[發明專利]一種基于Au@AgNCs檢測硫離子的方法

在審

• 申請號: 201710589717.8
• 申請日: 2017-07-19
• 公開（公告）號: CN107607515A
• 公開（公告）日: 2018-01-19
• 發明（設計）人: 張磊;張軍霞;張穎;汪聯輝;范曲立;沈晶晶;黃維
• 申請（專利權）人: 南京郵電大學
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司32200
• 代理人: 樓高潮

1.一種基于Au@AgNCs檢測硫離子的方法，包括以下步驟：

步驟1)制備Au@AgNCs溶液作為標準溶液，該標準溶液中還包含1μmol～10mmol的CTAB或CTAC作為穩定劑；

步驟2)向干凈的離心管中加入超純水，然后加入步驟1所述的標準溶液進行稀釋5-50倍，再將洗凈的厚度為0.1～2mm的玻璃片，浸入上述稀釋的溶液中，利用靜電吸附作用將AgNCs固定在玻璃片表面，浸泡5～60s后取出，用超純水沖洗去除未吸附上的顆粒，最后用氮氣吹干玻璃片，制備成固定了Au@AgNCs的玻璃片作為等離子散射測試芯片，玻璃片上附著的納米顆粒即為納米探針；

步驟3)將步驟2所述的等離子散射測試芯片，置于暗場顯微鏡的載物臺上，在玻璃片表面的中心位置加入50～500μL的超純水，形成一個圓形的水珠，通過移動操作平臺使水珠位于光路的正中心，在暗場顯微鏡下采集顆粒的彩色圖片，再在微區散射光譜儀下采集單個納米顆粒的散射光譜；

步驟4)向步驟3形成的水珠中加入待測硫離子溶液，可以觀測到單個納米探針的散射光譜峰位移變化量，計算硫離子濃度與散射光譜移動的標準曲線，通過與標準曲線的對比計算即可得知待測溶液中硫離子的濃度。

2.根據權利要求1所述的一種基于Au@AgNCs檢測硫離子的方法，其特征在于，所述Au@AgNCs的尺寸為40～100nm。

3.根據權利要求1所述的一種基于Au@AgNCs檢測硫離子的方法，其特征在于，所述玻璃片為透光玻璃，包括普通玻璃、ITO玻璃、FTO玻璃、石英玻璃和云母片。

4.根據權利要求1所述的一種基于Au@AgNCs檢測硫離子的方法，其特征在于，所述待測硫離子溶液中包括H₂S、HS^-和S^2-。

5.根據權利要求1所述的一種基于Au@AgNCs檢測硫離子的方法，其特征在于，所述待測硫離子溶液中的硫離子濃度在0.1nM-1μM的范圍內時，檢測效果最佳，針對硫離子的最低檢測限為0.04nM。