[發明專利]一種結晶器流場的檢測方法

有效

• 申請號: 201710596309.5
• 申請日: 2017-07-20
• 公開（公告）號: CN107442749B
• 公開（公告）日: 2019-02-22
• 發明（設計）人: 劉國梁;陳斌;馬文俊;李海波;季晨曦;崔陽;劉風剛;朱建強;馬威
• 申請（專利權）人: 首鋼集團有限公司
• 主分類號: B22D2/00
• 分類號: B22D2/00;B22D11/16
• 代理公司: 北京華沛德權律師事務所 11302
• 代理人: 馬苗苗

1.一種結晶器流場的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

將熱電偶(4)布置在所述結晶器(3)液面以下；

在所述結晶器的中部以上均勻布置2-6行及若干列熱電偶(4)，根據澆鑄鑄坯的斷面寬度確定所述熱電偶(4)布置在所述結晶器內的列數；

當在所述結晶器(3)內布置2行熱電偶時：所述2行熱電偶(4)中的第一行熱電偶布置在所述結晶器(3)彎月面下50-150mm處，所述2行熱電偶(4)中的第二行熱電偶布置在彎月面至所述結晶器(3)高度1/2的中心±100mm處；或所述2行熱電偶(4)中的第一行熱電偶布置在所述結晶器彎月面下50-150mm處，所述2行熱電偶(4)中的第二行熱電偶布置在結晶器(3)高度中心部位±100mm處；

當在所述結晶器(3)內布置3行熱電偶時：所述3行熱電偶中(4)的第一行熱電偶布置在所述結晶器彎月面下50-150mm處，所述3行熱電偶(4)中的第二行熱電偶布置在彎月面至所述結晶器(3)高度1/2中心±100mm處，所述3行熱電偶(4)中的第三行熱電偶布置在所述結晶器(6)高度中心部位±100mm處；

當在所述結晶器(3)內布置4-6行熱電偶(4)時：所述4-6行熱電偶中(4)的第一行熱電偶布置在所述結晶器彎月面下50-150mm處，所述4-6行熱電偶(4)中的最后一行熱電偶布置在所述結晶器(3)高度中心部位±100mm處，所述4-6行熱電偶(4)中的其余行熱電偶均勻布置在所述結晶器彎月面下50-150mm與所述結晶器(3)高度中心部位±100mm之間；

所述熱電偶(4)將其采集到的溫度信號發送給中央處理器；

根據所述熱電偶(4)溫度變化、熱電偶(4)橫向溫度差及熱電偶(4)縱向溫度差，確定所述結晶器(3)流場的變化發生。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：

當所述結晶器(3)為板坯結晶器時，在所述結晶器(3)的窄面銅板設置1-5列熱電偶，在所述結晶器(3)大面銅板上設置6-20列熱電偶(4)。

3.根據權利要求2所述的檢測方法，其特征在于：

當所述熱電偶(4)布置在所述結晶器(3)的窄面銅板上時，至少保證在所述窄面銅板位于所述澆鑄鑄坯厚度中心處布置一列熱電偶。

4.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：

在所述結晶器(3)布置的熱電偶(4)行與行之間的距離為80-300mm，列與列之間的距離為60-250mm。

5.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述熱電偶溫度變化、熱電偶橫向溫度差及熱電偶縱向溫度差，確定所述結晶器流場的變化發生包括：

在未進行換包、拉速保持恒定的情況下，且未進行在線調整操作的情況下，出現塞棒位置逐漸升高，所述結晶器(3)水口一側布置的相鄰2根以上熱電偶(4)出現溫度逐步下降，所述結晶器(3)水口另一側布置的2根以上熱電偶(4)溫度逐步升高，溫度變化持續時間5-25min，溫度變化3-20℃，則可以確定溫度下降側發生堵水口。

6.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述熱電偶溫度變化、熱電偶橫向溫度差及熱電偶縱向溫度差，確定所述結晶器流場的變化發生包括：

在未進行換包、拉速保持恒定的情況下，且未進行在線調整操作的情況下，出現塞棒位置逐漸升高，所述結晶器(3)兩側布置的熱電偶(4)溫度變化≤3℃，溫度變化持續時間5-25min，則可以確定發生率兩側同時發生堵水口。

7.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述根據所述熱電偶溫度變化、熱電偶橫向溫度差及熱電偶縱向溫度差，確定所述結晶器流場的變化發生包括：

在未進行換包、拉速保持恒定的情況下，且未進行在線調整操作的情況下，所述結晶器(3)兩側布置的至少2根熱電偶(4)溫度逐步變化，溫度上升或者下降3-20℃，溫度變化持續時間5-25min，則可以確定所述結晶器流場出現偏流。