[發(fā)明專利]基于VTSystem的驅(qū)動(dòng)測(cè)試環(huán)境自適配系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710596597.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107238791B | 公開(公告)日: | 2019-09-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 汪大偉;陳錦程;張廉;周明英;葉洋滔 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南京富士通南大軟件技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 南京鐘山專利代理有限公司 32252 | 代理人: | 戴朝榮 |
| 地址: | 210000 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 vtsystem 驅(qū)動(dòng) 測(cè)試 環(huán)境 系統(tǒng) | ||
1.一種基于VTSystem的驅(qū)動(dòng)測(cè)試環(huán)境自適配系統(tǒng),其特征在于:包含硬件配置表和軟件可控的矩陣開關(guān);
所述硬件配置表用于記載需要連接的VTSystem信號(hào)線編號(hào)和微處理器引腳編號(hào),配置生成硬件配置表,通過(guò)UART下載到軟件可控的矩陣開關(guān)中;
所述軟件可控的矩陣開關(guān)包含大型可編程邏輯門陣列FPGA、若干VTSystem側(cè)信號(hào)輸入電路和若干微處理器TB側(cè)信號(hào)輸入電路,F(xiàn)PGA通過(guò)UART接收硬件配置文件,根據(jù)硬件配置文件在內(nèi)部為VTSystem側(cè)I/O口和微處理器TB側(cè)I/O建立虛擬通道;
VTSystem側(cè)信號(hào)輸入電路包含,VTS_Connecter信號(hào)連接模擬開關(guān)selector的輸入端,模擬開關(guān)selector的控制端連接大型可編程邏輯門陣列FPGA的VTS_Volt_Selt, 模擬開關(guān)selector的第一輸出端連接大型可編程邏輯門陣列FPGA的VTS_Output,模擬開關(guān)selector的第二輸出端連接硬件緩沖Buffer1和硬件緩沖Buffer4的一端,硬件緩沖Buffer1的另一端連接大型可編程邏輯門陣列FPGA的VTS_Output, 硬件緩沖Buffer4的另一端連接大型可編程邏輯門陣列FPGA的VTS_Intput;
微處理器TB側(cè)信號(hào)輸入電路包含,電壓比較器Comparator輸出端、硬件緩沖Buffer2一端、硬件緩沖Buffer3一端分別連接大型可編程邏輯門陣列FPGA的TB_Volt_Get、TB_Input、TB_Output,電壓比較器Comparator的第一輸出端連接4V電源,電壓比較器Comparator的第二輸出端、硬件緩沖Buffer2另一端、硬件緩沖Buffer3另一端連接TB_Connecter信號(hào)。
2.按照權(quán)利要求1所述的基于VTSystem的驅(qū)動(dòng)測(cè)試環(huán)境自適配系統(tǒng),其特征在于:所述VTS_Connecter信號(hào)輸入過(guò)程為,
1.1進(jìn)入Buffer1的信號(hào)被阻止,信號(hào)經(jīng)過(guò)Buffer4進(jìn)入FPGA的VTS_Input輸入引腳;
1.2 FPGA根據(jù)VTS_Input引腳的邊沿變化,判斷信號(hào)的傳輸方向VTSystem->微處理器TB,設(shè)置VTS_Input和TB_Output、VTS_Volt_Selt和TB_Volt_Get的信號(hào)傳輸通道開始傳輸信號(hào);
1.3 TB_Output輸出信號(hào)經(jīng)過(guò)Buffer3輸出到微處理器TB;同時(shí),輸出信號(hào)經(jīng)過(guò)Buffer2輸入FPGA的TB_Input引腳;輸出信號(hào)還會(huì)進(jìn)入電壓比較器,與閥值電壓比較,將電壓比較結(jié)果輸入到TB_Volt_Get引腳;
1.4 TB_Input引腳的輸入信號(hào)在FPGA內(nèi)的傳輸通道沒有被設(shè)置,該信號(hào)傳輸中斷;而VTS_Volt_Selt引腳會(huì)根據(jù)TB_Volt_Get的信號(hào)控制模擬開關(guān)維持默認(rèn)連接。
3.按照權(quán)利要求1所述的基于VTSystem的驅(qū)動(dòng)測(cè)試環(huán)境自適配系統(tǒng),其特征在于:所述微處理器TB側(cè)信號(hào)輸入過(guò)程為,
2.1進(jìn)入Buffer3的信號(hào)被阻止,信號(hào)經(jīng)過(guò)Buffer2進(jìn)入FPGA的TB_Input輸入引腳,同時(shí),信號(hào)進(jìn)入到電壓比較器,與閥值電壓比較,將電壓比較結(jié)果輸入到TB_Volt_Get引腳;
2.2 FPGA根據(jù)TB_Input引腳的邊沿變化,判斷出信號(hào)傳輸方向微處理器TB->VTSystem,設(shè)置TB_Input和VTS_Output、VTS_Volt_Selt和TB_Volt_Get的信號(hào)傳輸通道并開始傳輸信號(hào);
2.3 VTS_Volt_Selt引腳根據(jù)TB_Volt_Get的信號(hào)控制模擬開關(guān)的導(dǎo)通和關(guān)斷,VTS_Output會(huì)由此直接輸出3.3V的信號(hào)到VTSystem或經(jīng)過(guò)Buffer1輸出5V信號(hào)到VTSystem,另外,5V信號(hào)會(huì)經(jīng)過(guò)Buffer4輸入到VTS_Input引腳,但由于FPGA內(nèi)部沒有對(duì)相應(yīng)的傳輸通道進(jìn)行,該信號(hào)傳輸中斷。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于南京富士通南大軟件技術(shù)有限公司,未經(jīng)南京富士通南大軟件技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710596597.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 電流驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)電路,電流驅(qū)動(dòng)設(shè)備及其驅(qū)動(dòng)方法
- 驅(qū)動(dòng)電路、驅(qū)動(dòng)模塊以及電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置
- 驅(qū)動(dòng)電路、驅(qū)動(dòng)模塊和電機(jī)驅(qū)動(dòng)設(shè)備
- 驅(qū)動(dòng)單元、驅(qū)動(dòng)方法、驅(qū)動(dòng)電路及顯示面板
- 驅(qū)動(dòng)電路、驅(qū)動(dòng)芯片及其驅(qū)動(dòng)方法
- 驅(qū)動(dòng)電機(jī)(電驅(qū)動(dòng))
- 驅(qū)動(dòng)電機(jī)(節(jié)能驅(qū)動(dòng))
- 驅(qū)動(dòng)電機(jī)(設(shè)備驅(qū)動(dòng))
- 驅(qū)動(dòng)機(jī)(驅(qū)動(dòng)軸)
- 驅(qū)動(dòng)機(jī)(電驅(qū)動(dòng))
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





