[發(fā)明專利]一種電容/磁筆平板電子設(shè)備的自動(dòng)測(cè)試機(jī)器人系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710596480.6 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107607824A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-01-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 閔華松;陳睿;齊詩(shī)萌;周昊天;林云漢 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 武漢科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/01 | 分類號(hào): | G01R31/01;G01N3/32;B25J11/00 |
| 代理公司: | 上海精晟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司31253 | 代理人: | 杜蔚瓊 |
| 地址: | 430081 湖北省武漢*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電容 平板 電子設(shè)備 自動(dòng) 測(cè)試 機(jī)器人 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及模塊化機(jī)械臂的控制領(lǐng)域,特別涉及機(jī)器人自動(dòng)化檢測(cè)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
當(dāng)今經(jīng)濟(jì)全球化高速發(fā)展的時(shí)代,隨著工業(yè)自動(dòng)化技術(shù)的迅猛發(fā)展,自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)被廣泛地應(yīng)用在工業(yè)自動(dòng)化、化工、軍事、航天、通訊、醫(yī)療、電子等行業(yè),是自動(dòng)化科學(xué)技術(shù)的一個(gè)格外重要的分支科學(xué)。自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)是一種盡量減少所需人工的檢測(cè)技術(shù),是一種依賴儀器儀表,涉及物理學(xué)、電子學(xué)等多種學(xué)科的綜合性技術(shù)。與傳統(tǒng)檢測(cè)技術(shù)相比,這一技術(shù)可以減少人們對(duì)檢測(cè)結(jié)果有意或無(wú)意的干擾,減輕人員的工作壓力,從而保證了被檢測(cè)對(duì)象的可靠性,因此自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)成為社會(huì)發(fā)展不可或缺的重要部分。自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)提高產(chǎn)品性能及生產(chǎn)率、降低生產(chǎn)成本及整個(gè)生產(chǎn)周期成本起著重要作用。
傳統(tǒng)的檢測(cè)和檢驗(yàn)主要依賴人,并且主要靠手工的方式來(lái)完成。傳統(tǒng)的檢驗(yàn)和檢測(cè)是在加工制造過(guò)程之后進(jìn)行,一旦檢出廢次品,其損失已發(fā)生?;谌斯z測(cè)的信息,經(jīng)常包含人的誤差影響,按這樣的信息控制制造過(guò)程,不僅要在過(guò)程后才可以實(shí)施,而且也會(huì)引入誤差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在克服上述缺陷,提供一種可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)的系統(tǒng),該系統(tǒng)不僅節(jié)省了大量的人力成本,還具有較高的安全性能、高精度的優(yōu)點(diǎn),大大的提高了測(cè)試效率和精確度。
本發(fā)明提供了一種電容/磁筆平板電子設(shè)備的自動(dòng)測(cè)試機(jī)器人系統(tǒng),用于通過(guò)機(jī)器人等設(shè)備根據(jù)設(shè)定或指定的程序,對(duì)電容/磁筆平板電子設(shè)備進(jìn)行目標(biāo)數(shù)據(jù)和指標(biāo)檢測(cè),從而來(lái)自動(dòng)化的判定設(shè)備是否為合格品,其特征在于:包括中控單元、測(cè)試單元、感壓?jiǎn)卧?、控制單元和通訊單元?/p>
該中控單元一般為可實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互的設(shè)備,可以為(中央)計(jì)算機(jī)、云端服務(wù)器等形式出現(xiàn),主要用于數(shù)據(jù)的歸集、數(shù)據(jù)的分析處理、指令的接收和發(fā)送、檔案的存儲(chǔ)等功能。
上述中控單元、測(cè)試單元、感壓?jiǎn)卧涂刂茊卧g通過(guò)通訊單元來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)交換;該通訊單元可以為3G、4G、wifi、藍(lán)牙等無(wú)線通訊系統(tǒng)/網(wǎng)絡(luò),也可以為通過(guò)USB等數(shù)據(jù)/信號(hào)傳送的方式。
