[發(fā)明專利]一種測量物體凹痕的系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710600605.8
• 申請日: 2017-07-21
• 公開（公告）號: CN107289860B
• 公開（公告）日: 2018-07-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 袁東;楊建華;傅萬四;于淼;楊光;張端;許心夢
• 申請（專利權(quán)）人: 國家林業(yè)局北京林業(yè)機(jī)械研究所
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/22;G06T7/64
• 代理公司: 北京高沃律師事務(wù)所 11569
• 代理人: 王戈

本發(fā)明公開一種測量物體凹痕的系統(tǒng)及方法。該系統(tǒng)包括：封閉箱、平行光光源、光源支架、工業(yè)相機(jī)、控制器；內(nèi)部箱頂固定有工業(yè)相機(jī)；內(nèi)部側(cè)面箱壁上均勻固定有K個光源支架，在封閉箱側(cè)面箱壁上形成P層Q列，其中P×Q＝K；每一個光源支架上安裝一個平行光光源，同一高度的平行光光源的入射光與封閉箱的箱底夾角相同，不同高度的平行光光源的入射角不同；封閉箱的箱底用于放置被測物體；工業(yè)相機(jī)和K個平行光光源均與控制器連接；控制器控制平行光光源，還控制工業(yè)相機(jī)拍攝被測物體，根據(jù)拍攝的圖像確定凹痕表面幾何尺寸與深度。采用本發(fā)明的系統(tǒng)或方法，實(shí)現(xiàn)對物體凹痕的表面幾何尺寸和深度的測量，裝置簡單，成本低，便于組裝和拆卸，實(shí)用性高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及物體凹痕測量領(lǐng)域，特別是涉及一種測量物體凹痕的系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

在日常生活或者工程作業(yè)中，物體凹痕通常會影響其正常使用。例如，工程作業(yè)中木材或者鋼板的表面凹痕，會影響其質(zhì)量，改變其使用性能，嚴(yán)重時影響工程作業(yè)的質(zhì)量，降低安全性能。

目前市場上沒有專門測量物體凹痕的方法或者系統(tǒng)，通常通過工作人員目測法大概評估物體凹痕的表面幾何尺寸和深度，此測量方式主觀性較強(qiáng)，只能作為初步評估。也有一些針對某種特殊材質(zhì)的物體進(jìn)行凹痕的研究，但是大多數(shù)設(shè)備比較復(fù)雜，成本投入較高，不適用于日常生活或者工程作業(yè)中。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種測量物體凹痕的系統(tǒng)及方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中凹痕測量裝置復(fù)雜且成本高的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了如下方案：

一種測量物體凹痕的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：封閉箱、K個平行光光源、K個光源支架、工業(yè)相機(jī)、控制器；所述K為大于3的整數(shù)；

所述封閉箱為圓柱形的封閉箱體，且所述封閉箱不透光；

所述封閉箱的內(nèi)部箱頂固定有所述工業(yè)相機(jī)；

所述封閉箱的內(nèi)部側(cè)面箱壁上固定有所述K個光源支架，所述K個光源支架均勻置于所述封閉箱的內(nèi)部側(cè)面箱壁上，在所述封閉箱的側(cè)面箱壁上形成P層Q列，其中P×Q＝K，所述P層對應(yīng)所述側(cè)面箱壁的不同高度，所述Q列對應(yīng)所述側(cè)面箱壁的不同水平位置；所述K個平行光光源位于所述封閉箱的內(nèi)部，每一個光源支架上安裝一個平行光光源，同一高度的平行光光源的入射光與所述封閉箱的箱底夾角相同，不同高度的平行光光源的入射角不同；

所述封閉箱的箱底用于放置被測物體；

所述工業(yè)相機(jī)和所述K個平行光光源均與所述控制器連接；所述控制器用于控制所述K個平行光光源的打開與關(guān)閉，還用于控制所述工業(yè)相機(jī)拍攝所述被測物體，根據(jù)拍攝的圖像獲得所述被測物體的凹痕表面幾何尺寸與深度。

可選的，所述Q＝4，即在所述封閉箱內(nèi)部的側(cè)面箱壁上同一高度均勻布置4個平行光光源。

可選的，所述Q＝N，即在所述封閉箱內(nèi)部的側(cè)面箱壁上同一高度均勻布置N個平行光光源，所述N為大于2且小于K的整數(shù)。

可選的，所述系統(tǒng)還包括：

傳送帶，所述傳送帶位于所述封閉箱的內(nèi)部箱底，用于傳送被測物體；所述傳送帶的兩端對應(yīng)的所述封閉箱的側(cè)面箱壁上設(shè)置有通孔，用于放置被測物體和取走被測物體。