)生時(shí)序錯(cuò)誤時(shí),所述脈沖放寬電路模塊捕獲所述第一信號(hào)并轉(zhuǎn)換輸出高脈寬的第二信號(hào);
時(shí)序控制電路模塊,所述時(shí)序控制電路模塊輸入所述校正電路的第一時(shí)鐘信號(hào)以及所述第二信號(hào),通過(guò)邏輯運(yùn)算產(chǎn)生將所述第一時(shí)鐘信號(hào)關(guān)閉一個(gè)時(shí)鐘周期的第二時(shí)鐘信號(hào),當(dāng)所述校正電路完成校正后,所述時(shí)序控制電路模塊產(chǎn)生復(fù)位信號(hào)并傳輸給所述脈沖放寬電路模塊,用于復(fù)位所述脈沖放寬電路模塊并關(guān)閉所述第二信號(hào);
所述脈沖放寬電路模塊包括第一MOS管、第二MOS管、第三MOS管、第四MOS管、第五MOS管、第一反相器和第二反相器,其中:所述第一MOS管的源級(jí)連接電源,柵極連接所述復(fù)位信號(hào),漏極連接所述第二MOS管的源極以及第三MOS管的源極;所述第二MOS管和第三MOS管的柵極連接所述錯(cuò)誤檢測(cè)電路模塊輸出的第一信號(hào),漏級(jí)連接所述第四MOS管的漏極、第五MOS管的漏級(jí)以及所述第一反相器的輸入端;所述第四MOS管的柵極連接所述時(shí)序控制電路產(chǎn)生的所述復(fù)位信號(hào),所述第五MOS管的柵極連接所述第一反相器的輸出,所述第四MOS管的源極、第五MOS管的源極接地;所述第二反相器的輸入端連接所述第一反相器的輸出端,所述第二反相器輸出所述第二信號(hào);
所述時(shí)序控制電路包括第一寄存器、第二寄存器、與非門(mén)、第三反相器和第四反相器,其中:所述第一寄存器和第二寄存器的數(shù)據(jù)輸入端連接所述脈沖放寬電路產(chǎn)生的第二信號(hào),所述第一寄存器和第二寄存器的時(shí)鐘輸入端連接所述第一時(shí)鐘信號(hào),所述第一寄存器的數(shù)據(jù)輸出端連接所述第三反相器的輸入端,所述第二寄存器的數(shù)據(jù)輸出端輸出所述復(fù)位信號(hào);所述第三反相器的輸出和所述第一時(shí)鐘信號(hào)接入所述與非門(mén)的輸入端,所述與非門(mén)的輸出端連接所述第四反相器的輸入端,所述第四反相器的輸出端輸出所述第二時(shí)鐘信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校正電路,其特征在于,所述第一寄存器沿所述第一時(shí)鐘信號(hào)的下降沿采樣,所述第二寄存器沿所述第一時(shí)鐘信號(hào)的上升沿采樣。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校正電路,其特征在于,當(dāng)電路無(wú)時(shí)序錯(cuò)誤時(shí),第一信號(hào)為高電平,第二信號(hào)為低電平;當(dāng)電路產(chǎn)生時(shí)序錯(cuò)誤時(shí),所述第一信號(hào)通過(guò)低電平指示所述時(shí)序錯(cuò)誤,所述第二信號(hào)被拉高為高電平。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的校正電路,其特征在于,當(dāng)電路完成校正后,所述時(shí)序控制電路模塊產(chǎn)生高電平的復(fù)位信號(hào),隨后所述第二信號(hào)被拉低為低電平。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校正電路,其特征在于,所述校正電路基于SMIC的65nm工藝環(huán)境設(shè)計(jì)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校正電路,其特征在于,所述校正電路的工作溫度范圍為-40℃~80℃。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校正電路,其特征在于,所述校正電路的工作電源電壓為0.3-0.6V。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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