[發(fā)明專(zhuān)利]顯示面板測(cè)試裝置和顯示面板測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710591713.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107389316B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-11-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱立新;戴珂;聶春揚(yáng) | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01M11/02 | 分類(lèi)號(hào): | G01M11/02 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11138 | 代理人: | 滕一斌 |
| 地址: | 100015 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 顯示 面板 測(cè)試 裝置 方法 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種顯示面板測(cè)試裝置和顯示面板測(cè)試方法,屬于顯示面板制造領(lǐng)域。裝置包括:位置確定組件和彩色分析儀。彩色分析儀包括主機(jī)和測(cè)量探頭,測(cè)量探頭用于獲取顯示面板出光面的位置點(diǎn)的光學(xué)信息,位置點(diǎn)為顯示面板出光面上測(cè)量探頭所對(duì)準(zhǔn)的點(diǎn),主機(jī)用于根據(jù)光學(xué)信息確定位置點(diǎn)的光學(xué)特征。位置確定組件用于確定位置點(diǎn)在顯示面板出光面上的位置標(biāo)識(shí),位置標(biāo)識(shí)用于指示位置點(diǎn)在顯示面板出光面上的相對(duì)位置。本發(fā)明通過(guò)位置確定組件確定待檢測(cè)點(diǎn)的位置,無(wú)需通過(guò)目測(cè)將測(cè)量探頭放置在待檢測(cè)點(diǎn),提高了確定的待檢測(cè)點(diǎn)的精度。解決了相關(guān)技術(shù)中誤差較大的問(wèn)題。達(dá)到了能夠精確確定待檢測(cè)點(diǎn)在顯示面板上的位置并分析其光學(xué)特征的效果。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示面板制造領(lǐng)域,特別涉及一種顯示面板測(cè)試裝置和顯示面板測(cè)試方法。
背景技術(shù)
目前,為了檢測(cè)顯示面板的顯示效果,通常會(huì)對(duì)同一型號(hào)的每個(gè)顯示面板上,同樣位置的待檢測(cè)點(diǎn)的光學(xué)特性進(jìn)行測(cè)試。例如,待檢測(cè)點(diǎn)為中心點(diǎn),則可以對(duì)同一型號(hào)的每個(gè)顯示面板的中心點(diǎn)的光學(xué)特征進(jìn)行測(cè)試,以檢測(cè)每個(gè)顯示面板的顯示效果。
相關(guān)技術(shù)中,首先使顯示面板顯示預(yù)先設(shè)置的棋盤(pán)格,然后測(cè)試人員在該棋盤(pán)格的輔助下確定待檢測(cè)點(diǎn)的位置,再通過(guò)目測(cè)來(lái)將彩色分析儀(Colour Analyser,CA)的測(cè)量探頭放置在顯示面板出光面的待檢測(cè)點(diǎn),并測(cè)試該待檢測(cè)點(diǎn)的光學(xué)特性。
但是,測(cè)試人員通過(guò)目測(cè)來(lái)將CA的測(cè)量探頭放置在待檢測(cè)點(diǎn)的誤差較大,通過(guò)上述方法難以精確地在顯示面板中確定待檢測(cè)點(diǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有技術(shù)的問(wèn)題,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種顯示面板測(cè)試裝置和顯示面板測(cè)試方法。所述技術(shù)方案如下:
第一方面,提供了一種顯示面板測(cè)試裝置,所述裝置包括:
位置確定組件和彩色分析儀;
所述彩色分析儀包括主機(jī)和測(cè)量探頭,所述測(cè)量探頭用于獲取所述顯示面板出光面的位置點(diǎn)的光學(xué)信息,所述位置點(diǎn)為所述顯示面板出光面上所述測(cè)量探頭所對(duì)準(zhǔn)的點(diǎn),所述主機(jī)用于根據(jù)所述光學(xué)信息確定所述位置點(diǎn)的光學(xué)特征;
所述位置確定組件用于確定所述位置點(diǎn)在所述顯示面板出光面上的位置標(biāo)識(shí),所述位置標(biāo)識(shí)用于指示所述位置點(diǎn)在所述顯示面板出光面上的相對(duì)位置。
可選的,所述測(cè)量探頭包括測(cè)量桿和探頭,所述探頭設(shè)置在所述測(cè)量桿的一端,所述位置確定組件包括處理組件和角度測(cè)量器,所述顯示面板出光面呈具有至少三個(gè)頂點(diǎn)的形狀;
所述角度測(cè)量器設(shè)置在所述測(cè)量桿的標(biāo)定點(diǎn),所述標(biāo)定點(diǎn)和所述位置點(diǎn)所確定的直線(xiàn)與所述顯示面板出光面垂直;
所述角度測(cè)量器用于測(cè)量第一線(xiàn)段與第二線(xiàn)段所成的第一夾角,所述第一線(xiàn)段為所述標(biāo)定點(diǎn)與所述顯示面板出光面的第一頂點(diǎn)連成的線(xiàn)段,所述第二線(xiàn)段為所述標(biāo)定點(diǎn)與所述位置點(diǎn)連成的線(xiàn)段,所述角度測(cè)量器還用于測(cè)量第三線(xiàn)段與所述第二線(xiàn)段所成的第二夾角,所述第三線(xiàn)段為所述標(biāo)定點(diǎn)與所述顯示面板出光面的第二頂點(diǎn)連成的線(xiàn)段,所述第一頂點(diǎn)和所述第二頂點(diǎn)為所述顯示面板出光面任意兩個(gè)相鄰的頂點(diǎn);
所述處理組件用于根據(jù)所述第一夾角以及所述第二線(xiàn)段的長(zhǎng)度確定所述位置點(diǎn)與所述第一頂點(diǎn)之間的第一距離,根據(jù)所述第二夾角以及所述第二線(xiàn)段的長(zhǎng)度確定所述位置點(diǎn)與所述第二頂點(diǎn)之間的第二距離,所述第一距離和所述第二距離組成所述位置標(biāo)識(shí)。
可選的,所述測(cè)量探頭包括測(cè)量桿和探頭,所述探頭設(shè)置在所述測(cè)量桿的一端,所述位置確定組件包括處理組件和距離測(cè)量器,所述顯示面板出光面呈具有至少三個(gè)頂點(diǎn)的形狀;
所述距離測(cè)量器設(shè)置在所述測(cè)量桿的標(biāo)定點(diǎn),所述標(biāo)定點(diǎn)與所述位置點(diǎn)所確定的直線(xiàn)與所述顯示面板出光面垂直;
所述距離測(cè)量器用于測(cè)量所述標(biāo)定點(diǎn)與所述顯示面板出光面的兩個(gè)相鄰的頂點(diǎn)之間的待測(cè)距離;
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G01M11-02 .光學(xué)性質(zhì)的測(cè)試
G01M11-08 .機(jī)械性能的測(cè)試
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