上述感壓?jiǎn)卧ǜ袎涸O(shè)備,在測(cè)試的過(guò)程中采集壓力數(shù)據(jù);該感壓設(shè)備可以為高精密度的電子稱等具有壓力感應(yīng)器的設(shè)備,該設(shè)備在測(cè)試過(guò)程中將壓力情況實(shí)時(shí)匯報(bào)給中控單元;
上述感壓設(shè)備上安裝有具有顯示屏的電子設(shè)備;該電子設(shè)備一般為平板顯示器、電子書(shū)等設(shè)備;
上述電子設(shè)備包括檢測(cè)模塊,檢測(cè)模塊內(nèi)包含有測(cè)試項(xiàng)目;該測(cè)試項(xiàng)目一般根據(jù)使用的需要進(jìn)行設(shè)定,在每個(gè)項(xiàng)目測(cè)試的過(guò)程中,都會(huì)由特定的項(xiàng)目單元進(jìn)行響應(yīng)(如:檢測(cè)設(shè)備完成某一項(xiàng)目檢測(cè)后將該項(xiàng)目的內(nèi)容和發(fā)生時(shí)間傳送給電子設(shè)備,電子設(shè)備就該項(xiàng)目?jī)?nèi)容和特點(diǎn),對(duì)該時(shí)間段內(nèi)記錄的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析),并記錄下測(cè)試過(guò)程中的情況,傳送給中控單元/電子設(shè)備本身的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄的同時(shí),還會(huì)根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目的要求和當(dāng)前測(cè)試的情況進(jìn)行比對(duì),判斷是否通過(guò)了該項(xiàng)目的測(cè)試,并將該結(jié)果也傳送給中控單元。此外,在某一項(xiàng)目的等待檢測(cè)狀態(tài)下,還可以先行同步電子設(shè)備和檢測(cè)設(shè)備,以此來(lái)使兩設(shè)備在檢測(cè)之初即已鎖定檢測(cè)的項(xiàng)目是一致的,該同步的過(guò)程由中控單元或彼此之間傳送項(xiàng)目信號(hào)/數(shù)據(jù)來(lái)實(shí)現(xiàn)。
上述測(cè)試單元包括檢測(cè)設(shè)備;該檢測(cè)設(shè)備一般為帶有機(jī)械臂的設(shè)備,在檢測(cè)的過(guò)程中,根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目的要求進(jìn)行指定動(dòng)作的運(yùn)行;該指定動(dòng)作的運(yùn)行程序由中控單元/測(cè)試單元根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行數(shù)據(jù)/動(dòng)作參數(shù)的分析和設(shè)定后傳送給控制單元,并由控制單元來(lái)控制檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行運(yùn)動(dòng);或?yàn)榭刂茊卧獌?nèi)置的程序,該程序與電子設(shè)備的待測(cè)項(xiàng)目同步且能響應(yīng),當(dāng)中控單元給出開(kāi)始測(cè)試的指令后,檢測(cè)設(shè)備和電子設(shè)備開(kāi)始同步測(cè)試項(xiàng)目后進(jìn)行各項(xiàng)目的測(cè)試過(guò)程。此外,在完成測(cè)試后,將測(cè)試過(guò)程中的數(shù)據(jù)等內(nèi)容傳送至中控單元。
上述檢測(cè)設(shè)備上安裝有電容/磁筆,檢測(cè)設(shè)備受控制單元的驅(qū)動(dòng),根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目控制電容/磁筆在電子設(shè)備上進(jìn)行各項(xiàng)目的測(cè)試;
上述中控單元收集感壓設(shè)備和檢測(cè)設(shè)備在檢測(cè)過(guò)程中采集的各項(xiàng)數(shù)據(jù),并將其傳送至電子設(shè)備上;
上述電子設(shè)備,對(duì)檢測(cè)過(guò)程中采集到的各項(xiàng)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,獲得測(cè)試結(jié)果后,將測(cè)試結(jié)果回傳中控單元。從而中控單元的前端操作人員可以隨時(shí)讀取各階段的各項(xiàng)數(shù)據(jù)。
進(jìn)一步地,本發(fā)明提供的一種電容/磁筆平板電子設(shè)備的自動(dòng)測(cè)試機(jī)器人系統(tǒng),還具有這樣的特點(diǎn):即、上述控制單元包括控制模塊;
上述控制模塊根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目,進(jìn)行測(cè)試參數(shù)和機(jī)械參數(shù)的解析和設(shè)置;
上述控制單元根據(jù)測(cè)試參數(shù)和機(jī)械參數(shù),驅(qū)動(dòng)檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行運(yùn)動(dòng)。
或
上述中控單元包括控制模塊;
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





