[發明專利]軸承中心誤差的測量方法

有效

• 申請號: 201710591106.7
• 申請日: 2017-07-19
• 公開（公告）號: CN107655689B
• 公開（公告）日: 2020-06-16
• 發明（設計）人: 李南洙;魯明圭;金昭閏;張星民;鄭璡熺;白成基;南成圭
• 申請（專利權）人: LG電子株式會社;忠南大學校產學協力團
• 主分類號: G01M13/04
• 分類號: G01M13/04;G01B21/24
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 李英艷;崔炳哲

1.一種軸承中心誤差的測量方法，其特征在于，包括：

將旋轉軸的兩側配置于磁軸承和備用軸承的內周面的步驟；

向所述磁軸承施加電流，使所述旋轉軸產生動作的步驟；

隨著所述旋轉軸的動作，確定所述旋轉軸和所述備用軸承相接觸的接觸點的步驟；

利用所述相接觸的接觸點和所述磁軸承的對應于磁中心的預測坐標值的預設的位置信息，來確定用于確定所述磁軸承的磁中心的最終目標值的步驟；

通過所述最終目標值確定所述磁軸承的磁中心的步驟；

將所述磁軸承的磁中心與所述備用軸承的機械中心進行比較，確定中心誤差的步驟；以及

以確定的所述中心誤差為基準，使所述磁軸承的磁中心和所述備用軸承的機械中心一致的步驟。

2.根據權利要求1所述的軸承中心誤差的測量方法，其特征在于，

在使所述旋轉軸產生動作的步驟中，

分別向所述磁軸承的多個位置施加電流，使所述旋轉軸分別產生多次動作。

3.根據權利要求2所述的軸承中心誤差的測量方法，其特征在于，

在確定所述接觸點的步驟中，

隨著所述旋轉軸的多次動作，形成多個所述接觸點。

4.根據權利要求3所述的軸承中心誤差的測量方法，其特征在于，

在確定所述最終目標值的步驟中，

確定分別基于多個接觸點的多個目標值，

將所確定的所述多個目標值相加的值確定為最終目標值。

5.根據權利要求1所述的軸承中心誤差的測量方法，其特征在于，

在確定所述最終目標值的步驟中，

所述預設的位置信息包括多個位置信息。

6.根據權利要求5所述的中心誤差的測量方法，其特征在于，

確定所述最終目標值的步驟包括分別對所述多個位置信息確定多個目標值的步驟。

7.根據權利要求6所述的中心誤差的測量方法，其特征在于，

確定所述最終目標值的步驟還包括將所述多個目標值中的具有最小值的目標值確定為所述最終目標值的步驟。

8.根據權利要求1所述的中心誤差的測量方法，其特征在于，

在確定所述中心誤差的步驟中，

將所述磁軸承的磁中心的測量坐標值與所述機械中心的測量坐標值進行比較。