[發明專利]一種取晶、固晶裝置及其采用它的固晶機有效
| 申請號: | 201710604147.5 | 申請日: | 2017-07-21 |
| 公開(公告)號: | CN107248500B | 公開(公告)日: | 2023-06-27 |
| 發明(設計)人: | 王敕;戴泳雄 | 申請(專利權)人: | 蘇州艾科瑞思智能裝備股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 蘇州華博知識產權代理有限公司 32232 | 代理人: | 黃珩 |
| 地址: | 215513 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 裝置 及其 采用 固晶機 | ||
本發明公開了一種取晶、固晶裝置,固晶臺沿X、Y方向運動,固晶臺上嵌設有平面治具座,平面治具座與固晶臺平齊,平面治具座連接有加熱裝置;轉臂設有焊頭,焊頭用于取晶和固晶;基板位于固晶臺上方且相對于固晶臺沿X方向作進給運動;第一驅動裝置用于驅動轉臂圓周轉動;晶圓臺用于固定晶圓,晶圓臺驅動裝置用于驅動晶圓臺沿X、Y方向運動以及驅動晶圓臺繞其旋轉軸線旋轉。本發明有益效果:設置平面治具座,基板在一定的范圍內加熱,溫度控制穩定,裝片時不易產生空洞現象;在固晶時,焊頭與基板之間的力集中于平面治具座上,大大降低了對固晶臺整體平整度的要求,提高焊頭與處于裝片位基板的平行度,確保半導體器件的貼裝平整度。
技術領域
本發明涉及固晶機領域,具體涉及一種取晶、固晶裝置及其采用它的固晶機。
背景技術
在半導體器件如IC等的封裝過程中,固晶是極其重要的環節。固晶的過程是:首先由點膠機構(也稱點膠模塊)在基板的固晶工位上點膠,而后由固晶機構的固晶擺臂將半導體芯片從晶圓上取出,進而轉移到已點好膠的固晶工位上。在相同固晶良品率(質量)條件下,固晶機的固晶效率是評價固晶機性能的重要指標。
對于背部貼設有DAF膜的芯片,封裝尺寸與芯片大小相同,在封裝時需要進行加熱,且加熱時的溫度公差在±3度,目前基板的輸送料道較長,對整條料道進行溫度控制技術難度較大,而且能耗高,溫度控制不均勻,導致芯片封裝時容易產生空洞現象。
另一方面,由于很難保證焊頭和整個基板的水平,因此很難滿足對貼裝平整度要求較高的產品。
發明內容
為了克服上述現有技術的不足,本發明提供了一種取晶、固晶裝置。
為達到上述目的,本發明解決其技術問題所采用的技術方案是:
一種取晶、固晶裝置,其特征在于,包括:
固晶臺,所述固晶臺沿X、Y方向運動,所述固晶臺上嵌設有平面治具座,所述平面治具座與所述固晶臺平齊,所述平面治具座連接有加熱裝置;
轉臂,所述轉臂設有沿平行于所述轉臂的旋轉軸線來回運動的焊頭,所述焊頭用于取晶和固晶;
基板,所述基板位于所述固晶臺上方且相對于所述固晶臺沿X方向作進給運動。
第一驅動裝置,所述第一驅動裝置與所述轉臂連接,用于驅動所述轉臂圓周轉動;
晶圓臺和晶圓臺驅動裝置,所述晶圓臺用于固定晶圓,所述晶圓臺驅動裝置用于驅動所述晶圓臺沿X、Y方向運動以及驅動所述晶圓臺繞其旋轉軸線旋轉。
采用上述技術方案的有益效果是:通過在固晶臺上設置平面治具座,平面治具座與固晶臺平齊,加熱裝置,可以實現對平面治具座的加熱,便于固晶時溫度的控制,可以使基板在一定的范圍內加熱,溫度控制較為穩定,裝片不易產生空洞現象;在固晶時,焊頭與基板之間的力集中于平面治具座上,大大降低了對固晶臺整體平整度的要求,提高了焊頭與處于裝片位基板的平行度,更易確保半導體器件的貼裝平整度,提高固晶的良品率。轉臂和視覺定位裝置固定不動,通過驅動固晶臺沿Y方向運動,可以實現對基板Y方向的封裝,通過固晶臺上的X方向基板驅動機構,可以實現對基板Y方向的封裝。通過使晶圓臺移動,帶動晶圓移動,提高取晶效率,通過驅動晶圓臺旋轉,可以實現芯片多角度的固晶作業。
進一步地,還包括第一視覺定位裝置和第二視覺定位裝置,所述第一視覺定位裝置固定于所述晶圓臺上方,所述第二視覺定位裝置固定于所述平面治具座上方。采用上述技術方案的有益效果是:第一視覺定位裝置在取晶時進行定位,第二視覺定位裝置在固晶時進行定位,定位精度高。
進一步地,所述平面治具座的四個角附近設有階梯孔,所述階梯孔內安裝有調平螺絲和彈簧,所述彈簧套設于所述調平螺絲上。
采用上述技術方案的有益效果是:通過螺絲上彈簧的彈性作用,可以快速安裝和調平平面治具座,保證焊頭與平面治具座之間的水平,易于加工和調整。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





