[發明專利]一種檢針機的校準方法在審
| 申請號: | 201710600254.0 | 申請日: | 2017-07-21 |
| 公開(公告)號: | CN107238656A | 公開(公告)日: | 2017-10-10 |
| 發明(設計)人: | 龔敏;曾宏勛;姚金平;吳百香 | 申請(專利權)人: | 深圳天溯計量檢測股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N27/72 | 分類號: | G01N27/72 |
| 代理公司: | 佛山市廣盈專利商標事務所(普通合伙)44339 | 代理人: | 楊樂兵 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢針機 校準 方法 | ||
技術領域:
本發明涉及檢針機技術領域,具體地是一種檢針機的校準方法。
背景技術:
在紡織品、鞋類、玩具、食品、制藥以及毛絨玩具等商品進入市場流通前,例如服裝在裝運或出售給客戶前或成品鞋類包裝前,為了保證使用者的安全和舒適,都需要進行異物檢測。傳統地,采用人工手摸和肉眼觀察的方式來檢測異物,但這種方式費時費力,很難保證檢查質量,而且可能對檢測人員造成傷害。為了提高檢針效率和質量,現有技術中越來越多應用檢針機進行異物檢測,檢針機能夠檢測遺留在各類紡織品中的鉤針、大頭針、別針或其他鐵磁物質以及其它危險類對象,如碎玻璃片、木片等。
隨著檢針機的應用,以及日?,F場環境條件可能對其檢測精度產生的影響,使得檢針機在檢測時可能檢測不出遺留在紡織品中的斷針而漏報,又或者對紡織品上的金屬紐扣或金屬裝飾品產生誤報;這些都會影響檢測質量和生產效率?,F有技術也公開了一些提升檢針機檢測精度的技術方案,例如專利CN201620973953.0公開了一種用于提高檢針機檢測精度的充磁裝置,該裝置包括在檢針機本體輸送單元處沿其運行方向依次設置的至少2個充磁模塊,所述至少2個充磁模塊的磁感應線均近似水平的穿過輸送單元上方且互不平行;又例如中國專利CN201620974103.2公開了一種用于提升檢針機檢測精度的檢磁裝置,其包括設于檢針機本體輸送單元處的檢磁模塊,檢磁模塊包括上檢磁單元和下檢磁單元,上檢磁單元位于輸送單元上方且檢測面朝向輸送單元,下檢磁單元位于輸送單元下方且檢測面朝向輸送單元;這些提升檢測精度的技術方案只能用在特定檢針機上,適用范圍較窄,而且結構復雜,成本較高,不具有廣泛應用的基礎。
發明內容:
本發明所要解決的技術問題是針對現有技術在提升檢針機的檢測精度時存在適用范圍較窄,而且結構復雜以及成本較高等缺點,提供一種檢針機的校準方法。
本發明解決其技術問題所采取的技術方案是:一種檢針機的校準方法,用于校準檢針機的靈敏度,所述檢針機包括探測器,所述探測器包括機體部分和在機體部分開設的探測通道,其特征在于,該校準方法包括以下步驟:
步驟1:準備待校準的檢針機,并將探測通道內探測區的高度均分為三層,每層設置三個測試點;
步驟2:選擇標準測試卡、測試卡架和標準鐵球,標準鐵球牢固粘結在標準測量卡的側面中心位置;
步驟3:將檢針機的靈敏度調節到最低檔,并擦拭干凈,然后直接傳輸粘結有標準鐵球的標準測試卡,開動檢針機,所述標準測試卡經過探測通道,檢針機能檢測到所述標準測試卡發出警報并且停機倒退;
步驟4:將粘結有標準鐵球的標準測試卡卡入測試卡架的中間部分,傳輸測試卡架和所述標準測試卡經過探測通道,檢針機能檢測到所述標準測試卡發出警報并且停機倒退;
步驟5:將粘結有標準鐵球的標準測試卡卡入測試卡架的最高點部位,傳輸測試卡架和所述標準測試卡經過探測通道,檢針機能檢測到所述標準測試卡發出警報并且停機倒退;
步驟6:記錄步驟3、步驟4和步驟5中都能發出警報并且停機倒退的標準測試卡,以能夠檢測到的最小直徑的標準鐵球標定檢針機的靈敏度,若靈敏度達不到要求,則將檢針機的靈敏度調高。
其中,所述檢針機為帶式檢針機、平板式檢針機或手持式檢針機。
其中,在步驟1中,調節環境溫度為18~28℃、相對濕度為50%~80%RH。
其中,所述標準測試卡的材料為有機玻璃。
其中,所述測試卡架的高度為10~500mm。
其中,所述標準鐵球的直徑為0.5~6.5mm。
其中,步驟2中還配置一塊不帶標準鐵的標準測試卡。
其中,步驟3中的直接傳輸所述標準測試卡經過探測通道,使所述標準測試卡經過探測通道內探測區的下層三個測試點。
其中,步驟4中的傳輸測試卡架和所述標準測試卡經過探測通道,使所述標準測試卡經過探測通道內探測區的中間層三個測試點。
其中,步驟5中的傳輸測試卡架和所述標準測試卡經過探測通道,使所述標準測試卡經過探測通道內探測區的上層三個測試點。
本發明由于采取了上述技術方案,其具有如下有益效果:
本發明所述的檢針機的校準方法,能夠精確地檢測檢針機的靈敏度并校準,適用于帶式檢針機、平板式檢針機和手持式檢針機的校準,適用范圍廣,無需專業的校準工具,校準過程簡單,降低了校準成本,減少了校準時間和精力,能夠廣泛地校準不同種類的檢針機。
附圖說明:
圖1為本發明所述的探測器的機體部分和探測通道的結構示意圖;
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