[發明專利]陶瓷插芯同軸度檢測時光斑圓心確定方法及裝置

有效

• 申請號: 201710601746.1
• 申請日: 2017-07-21
• 公開（公告）號: CN107462187B
• 公開（公告）日: 2020-01-21
• 發明（設計）人: 陳宗來
• 申請（專利權）人: 湖南中科光電有限公司
• 主分類號: G01B11/27
• 分類號: G01B11/27;G01B11/00;G06T7/00;G06T7/13;G06T7/60
• 代理公司: 11642 北京恒泰銘睿知識產權代理有限公司
• 代理人: 周成金

1.一種陶瓷插芯同軸度檢測時光斑圓心確定方法，其特征在于，包括下述步驟：

檢測由所述陶瓷插芯軸孔處出射光斑所在的位置，并對所述光斑進行成像形成原始光斑圖像；

檢測光斑不同位置處的光線強度，并將檢測的光斑不同位置的光線強度與預設的光強衰減區間進行比對，確定不屬于所述光強衰減區間內光線所在的位置；以及

將所述不屬于所述光強衰減區間內光線所在的位置從所述原始光斑圖像中消除形成校正光斑圖像，并求出所述校正光斑圖像的圓心。

2.根據權利要求1所述的陶瓷插芯同軸度檢測時光斑圓心確定方法，其特征在于，所述檢測由所述陶瓷插芯軸孔處出射光斑所在的位置，并對所述光斑進行成像形成原始光斑圖像，步驟包括：

獲取光斑邊緣位置的檢測信號，以所述光斑邊緣的檢測信號構成第一光斑檢測圖像；

對所述光斑所在區域進行成像，形成第一光斑拍攝圖形，并對所述第一光斑檢測圖像進行二值化處理；

將所述二值化處理后的第一光斑拍攝圖像與所述第一光斑檢測圖像進行比對，將所述第一光斑拍攝圖像中溢出所述第一光斑檢測圖像的部分進行裁剪形成原始光斑圖像。

3.根據權利要求2所述的陶瓷插芯同軸度檢測時光斑圓心確定方法，其特征在于，所述檢測光斑不同位置處的光線強度，并將檢測的光斑不同位置的光線強度與預設的光強衰減區間進行比對，確定不屬于所述光強衰減區間內光線所在的位置，步驟包括：

檢測所述光斑的邊緣位置，獲取邊緣位置的光線強度；

將所述邊緣位置的光線強度與預設的最低光強度閾值進行比對，確定邊緣位置小于所述最低光強度閾值所在的位置。

4.根據權利要求3所述的陶瓷插芯同軸度檢測時光斑圓心確定方法，其特征在于，所述將所述不屬于所述光強衰減區間內光線所在的位置從所述原始光斑圖像中消除形成校正光斑圖像，并求出所述校正光斑圖像的圓心，步驟包括：

獲取所述小于所述最低光強度閾值所在的位置的輪廓圖，并對所述輪廓圖內的像素進行反二值化處理；

將所述反二值化處理后的輪廓圖與所述原始光斑圖像進行疊加，并將所述小于所述最低光強度閾值所在的位置的輪廓圖從所述原始光斑圖像中消除形成校正光斑圖像后，求出所述校正光斑圖像的圓心。

5.根據權利要求4所述的陶瓷插芯同軸度檢測時光斑圓心確定方法，其特征在于，所述將所述反二值化處理后的輪廓圖與所述原始光斑圖像進行疊加，并將所述小于所述最低光強度閾值所在的位置的輪廓圖從所述原始光斑圖像中消除形成校正光斑圖像后，求出所述校正光斑圖像的圓心，步驟包括：

將所述反二值化處理后的輪廓圖內的像素值與所述原始光斑圖像內相同位置處的像素進行疊加，以在所述原始光斑圖像中消除所述輪廓圖所在的位置，形成校正光斑圖像；

求出所述校正光斑圖像的圓心。

6.根據權利要求5所述的陶瓷插芯同軸度檢測時光斑圓心確定方法，其特征在于，所述將所述反二值化處理后的輪廓圖內的像素值與所述原始光斑圖像內相同位置處的像素進行疊加，以在所述原始光斑圖像中消除所述輪廓圖所在的位置，形成校正光斑圖像，步驟包括：

所述將所述反二值化處理后的輪廓圖內的像素值與所述原始光斑圖像內相同位置處的像素進行疊加；

將進行像素疊加后的原始光斑圖像的像素進行二值化處理，形成所述校正光斑圖像。

7.根據權利要求1所述的陶瓷插芯同軸度檢測時光斑圓心確定方法，其特征在于，所述將所述不屬于所述光強衰減區間內光線所在的位置從所述原始光斑圖像中消除形成校正光斑圖像，并求出所述校正光斑圖像的圓心，步驟之后包括：

檢測所述校正光斑圖像的圓心是否位于所述光斑中最強光線所在的區域；

當所述校正光斑圖像的圓心不位于所述光斑中最強光線所在的區域時，重新確定所述校正光斑圖像。