[發(fā)明專利]一種星載激光雷達探測器高精度校準系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710599256.2
• 申請日: 2017-07-21
• 公開（公告）號: CN107515389B
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發(fā)明（設計）人: 馬勛鵬;趙一鳴;潘超
• 申請（專利權）人: 北京遙測技術研究所;航天長征火箭技術有限公司
• 主分類號: G01S7/497
• 分類號: G01S7/497
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 范曉毅

1.一種星載激光雷達探測器高精度校準系統(tǒng)，其特征在于包括：校準光源(1)、毛玻璃(2)、小孔光闌(3)、準直鏡(4)、第一耦合鏡(5)、光纖(6)和若干個待校準探測器組件(7)；其中，

所述待校準探測器組件(7)包括第二耦合鏡(71)、濾光片(72)、50/50分光棱鏡(73)、衰減片組(74)、待校準探測器(75)和標準功率計(76)；

校準光源(1)產生光源經過毛玻璃(2)形成均勻光源，均勻光源經過小孔光闌(3)形成理想點光源，理想點光源經過準直鏡(4)形成準直平行光，準直平行光通過第一耦合鏡(5)耦合進入光纖(6)，再通過光纖(6)進入第二耦合鏡(71)后輸出耦合光，耦合光經過濾光片(72)形成過濾光，過濾光經過50/50分光棱鏡(73)分成光強相等的兩路光，一路光照射標準功率計(76)，標準功率計(76)實時獲取該路光的光強，另一路光經過衰減片組(74)形成衰減光，衰減光照射到待校準探測器(75)；

所述校準光源(1)包括脈沖電源(110)和LED(120)，其中，

脈沖電源(110)驅動LED(120)產生脈沖信號光；

調節(jié)脈沖電源(110)的輸出電流強度改變衰減光的強度，當衰減光無法被待校準探測器(75)有效探測的開始時刻時，標準功率計(76)測到光強為P₁，根據光強P₁和衰減片組衰減系數(shù)η得到待校準探測器(75)的靈敏度；

或所述校準光源(1)包括激光器(130)和第二分光棱鏡(140)，其中，

激光器(130)產生窄脈沖光，窄脈沖光經過第二分光棱鏡(140)形成衰減窄脈沖光；

衰減光照射到待校準探測器(75)，待校準探測器(75)根據衰減光得到渡越時間、上升時間和下降時間。

2.根據權利要求1所述的星載激光雷達探測器高精度校準系統(tǒng)，其特征在于：根據光強P₁和衰減片組衰減系數(shù)η得到待校準探測器(75)的靈敏度P的公式如下：

P＝ηP₁。

3.根據權利要求1所述的星載激光雷達探測器高精度校準系統(tǒng)，其特征在于：第二分光棱鏡(140)的分光比可為0.1/99.9～50/50。

4.根據權利要求3所述的星載激光雷達探測器高精度校準系統(tǒng)，其特征在于：激光器(130)產生的窄脈沖光為ns級寬度。

5.根據權利要求1所述的星載激光雷達探測器高精度校準系統(tǒng)，其特征在于：第一耦合鏡(5)通過光纖(6)與第二耦合鏡(71)相連接。